Методы и средства измерений электрических параметров процесса формирования покрытий при импульсном энергетическом воздействии в растворах тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.01, доктор технических наук Бориков, Валерий Николаевич

  • Бориков, Валерий Николаевич
  • доктор технических наукдоктор технических наук
  • 2011, Томск
  • Специальность ВАК РФ05.11.01
  • Количество страниц 301
Бориков, Валерий Николаевич. Методы и средства измерений электрических параметров процесса формирования покрытий при импульсном энергетическом воздействии в растворах: дис. доктор технических наук: 05.11.01 - Приборы и методы измерения по видам измерений. Томск. 2011. 301 с.

Оглавление диссертации доктор технических наук Бориков, Валерий Николаевич

Введение.

Глава 1. Микроплазменные процессы формирования покрытий.

1.1. Классификация энергетических процессов в растворах.

1.2. Методы исследования микроплазменных процессов нанесения покрытий в растворах.

1.2.1. Метод «формовочных» кривых.

1.2.2. Метод статических вольтамперных характеристик.

1.2.3. Метод динамических вольтамперных характеристик.

1.2.4. Метод нагрузочных характеристик источника энергетического воздействия.

1.3. Наноразмерная локализация энергии высокой плотности на границе фаз.

1.4. Приборы и методы исследования сильнотоковых процессов в растворах электролитов.

1.5. Сравнительный анализ методов исследования микроплазменных процессов нанесения покрытий в растворах.

Выводы.

Глава 2. Математическое моделирование процесса формирования покрытий при импульсном энергетическом воздействии.

2.1. Моделирование начальных стадий формирования покрытия при высоковольтном сильноточном импульсном воздействии.

2.2. Разработка модели микроплазменной системы в терминах электрических величин.

2.3. Модель микроплазменной системы.

2.4. Проверка адекватности модели.

2.5. Управление качеством микроплазменного покрытия.

2.6. Задача определения рациональной частоты дискретизации и числа уровней квантования измеряемых электрических сигналов.

2.7. Метод измерения параметров модели.

Выводы.

Глава 3 Разработка и исследование преобразователей для измерения импульсных токов.

3.1 Параметры сигнала тока микроплазменной системы.

3.2. Сравнительный анализ датчиков тока.

3.3. Резистивные преобразователи тока.

3.3.1. Разработка конструкции резистивного преобразователя ток-напряжение.

3.4. Расчет параметров и моделирование магнитного поля коаксиального шунта.

3.4.1.Расчет механических и электрических параметров коаксиальных шунтов.

3.4.2. Программа для расчета параметров коаксиальных шунтов.

3.4.3. Расчет паразитной индуктивности методом конечных элементов.

3.5. Исследование динамических характеристик коаксиальных шунтов.

3.5.1. Экспериментальные исследования динамических характеристик коаксиального шунта.

3.6. Поверка шунтов на основе метода обратного преобразования.

3.7. Система измерения больших токов (СИБТ).

Выводы.

Глава 4 Разработка и исследование средств измерений высокого напряжения.

4.1. Параметры сигнала напряжения микроплазменного процесса.

4.2. Ограничения при измерении импульсных напряжений с помощью осциллографов.

4.3. Усилители-ограничители.

4.4. Компьютерная система измерений.

4.5. Метрологические характеристики компонентов системы для измерения напряжения.

Выводы.

Глава 5 Принципы проектирования измерительных систем для контроля и управления процессом формирования покрытий.

5.1. Концепция системы контроля и управления технологическим процессом формирования микроплазменных покрытий.

5.2. Структура информационной измерительной системы.

5.3. База данных системы.

5.4. Модульный подход к программированию.

5.5. Измерительная информационная система.

5.6. Автоматизированный способ идентификации металлов и сплавов.

5.7. Модульная система для измерения удельной электрической проводимости раствора для микроплазменного оксидирования.

5.8. Источники энергетического воздействия.

5.8.1. Структурная схема мощного источника питания.

5.8.2. Маломощный источник энергетического воздействия.

5.9. Формирователи формы сигнала энергетического воздействия.

5.10. Микропроцессорный интегрирующий измерительный преобразователь.

Выводы.

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Приборы и методы измерения по видам измерений», 05.11.01 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Методы и средства измерений электрических параметров процесса формирования покрытий при импульсном энергетическом воздействии в растворах»

Практически во всех отраслях, деятельность которых связана с производством приборов, машин, механизмов, металлоконструкций, важнейшим видом обработки является формирование покрытий на поверхности изготавливаемых деталей. Наряду с традиционными технологиями поверхностной обработки деталей в растворах все большее применение находят технологии с использованием энергетического импульсного воздействия, в которых формируются нано-структурные неметаллические неорганические покрытия, что позволяет относить их к числу перспективных технологий получения и обработки конструкционных и функциональных наноматериалов.

Большой вклад в развитие научных исследований в этой области внесли Г.А. Марков, Л.А. Снежко и В.И. Черненко, П.С. Гордиенко, И.В. Суминов и A.B. Эпельфельд, JI.T. Бугаенко, В.Н. Малышев, A.B. Тимошенко, П. Курц (P.Kurze) и Г. Маркс (G. Marx), Д. Албелла (J. Albella) и И. Монтеро (I. Montero), A.JI. Ерохин (A.L. Yerokhin) и др. В работах А.И. Мамаева впервые заявлено о применении импульсного энергетического воздействия в растворах, как наиболее эффективного способа формирования покрытий заданной толщины, пористости и состава на вентильных металлах и их сплавах.

Дальнейшее совершенствование, как самих этих технологий, так и необходимого для их внедрения высокопроизводительного оборудования, невозможно без создания соответствующих средств измерений и контроля параметров качества получаемого покрытия и процесса его нанесения.

Характерной особенностью процессов импульсного энергетического воздействия является большой динамический диапазон изменения электрических параметров процесса формирования покрытий: напряжений - от 100 до 1000 В и токов через границу раздела - от 10 до 10000 А при длительности импульса от 50 до 500 мкс. При малых длительностях энергетического воздействия форма импульса оказывает значительное влияние на качество покрытия, такие как толщина и пористость. Поэтому важно с достаточной для практики точностью измерять электрические параметры процесса с целью анализа формы энергетического воздействия и целенаправленного управления технологическим процессом и, следовательно, качеством покрытия определенного функционального назначения.

Знание формы сигнала воздействия и его отклика на это воздействие позволяет, используя современные информационные технологии, эффективно решать вопросы идентификации состояния системы, и, в конечном счете, определения косвенными методами качества сформированного покрытия.

Таким образом, диссертационная работа посвящена решению актуальной задачи, заключающейся в разработке методов и средств измерений электрических параметров процессов при импульсном энергетическом воздействии в растворах электролита, позволяющих производить оценку качества получаемых покрытий в процессе обработки.

Актуальность работы подтверждена включением данной тематики в аналитическую ведомственную целевую программу (АВЦП) Рособразования и Федеральную целевую программу (ФЦП) Министерства образования и науки, а также в ведомственные программы Роснано и Роскосмос.

Цель диссертационной работы заключается в создании методов и средств анализа формы тока и напряжения микроплазменного процесса при импульсном энергетическом воздействий в растворах, обеспечивающих контроль качества покрытий металлических изделий на стадии их формирования.

Основными задачами диссертационной работы в связи с поставленной целью являются:

1. Анализ существующих методов энергетического воздействия для нанесения покрытий в растворах, выявление электрических параметров процессов и диапазонов их изменений для адекватной оценки формируемого покрытия и получения информации о состоянии процесса микроплазменного оксидирования с целью управления качеством формируемого покрытия требуемого функционального назначения. ' if i i < 8

2. Разработка математической модели начальных стадий микроплазменного процесса в терминах электрических величин и доказательство ее адекватности.

3. Разработка методов измерения электрических параметров математической модели начальных стадий микроплазменного процесса и оценивание их точности.

4. Разработка новых технических решений для средств измерений электрических параметров процесса микроплазменного оксидирования в импульсном режиме.

5. Разработка принципов построения и создание системы автоматизированного сбора, анализа и представления данных о микроплазменном процессе.

Методы исследований. Теоретическая часть работы выполнена на основе методов теории электрических цепей и идентификации систем, теории погрешностей, математической статистики, системного анализа, математического моделирования, дифференциального и интегрального исчисления с использованием уравнений Фика и преобразований Лапласа. При расчетах и моделировании использовались программные пакеты MATLAB, Mathcad, ANSYS, Lab VIEW. Экспериментальные исследования проводились в производственных и лабораторных условиях.

Научная новизна.

1. Разработана и исследована математическая модель начальных стадий микроплазменного процесса, учитывающая связь между протекающим через раствор током и напряжением поляризации, и обеспечивающая возможность контролировать качество формирования покрытия путем измерения параметров электрической цепи микроплазменной системы.

2. Предложен метод определения параметров математической модели (сопротивления и емкости границы раздела, сопротивления раствора, индуктивности токоведущих проводов) микроплазменного процесса, основанный на анализе формы энергетического воздействия и отклика на него (защищен патентом РФ №2284517).

3. Разработан метод идентификации материала подвергаемого оксидированию изделия, позволяющий на основе информации об электрических параметрах микроплазменного процесса адаптировать его к свойствам этого материала (защищен патентом РФ № 2281487).

4. Разработана конечно-элементная модель, конструкция и метод оценки метрологических характеристик коаксиального шунта с улучшенными динамическими характеристиками, предназначенного для измерения мгновенных значений тока микроплазменного процесса (решения защищены патентом РФ № 80585).

5. Предложены структура, принципы построения и практическая реализация измерительной информационной системы, позволяющей в реальном времени измерять характеризующие микроплазменный процесс ток и напряжение в широком динамическом диапазоне с адаптивным высоким разрешением.

6. Предложены технические решения по построению источников импульсных энергетических воздействий с программируемой формой фронта импульса, получившие широкое промышленное внедрение (патент РФ № 2330353, сертификат об утверждении типа средства измерения РФ № 28856-05).

Практическая значимость результатов исследований. Результаты проведенных исследований позволяют создавать измерительное оборудование позволяющее изучать кинетику и механизм процессов формирования покрытия в зависимости от режимов локализации энергии высокой плотности, природы и состава фаз. Результаты идентификации микроплазменных процессов в растворах по вольтамперным характеристикам отражены в отчете АВЦП по гранту 2.1.2.5273 и в отчете по научно-исследовательской работе на тему «Исследование возможности разработки высоковольтного высокочастотного измерителя формы сигнала» выполненного по х/д № 1-82/02 для ООО «Техника и технологии электрохимии».

Полученные в работе результаты полезны разработчикам систем контроля и измерения формы токов и напряжения сложной формы в силовых установках различного назначения, например в электроэнергетике, в сварочной технике, в электрохимических технологиях и т.д., в получении интегральных характеристик объекта исследования и принятии эффективных решений управления технологическими процессами.

Результаты работы могут также способствовать созданию и совершенствованию методов и средств метрологического обеспечения систем измерений больших импульсных токов и напряжений и могут использоваться при разработке методик выполнения измерений в испытательных лабораториях силового оборудования, а также в процедурах аккредитации и подтверждения компетенции этих лабораторий.

Реализация результатов работы.

Результаты исследований по теме диссертации использованы при выполнении под руководством и при непосредственном участии автора следующих хоздоговорных и госбюджетных НИР:

• Разработка компьютерной системы измерения параметров фронта высоковольтных импульсов по заказу ООО "Техника и технология электрохимии", г. Томск, 2002 г., х/д № 1-82/02.

• Разработка установки «Корунд» по нанесению кальцийфосфатных покрытий, содержащих гидроксиапатит, на титановые имплантаты методом микродугового оксидирования по заказу Института физики прочности и материаловедения СО РАН, г. Томск, 2004 г., контракт 01КЕШЗ/1Ш с университетом Даеджин (Южная Корея).

• Разработка компьютерной системы измерения больших токов по заказу ОАО "Новосибирский завод химконцентратов", г. Новосибирск, 2004-2005 гг., х/д № 1-27/04у.

• Разработка измерительного интегрирующего преобразователя «Квант-2» по заказу Сибирского государственного научно-исследовательского института метрологии, г. Новосибирск, 2006 г.

• Разработка линии нанесения функциональных и декоративных керамических покрытий в рамках программы британо-российского партнерства "Атомные города" по заказу ООО «Русский профиль», г. Красноярск, 2005-2006 гг., х/д № 52.

• Разработка компьютерной системы измерения и управления для малогабаритного бетатрона на энергию до 4 МЭВ по заказу научно-исследовательского института интроскопии, г. Томск, 2005, х/д № 1-166/05у.

•Грант 2.1.2.5273 «Параметрическая идентификация микроплазменных процессов в растворах по вольтамперным характеристикам», АВЦП Рособразо-вания "Развитие научного потенциала высшей школы", 2006-2007 гг.

• Разработка и создание программируемого генератора напряжения по заказу НИИ автоматики и электромеханики, г. Томск, 2007 г., х/д 1-10/07.

• Разработка источника питания для нанесения покрытий методом микроплазменного оксидирования «СО!ШЖ) М1» по заказу ООО «Сибспарк», г. Томск, 2009 г.

• Разработка линии по нанесению наноструктурных неметаллических неорганических покрытий «АШпе-4» в рамках программы ОАО «РОСНАНО» по направлению «Машиностроение и металлообработка» по заказу ООО «МАНЭЛ», 2010-2011 гг., х/д № У03/01-10 и № У06/03-11.

• Изготовление и поставка автоматизированного измерительного комплекса по заказу ВНИИ физико-технических и радиотехнических измерений, п. Менделеево, Московская область, 2010 г., х/д 1-76/10у.

• Грант ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России» на проведение исследований по теме «Прецизионные резистивные и индуктивные преобразователи с улучшенными динамическими характеристиками», 2010-2012 гг., госконтракт 1.387С.2010.

• Грант по постановлению Правительства РФ № 218 на тему «Разработка унифицированного ряда электронных модулей на основе технологии "система-на-кристалле" для систем управления и электропитания космических аппаратов (КА) связи, навигации и дистанционного зондирования Земли с длительным сроком активного существования», направление 3.2 - разработка технологии формирования слоистых наноструктурных неметаллических неорганических покрытий и материалов, пригодных для изготовления функциональных изделий по договору от 7 сентября 2010 г. № 13.G25.31.0017 между ОАО "ИСС" и Ми-нобрнауки России.

Поддержка работ Российским фондом фундаментальных исследований в 2006 г. (РФФИ № 06-08-07073-3).

Основные положения, выносимые на защиту.

1. Математическая модель начальных стадий микроплазменного процесса, полученная на основе линейных цепей, позволяет описывать изменение тока в растворе от поляризационного напряжения на начальных стадиях формирования барьерного слоя, причем параметры модели характеризуют качество покрытия.

2. Метод определения электрических параметров микроплазменного процесса, основанный на анализе формы, как энергетического воздействия, так и отклика на него, позволяет определить параметры эквивалентной схемы электрической цепи микроплазменной системы.

3. Новый метод идентификации материалов, основанный на анализе электрических параметров микроплазменного процесса, обеспечивает возможность его адаптации к свойствам материала.

4. Обоснованная теоретически и экспериментально конструкция коаксиальных шунтов для измерения мгновенных значений тока быстропротекающих микроплазменных процессов с высокими метрологическими характеристиками (погрешность 0,5 % в диапазоне от 100 А до 20 кА при скорости нарастания тока до 107 А/с).

5. Измерительная информационная система, структура и ее принципы построения позволяют в реальном времени измерять характеризующие микроплазменный процесс ток и напряжение в широком динамическом диапазоне с адаптивным высоким разрешением (до 50 мВ в диапазоне от 0 до 3 кВ при скоо рости изменения напряжения до 10 В/с).

6. Предложенные технические решения для создания источников импульсных энергетических воздействий напряжением от 100 В до 1000 В с длительностью фронта не менее 10 мкс и регулируемой формой импульса позволяют формировать покрытия с заданными свойствами и оценивать их качество.

Апробация работы. Основные положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на отечественных и международных конференциях: Региональной научно-практической конференции "Радиотехнические и информационные системы и устройства" (Томск, 1994); Ш-й Международной конференции "Измерения, контроль, автоматизация производственных процессов" (Барнаул, 1994); Всероссийской научно-практической конференции с международным участием "Проблемы сертификации и управления качеством" (Красноярск, 1997); Международной научно-практической конференции "Качество-стратегия 21 века" (Томск, 1998, 1999, 2005); 4-ом Корейско-Российском международном симпозиуме по науке и технике "КОРУС 2000" (Томск, 2000); 2-й и 3-й Международных научно-технических конференциях "Измерение, контроль, автоматизация" (Барнаул, 2001, 2002); 7-й и 9-й Международных конференциях по модификации материалов пучками частиц и плазменными потоками (Томск, 2004, 2008); IX Международной конференции "Физико-химические процессы в неорганических материалах" (Кемерово, 2004); Международном научно-практическом семинаре "Повышение надежности сварных соединений при монтаже и ремонте технологического оборудования в энергетике" (Киев, Украина, 2005); на 51-ом и 52-ом Международных научных коллоквиумах (1\*/К) "Информационные технологии и электротехника - устройства и системы, материалы и технологии для будущего" (Ильменау, Германия, 2006, 2007); ХУШ-ом Всемирном Конгрессе 1МЕКО "Метрология для устойчивого развития" (Риоде-Жанейро, Бразилия, 2006); Международных сибирских конференциях IEEE (SIBCON) по управлению и связи (Томск, Россия, 2007, 2009); 9-ом Международном симпозиуме ИМЕКО ТК 14 (ISMQC) "Измерения и контроль качества" (Мадрас, Индия, 2007); 16-ом Международном симпозиуме IMEKO ТК 4 "Перспективы развития приборов и методов для электрических и электронных измерений" (Флоренция, Италия, 2008); 17-м симпозиуме IMEKO ТК4 "Измерительные приборы эры информационных и коммуникационных технологий" (Кошице, Словакия, 2010).

Разработанный с участием автора информационно-измерительный комплекс для технологических линий нанесения наноструктурных покрытий в номинации «Новые высокотехнологичные разработки оборудования и наукоемкие технологии» удостоен диплома I степени с вручением Золотой медали на XVII международной выставке-конгрессе "Высокие технологии. Инновации. Инвестиции" (Hi-Tech'2011), проходившей с 15 по 17 марта 2011 г. в г. Санкт-Петербурге.

Публикации. По теме диссертации опубликовано 45 печатных работ, из них: 1 монография, 4 патента Российской Федерации и 22 статьи в журналах, рекомендуемых ВАК для опубликования научных результатов диссертаций на соискание ученой степени доктора наук.

Структура и объем работы. Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, заключения, списка литературы из 214 наименований и приложения. Общий объем работы - 302 страницы, включая 109 рисунков и 18 таблиц.

Похожие диссертационные работы по специальности «Приборы и методы измерения по видам измерений», 05.11.01 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы измерения по видам измерений», Бориков, Валерий Николаевич

251 Выводы

1. Для автоматизированной системы контроля и управления процессом формирования покрытий методом микроплазменного оксидирования с разделением функций систем сбора, анализа и накопления данных на отдельных серверах целесообразно выделить четыре подсистемы контроля электрических параметров: процесса, источника энергетического воздействия, раствора электролита, вспомогательного оборудования.

2. Решение задачи контроля и управления микроплазменным процессом необходимо решать на основе многоуровневой архитектуры клиент-сервер с использованием модульного подхода и технологии виртуальных приборов.

3. Разработанная измерительная система позволяет решить важнейшую проблему - определение закономерностей изменения электрических параметров процесса от характеристик качества получаемых покрытий.

4. Для сложных зависимостей электрических параметров от свойств покрытия рекомендуется использовать математический аппарат нейросетей.

5. Технологии формирования покрытий методом микроплазменного оксидирования неразрывно связаны с элементом микроплазменной системы - источником энергетического воздействия. Совместная разработка ИЭВ и средств измерений дает синергетический эффект в управлении качеством формирования покрытия.

6. Программно-управляемые средства измерений — формирователи источников энергетического воздействия, синхронные усилители, щитовые приборы измерения напряжения и тока с соответствующим программным обеспечением позволяют автоматизировать информационные процессы при проведении научных исследований, контроля и управления микроплазменными процессами.

252

Заключение

1. Предложена математическая модель изменений напряжения и тока на границе раздела металл-раствор на начальных стадиях формирования барьерного слоя для импульсного энергетического воздействия учитывающая выходной импеданс источника энергетического воздействия и отражающая качество получаемого покрытия (толщина и пористость) в терминах электрических величин эквивалентной схемы микроплазменной системы. Проведена экспериментальная проверка адекватности предложенной модели для начальных стадий формирования барьерного слоя при энергетическом импульсном воздействии.

2. Разработан новый метод определения активной и емкостной составляющих тока микроплазменной системы, отражающих качество покрытия, возможность реализации которого основана на трапециевидной форме импульса энергетического воздействия и построении восходящей и нисходящей ветвей вольт-амперной зависимости тока от поляризационного напряжения.

3.Разработан метод обработки мгновенных значений напряжения и тока микроплазменной системы с помощью искусственных нейросетей, позволяющий идентифицировать обрабатываемые металлы и сплавы с целью адаптации процесса нанесения покрытия к свойствам материала.

4. Обоснована целесообразность использования в процессе микроплазменного оксидирования в импульсном режиме в качестве первичных преобразователей ток-напряжение коаксиальных резистивных шунтов; проведено моделирование магнитного поля шунта, позволившее автоматизировать инженерные вычисления его параметров. Разработанный шунт используется в составе измерительной системы, введенной в Госреестр средств измерений РФ. Разработан метод поверки (калибровки) шунтов, позволяющий производить их поверку методом вольтметра-амперметра с коррекцией погрешностей измерительных каналов по току и напряжению на основе обратного преобразования.

5. Предложен подход к проектированию измерительных информационных систем для исследования, контроля и управления процессом формирования микроплазменных покрытий, базирующийся на модульном подходе и технологии виртуальных приборов. Предложена структура компьютерной системы измерения для исследования высоковольтных напряжений процессов при энергетическом импульсном воздействии на границу металл-раствор с адаптивным высоким разрешением. Разработано программное и аппаратное обеспечение ИИС, позволяющее автоматизировать процесс нанесения покрытий.

6. Разработана методика выбора структуры и параметров источников энергетического воздействия для конкретного вида микроплазменной обработки изделий. Изготовленные источники, генераторы для формирования формы сигнала энергетического воздействия (прямоугольный, треугольный, синусоидальный) и микропроцессорные щитовые измерители мгновенных значений напряжения и тока используемых в качестве аппаратных модулей в составе источников энергетического воздействия доказали при эксплуатации i свою надежность, эффективность и многофункциональность.

7. На предприятиях ООО «Русский профиль», г. Красноярск, ОАО «Информационные спутниковые системы им. Решетнева» г. Железногорск, ООО i

Манэл» г. Томск, ООО «Сибспарк», г. Томск, разработаны технологии и внедрены технологические линии по нанесению функциональных и декоративных покрытий на базе разработанных источников импульсных энергетических воздействий: «Корунд», «Corund MI», «Boy», «Воу-2», «Воу-2М», «Воу-3», «Sibspark».

Таким образом, в результате выполнения диссертационной работы внесен весомый вклад в решение важной народно-хозяйственной задачи по созданию средств измерений электрических параметров для управления качеством микроплазменных покрытий и развитие технологий нанесения наноструктурных неметаллических неорганических покрытий в различных сферах науки и производства.

254

Список литературы диссертационного исследования доктор технических наук Бориков, Валерий Николаевич, 2011 год

1. Белеванцев В.И., Терлеева О.П., Марков Г.А., Шулепко Е.К., Слонова А.И., Уткин В.В. Микроплазменные электрохимические процессы. Обзор. // Защита металлов. - 1998. - Том 34. - № 5. - С.469-484.

2. Слугинов П. Разряд гальванического тока через тонкий слой электролита.// Журн. физ. общ-ва. 1882. - Т. X. - С.241-243.

3. US Patent № 2 753 952 (15.11.55.). H.A. Evangelides. HAE process.

4. Марков Г.А., Белеванцев В.И., Слонова А.И., Терлеева O.JL, Шулепко Е.К., Кириллов В.И. Износостойкость покрытий нанесенных анодно-катодным микродуговым методом. // Трение и износ (ВНТЖ). 1988. - Т.9. -вып.2. - С.286-290.

5. Шулепко Е.К., Марков Г.А., Слонова А.И. О влиянии эффективного сопротивления электролита на параметры формовочных кривых напряжение время в микродуговых процессах. // Электрохимия. - 1993. - том 29. - №5. -С.670-672.

6. Черненко В.И., Снежко Л.А. Папанова И.И. Получение покрытий анодно-искровым электролизом. Л.: Химия, 1991. - 128 с.

7. Гордиенко П. С. Образование покрытий на анодно поляризованных электродах в водных электролитах при потенциалах искрения и пробоя. / Инт химии ДВО РАН. Владивосток: Дальнаука, 1996. - 213 с.

8. Гордиенко П. С., Гнеденков С. В. Микродуговое оксидирование титана и его сплавов. / Ин-т химии ДВО РАН. Владивосток: Дальнаука, 1997. - 179 с.

9. Гордиенко П. С., Руднев В. С. Электротехническое формирование покрытий на алюминии и его сплавах при потенциалах искрения и пробоя. / Ин-т химии ДВО РАН. Владивосток: Дальнаука, 1999. - 232 с.

10. Гордиенко П.С., Ефименко A.B., Семенова Т.Л. Закономерности синтеза и физико-химические свойства оксидных структур анодных пленок диоксида циркония / Ин-т химии ДВО РАН. Владивосток: Дальнаука, 2001. -93 с.

11. Суминов, A.B. Эпельфельд, В.Б. Людин, Б.Л. Крит, A.M. Борисов

12. Микродуговое оксидирование (теория, технология, оборудование). М.: ЭКОМЕТ, 2005.-368с.

13. Сизиков А.М., Калинина Т.А., Глиздинский И.А., Бугаенко Л.Т.

14. Разрушение водной эмульсии пентадекана анодным микроразрядом. I. Общая характеристика процесса. // Химия высоких энергий. 2001. -Т35.-№3.-С. 219-223.

15. Вольф Е.Г., Сизиков A.M., Бугаенко Л.Т. Определение среднего времени жизни пароплазменных пузырьков при микроразряде на алюминиевом вентильном аноде в водном ратворе электролита. // Химия высоких энергий. 1998. - Т 32. - № 6. - С. 450 - 453.

16. Малышев В.Н. Особенности формирования покрытий методом анодно-катодного микродугового оксидирования. // Защита металлов. 1996. - Том 32. - № 6. - С.662 - 667.

17. Малышев В.Н. Самоорганизующиеся процессы при формировании покрытий методом микродугового оксидирования. // Перспективные материалы. 1998.-№ 1.-С. 16-21.

18. Магурова Ю.В., Тимошенко A.B. Влияние катодной составляющей на процесс микроплазменного оксидирования сплавов алюминия переменным током. // Защита металлов. 1995. - Том 31. - № 4. - С.414-418.

19. Тимошенко A.B., Опара Б.К., Ковалев А.Ф. Микродуговое оксидирование сплава Д16Т на переменном токе в щелочном электролите. // Защита металлов. 1991. - Том 27. - № 3. - С.417-424.

20. Мамаев А.И., Мамаева В.А. Сильнотоковые процессы в растворах электролитов. Новосибирск: Изд-во СО РАН, 2005. -254 с.

21. Мамаев А.И. Физико-химические закономерности сильнотоковых процессов в растворах при нанесении оксидных покрытий и модифицировании поверхности. Дисс. . д-ра хим. наук. Томск: ТГУ, 1999. -348 с.

22. Kurze P. Anodische Oxidation unter Funkenentladungen auf Metalloberflaeschen in waessrigen Elektrolyten- Grundlagen und Anwendungen: Dechema-Monographien. B. 121. - VCH-Verlagsgeselschaft. - 1990. -S.167-181.

23. W. Krysmann, P. Kurze, K-H. Dittrich, H. G. Schneider Process characteristics and Parameters of Anodic Oxidation by Spark Discharge (ANOF). //Crystal Res. &Technol.-1984.-№19.-P. 973-979.

24. J.P. Schreckenbach, G. Marx, F. Schlottig, M. Textor, N.D. Spencer

25. Characterization of anodic spark-converted titanium surface for biomedical applications.//Kluwer Academic Publishers. 1999. - P. 453 - 457.

26. Kurze P. et al. Micro Arc/ Spark Anodizing -was ist das? // Galvanotechnik. -2003.-№8.-P. 1850-1863.

27. K. Shimizu, S Tajima. Theory of electroluminescence of AL /anodic alumina/ electrolyte system. //Electrochimica Acta. 1979. -№ 24. - P. 309 -311.

28. J. M. Albella, I. Montero, J. M. Martines-Duart A theory of avalanche breakdown during anodic oxidation. // Electrochimica Acta. 1987. - № 2. -P.255 -258.

29. M. C. Jimenez, J. M. Albella, I. Montero, J. M. Martines-Duart Influence of series resistance on the constant voltage stage during anodization. // Electrochimica Acta.-1989.-№7.-P. 951 -955.

30. J. M. Albella, I. Montero, J.M. Martinez-Duart, V. Parkhutik Dielectric breakdown processes in anodic Ta205 and related oxides. // Journal of Materials Science. №26. - 1991. - P. 3422 - 3432.

31. J. M. Albella, I. Montero, M. Fernandez, C. Gomez-Aleixandre and J.M. Martinez-Duart Double anodization experiments in tantalum. // Electrochimica Acta.- 1985. Vol. 30.-№10. - P. 1361 - 1364.

32. W. Xue, С. Wang, Y. Li, R. Chen, T. Zhang Analyses of microarc oxidation coatings formed on Si-containing cast aluminum alloys in silicate solution. // ISIJ International. 2002. - № 11. - P. 1273 - 1277.

33. W. Xue, C. Wang, Z. Deng, T. Zhang Characterization of oxide coatings deposited on pure titanium by alternating-curent microarc discharge in electrolyte. // ISIJ International. 2002. - № 16. - P. 651 - 655.

34. X. Yang, Y. He, D. Wang, W. Gao Cathodic microarc electrodepositoin of seramic coatings. // Electrochemical and Solid-State Letters. 2002. - № 5. -P.33-34.

35. A.G. Brolo, Y Yang Investigating mechanisms of anodic film formation by electrochemical probe beam deflection. // Electrochimica Acta. 2003. - № 49. -P. 339 - 347.

36. L. L. Odynets, L. M. Kosjuk Local field in anodic oxide films on valve metals. // Thin Solid Films. 1997. - № 295. - P. 295 - 298.

37. I. De. Graeve, H. Terryn, G. E. Thompson Influence of heat transfer on anodic oxidation of aluminium. // Journal of Applied Electrochemistry. 2002. -№32.-P. 73-83.

38. Yerokhin A.L., Nie X., Leyaland A. et al. Plasma electrolysis for surface engineering // Surface & Coatings Technology. 1999. -№122. - P.73-93.

39. Пат. 1759041 Российской Федерации, C25D 11/02. Устройство для микродугового оксидирования вентильных металлов и сплавов / Залялетдинов И.К., Людин В.Б., Пазухин Ю.Б., Харитонов Б.В., Шичков Л.П., Эпельфельд А.В. зарег. 1.05.92.

40. А.с. 926083 СССР, С25 D9/06. Способ нанесения силикатных покрытий / опубл. 1994, Бюл. №6.

41. Верник, Пиннер Химическая и электрохимическая обработка алюминия и его сплавов./ Судпромгиз, 1960. С. 218-220.

42. А.с. 1200591 СССР, С25 D11/02. Способ нанесения покрытий на металлы и сплавы, опубл. 1989, Бюл. №13

43. А.с. 1767043 СССР, С25 D11/02. Способ микродугового анодирования опубл. 1992, Бюл. №37

44. Отчет НИР. Анодно-катодные микродуговые методы нанесения защитных покрытий на элементы центробежных и штанговых насосов. № гос. per. 01819012140, №0286005661. ИНХ СОАН СССР, 1986. с.27.

45. А.с. СССР №526961 Способ формовки анодов электролитических конденсаторов, Н01 G9/24, 1976, Бюл. №32

46. А.С. СССР №1156410 Способ получения оксидных покрытий преимущественно на изделиях, изготовленных из разнородных сплавов титана. С25 D11/02,1996, Бюл. №16

47. А.С. СССР №1715890 Способ получения теплостойких покрытий на алюминиевых сплавах. С25 D11/02, 1992, Бюл. №8

48. А.С. СССР №1807095 Способ обработки изделий из алюминия и его сплавов. С25 D11/02, 1993, Бюл. №13

49. А.С. СССР №1812247 Способ обработки деталей из алюминия и его сплавов. С25 D11/06, 1993, Бюл. №16

50. А.С. СССР №1823534 Способ нанесения керамических покрытий на цирконий и его сплавы. С25 D11/02, 1996, Бюл. №10

51. А.С. СССР №1805694 Способ микродугового оксидирования алюминия и его сплавов. С25 D11/00, 1995, Бюл. №6

52. Патент РФ №2070622 Способ нанесения керамических покрытий на металлическую поверхностьмикродуговым анодированием и электролит для его осуществления, С25 D11/02, D11/06, D11/04, D11/26 1998, Бюл. №35

53. Патент РФ №2066716 Способ получения окрашенных покрытий на вентильных металлах и их сплавах, С25 D11/02, 1996, Бюл. №26

54. Ikonopisov S., Girginov A., Machkova M. // Ibid. 1987. -V. 32. № 2. -P.412-431.

55. Гибалов В.И., Пич Г.И. Численное моделирование формирования и развития канала микроразряда. // ЖФХ. 1994. - Т. 68, N5. - С.931-938.

56. Дураджи В.Н., Полотебнова Н.А. О диффузии вольфрама в стали при нагреве в электролитной плазме // Электронная обработка материалов. 1984.- №1. С.35-38.

57. P. Kurze, W. Krysmann, J. Schreckenbach, Th. Schwarz, K. Rabending

58. Coloured ANOF layers on aluminium. // Crystal Res. & Technol. №22. - 1987. -P. 53-58.

59. L. Rama Krishna, K.R.C. Somaraju, G. Sundararajan The tribolodical performance of ultra- hard ceramic composite coatings obtained through microarc oxidation. // Surface & Coatings Technology. №163 - 164., 2003, pp. 484 - 490.

60. S.V. Gnedenkov, O.A. Khrisanfova, A.G. Zavidnaya, S.L. Sinebrukhov, P.S. Gordienko, S. Iwatsubo, A. Matsui Composition and adhesion of protective coatings on aluminum. // Surface & Coatings Technology. -№145. 2001. -P.146-151.У

61. Терлеева О.П., Уткин B.B., Слонова А.И. Распределение плотности тока по поверхности дуралюмина в процессе роста оксида в условиях микроплазменных разрядов // Физика и химия обработки материалов. 1999.- №2. С. 60-64.

62. Малышев В.Н. Упрочнение поверхностей трения методом микродугового оксидирования: автореф. докт. тех. наук. -М., 1999. 53 с.

63. Борисов А.М., Ефремов А.П., Кулешов Е.А., Крит Б.Л. и др. Эволюция динамических ВАХ разряда в системе металл-оксид-электролит // Известия АН. Серия Физическая. 2002. - Т.66. - №8. - С. 1187-1191.

64. Дунькин О.Н., Людин В.Б., Суминов И.В. и др. Система цифрового управления и мониторинга установок плазменно-электролитической обработки (продолжение). // Приборы. 2003. - №6. - С.35-45.

65. Галюс 3. Теоретические основы электрохимического анализа. М.: Мир, 1974. - 552 с.

66. Делахей П. Новые приборы и методы в электрохимии. М.: Иностранная литература, 1957. 297 с.

67. Феттер К. .Электрохимическая кинетика. М: Химия, 1967. - 801с.

68. Дамаскин Б.Б., Петрий.О.А. Введение в электрохимическую кинетику. -М.: Высш. школа, 1975. 416с.

69. Михеев А.Е. и др. Технологические возможности микродугового оксидирования алюминиевых сплавов. // Вестник машиностроения. 2003. -№2. - с. 56-63.

70. Анагорский Л.А., Федосов Н.М. и др. Электронная обработка холоднокатанной автолистовой стали. // Электронная обработка материалов. -1974. № I. -С. 63-65.

71. Гродникас Г.Х., Чернышева Ю.И. Способ микродугового анодирования алюминия и его сплавов / АС СССР №1733507 С25Д11/02 /Опубл 15.05.92., БИ№13.

72. Гнеденков C.B., Хрисанфова O.A., Завидная А.Г. и др. Защитные износостойкие жаро-стойкие микроплазменные покрытия на алюминии. // Защита металлов. 1999. - Т 35. - № 5. - С. 527 - 530.

73. Суминов И. В., Эпельфельд A.B., Людин В.Б., Борисов A.M., Крит Б.Л. Микродуговое оксидирование. Обзор. // Приборы. 2001. - №9. - С.13-23.

74. Мамаев А.И., Дорофеева Т.И., Бориков В.Н., Мамаева В.А. Моделирование начальных стадий формирования покрытия на вентильных металлах при высоковольтном сильноточном импульсном воздействии // Физика и химия обработки материалов. 2007. - №3. - С.35-43.

75. Камке Э. Справочник по обыкновенным дифференциальным уравнениям. М.: Изд. Наука, 1976. - 576с.

76. Диткин В.А., Прудников А.П. Справочник по операционному исчислению. М.: Высшая школа, 1965. - 465с.

77. Дёч Г. Руководство к практическому применению преобразований Лапласа. М.: Изд. Наука, 1965. - 288с.г

78. Прудников А.П., Бычков Ю.А., Маричев О.И. Интегралы и ряды. М.: Наука, 1981.-800с.

79. Прудников А.П., Бычков Ю.А., Маричев О.И. Интегралы и ряды. Специальные функции. -М.: Наука, 1983. 752с.

80. Абрамовича М., Стиган И. Справочник по специальным функциям с формулами, графиками и таблицами., перев. с англ. Диткина В.А. и Карамзиной Л.М. М.: Наука, 1979. - 834с.

81. Мамаев А.И., Мамаева В.А., Бориков В.Н., Дорофеева Т.И.

82. Формирование наноструктурных неметаллических неорганических покрытий путем локализации высокоэнергетических потоков на границе раздела фаз. -Томск: Изд-во Том. ун-та, 2010.-360 с.

83. Гордиенко П.С., Гнеденков C.B., Синебрюхов С.Л., Завидная А.Г. // Электронная обработка материалов. №2. - 1991. - С. 42 -47.

84. Parfenov E.V., Yerokhin, Matthews A. Freguency response studies for the plasma electrolytic oxidation process // Surface and Coatings Technology. 2007. -Vol. 201.-P. 8661-8670.

85. Borikov V. Linear Parameter-Oriented Model of Microplasma Process in Electrolyte Solutions // Computer Science Meets Automation: Proc. of Internationales Wissenschaftliches Kolloquium (52.IWK). Germany, Ilmenau, September 10-13, 2007. - P. 89-94.

86. Мамаев А.И., Рамазанова Ж.М., Выборнова C.H. Моделирование сильноточных процессов в растворах электролитах/РИТЦ, Томск Деп ВИНИТИ. №2151-В-94. -1994.

87. Мамаев А.И., Выборнова С.Н., Мамаева В.А. Получение биосовместимых керамических покрытий на титане методом микродугового оксидирования и исследование их свойств. // Перспективные материалы.1998.-№6.-С. 31-38.

88. Мамаев А.И., Чеканова Ю.Ю., Рамазанова Ж.М. Получение анодно-оксидных декоративных покрытий на сплавах алюминия методом микродугового оксидирования // Физика и химия обработки материалов.1999.-№4.-С. 41-44.

89. Mamaeva V.A., Mamaev A.I., Borikov V.N., Dorofeeva T.I., Bydnitskaia Yu.Yu. Bioactive Ceramic Coatings with Nanoporous and Nanocrystalline

90. Structure Obtained by Microplasma Processes in Electrolytic Solutions // Nanoparticles, Nanostructures and Nanocomposites: Proc. Topical Meet. Europ. Ceramic Society. Russia, Saint-Peterburg, Juiy 5-7, 2004. - P.58.

91. Borikov У. Measurement System for Coating Quality Control During High Current Process in Electrolyte Solution // Measurement and Control: Proc. of 9th Internatonal IMEKO Symposium. India, Madras, November 21-24, 2007. - P. 121-126.

92. Смелянский B.M., Герций О.Ю., Морозов E.M. Упрочнение алюминиевых деталей микродуговым оксидированием. // Автомобильная промышленность. 1999 - № 1. - С. 22 - 25.

93. Чигринова Н.М., Чигринов В.Е., Кухарев А.А. Тепловая защита поршней высокофорсированным анодным микродуговым оксидированием // Защита металлов. 2000. - Т 36. - № 3. - С. 303 - 309.

94. Калита В.И. Физика и химия формирования биоинертных и биоактивных поверхностей на имплантатах. // Физика и химия обработки материалов. -2000.-№5.-С. 28-45.

95. P. Kurze et al. Method for the preparation of decorative coating on metals. Patent US № 4869789.26.09.1989.

96. Мамаев А.И., Бориков B.H., Попова E.A. Метрологическое обеспечение покрытий микродугового оксидирования // Качество-стратегия XXI века:

97. Материалы X Международной научно-практической конференции, 7-8 декабря 2005 г. Томск: Изд-во ТПУ, 2005. - С. 138-139.

98. Мамаева В.А., Мамаев А.И., Выборнова С.Н., Бориков В.Н., Дорофеева Т.И. Исследование процесса формирования биоактивных покрытий на титане и его сплавах в импульсном микроплазменном режиме // Перспективные материалы. 2005. - № 1. - С. 52-58.

99. Мамаев А.И., Дорофеева Т.И., Мамаева В.А., Бориков В.Н. Адгезия и пластичность покрытий, полученных микроплазменным оксидированием титана // Технология металлов. 2008. - № 3. - С. 33-37.

100. Мамаев А.И., Дорофеева Т.И., Мамаева В.А., Бориков В.Н. Микроплазменное формирование биологически активных покрытий и их модифицирование лекарственными препаратами // Перспективные материалы. 2008. - № 3. - С. 51-59.

101. Дорофеева Т. И., Бориков В. Н., Мамаева В. А., Мамаев А. И. Взаимосвязь микроплазменного процесса формирования оксидных керамических покрытий на цирконии с вольтамперными характеристиками // Технология металлов. 2009. - № 5. - С. 35-39.

102. Патент РФ № 2281487. Автоматизированный способ идентификации ме-таллов и сплавов / Мамаев А.И., Мамаева В.А., Бориков В.Н., Дорофеева Т.И. Опубл. 10.08.2006, Бюл. № 22.

103. Muravyov S.V., Borikov V.N., Kaysanov S.A. Computer system for measurement of welding process parameters // Metrology for a Sustainable Development: XVIIIIMEKO World Congress. September 22-27, 2006, Rio de Janeiro, Brazil. - 2006.

104. Muravyov S.V., Borikov V.N., Natalinova N.M. A Computer System: Measurement of Welding Surge Current // Measurement & Control. Vol. 42/2 March.-2009.-P. 44-47.

105. Болотин И.Б., Эйдель JI.3. Измерения при испытании аппаратов в режимах короткого замыкания. 3-е изд., перераб. и доп. - М.: Энергия, 1988.-200 с.

106. Данилов А. Современные промышленные датчики тока // Современная электроника. № 1. - 2004. - С. 26-35.

107. Бараночников M.JI. Микромагнитоэлектроника. Т. 1. М.: ДМК Пресс, 2001. - 544 с.

108. Chucheng X., Lingyin Z., Asada Т., Odendaal W.G., van Wyk J.D. An

109. Overview of Integratable Current Sensor Technologies // Conference Record of the Industry Applications Conference, 12-16 Oct. 2003 (38th IAS Annual Meeting, Salt Lake City, USA), vol. 2. - P. 1251-1258.

110. Ziegler S., Woodward R.C., Iu H.H.C., Borle L.J. Current Sensing Techniques: A Review // IEEE Sensors Journal. Vol. 9. - №.4., April. - 2009. -P.354-376.

111. Векслер M.C., Теплинский A.M. Шунты переменного тока. JI.: Энергоиздат, 1987- 120с.

112. Filipski P.S., Boecker M. AC-DC Current Shunts and System for Extended Current and Frequency Ranges. // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. vol. 55. - №4. - 2006.

113. Filipski P.S., Boecker M. AC-DC current transfer standards and calibrations at NRC // Symposium of Metrology. 2006, Santiago de Queretaro. - Mexico, 2006.

114. Klonz M., Laiz H., Spiegel Т., Bittel P. AC-DC current transfer step-up and step-down calibration and uncertainty calculation // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. Vol. 51. - №5. - Oct 2002. - P. 1027-1034.

115. Laug O.B., Souders T.M., Waltrip B.C. A Four -Terminal Current Shunt with Calculable AC Response. NIST Technical Note 1462, Electronics and Electrical Engineering Laboratory, Gaithersburg, USA. August, 2004. - 48 p.

116. Ветошкин С. В., Ионин А. А., Климачев Ю. М. и др. Динамика коэффициента усиления в активной среде импульсного электроионизационного СО-лазера: теория и эксперимент // Квантовая электроника. 2005 (35). - № 12. - С. 1107-1112.

117. HCCS High current compensated shunts. HCS - High current shunts. Centra Elettrotecnico Sperimentale Italiano (CESI), Giacinto Motta SpA, Milano, Italia. - 2005. - 7 p. -www.cesi.it.

118. Kawamura Т., Haginomori E., Goda Y., Nakamoto T. Recent Developments on High Current Measurement Using Current Shunt // Transactions on electrical and electronic engineering. №2. - 2007. - P. 516-522.

119. Souders T.M. Comment on "A New Device for Measurements of Pulses or High-Frequency Currents" // IEEE Transactions on instrumentation and measurement/ Vol. 1М-23/ - № 3, September. - 1974. - P. 248.

120. Okamura S. A New Device for Measurements of Pulses of High-Frequency Currents // IEEE Transactions on instrumentation and measurement. Vol. IM-23. - № 1, March. - 1974. - P. 52-55.

121. Svensson S., Rydler K.-E. A measuring system for the calibration of power analysers // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. Vol. 44. -№2.-Apr. 1995.-P. 316-317.

122. Thornton E. Voltage and current measurement in pulsed power circuits // IEE Colloquium on Measurement Techniques for Power Electronics (16 Dec 1991, London, UK)/ P. 10/1-10/4.

123. Silsbee F.B. A study of the inductance of four-terminal resistance standards // NBS Scientific Paper No. 281/ July 1916.

124. Carsten B.W. Current shunts // Wiley Survey of Instrumentation and Measurement, Ed. S. Dyer, Wiley-IEEE Press, 2001. P. 252-258.

125. Castelli F. The infrared thermal converter as a highly precise transfer standard // Proceedings of the IMTC/96-IMEKO TC-7 (Brussels, Belgium, June 46,1996), vol. I.-P. 206-213.

126. Castelli F. The Flat Strap Sandwich Shunt // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. Vol. 48. №5. - 1999. - P. 894-898.

127. Cherbaucich C., Crotti G., Kuljaca N., Novo M. Evaluation of the dynamic behaviour of heavy current shunts. In: Proc. of the XVIIIMEKO World Congress "Metrology in the 3rd Millennium", (June 22-27, 2003, Dubrovnik, Croatia). -2003.-P. 586-589.

128. Malewski R. Micro-ohm shunts for precise recording of short circuit currents. // IEEE transactions on Power Apparatus and Systems. Vol. PAS-96. - №2. -March/April 1977. - P. 579-585.

129. Malewski R., Nguyen C.T., Feser K. Hylten-Cavallius N. Elimination of the Skin Effect Error in Heavy-Current Shunts. // IEEE Transactions on Power Apparatus and Systems. Vol. PAS-100. - №3. - March 1981. - P. 1333-1340.

130. Moran P., Gibert A., Francois G.J., Pignolet P. Coaxial shunt intended for transient current measurement in a pseudospark switch // IEE Proceedings. Science, Measurement and Technology. Vol. 143. - №2. - March 1996. - P. 119-124.

131. ГОСТ 8.256-77. Нормирование и определение динамических характеристик аналоговых СИ.

132. Ferreira J. A., Cronje W. A., Relihan W. A. Integration of High Frequency Current Shunts in Power Electronic Circuits // IEEE Transactions on Power Electronics. Vol.10. - №1. - 1995. - P. 32-37.

133. Johnson C.M. Current measurement using compensated coaxial shunts //IEE Colloquium on Measurement Techniques for Power Electronics (16 Dec 1991 London, UK).-P. 7/1-7/4.

134. Johnson C.M., Palmer P.R. Current measurement using compensated coaxial shunts // IEE Proceedings. Science, Measurement and Technology, Vol.141.-Issue: 6,1994.-P.471-480.

135. A40/A40A. Токовые шунты // Каталог фирмы Fluke, 2007. С. 69.

136. Гиниятуллин И.А., Сергеев С.Р. Эталонные средства измерений в низковольтной электроэнергетике // Мир измерений. № 11-12. - 2003. -С.10-16.

137. Бориков В.Н. Автоматизированный расчет электрических и конструктив-ных параметров коаксиальных шунтов в графической среде программиро-вания Lab VIEW //Приборы. 2010. - № 3. - С. 42-46.

138. Наталинова Н.М. Оценка качества конструкций трубчатых шунтов // Репутация и качество. 2007. - № 9. Спецвыпуск. - С. 57.

139. Luhmann Н., Malewski R. Step response and response time of tubular shunts of any wall thickness // Arch. Electrotech. Aug. 1975. - P. 111-118.

140. ГОСТ 8.256 77. Нормирование и определение динамических характеристик аналоговых средств измерений. Основные положения. - Введ. 1978-06-12.-М.: ИПК Изд-во стандартов, 1977. - 12 с.

141. Cherbaucich С., Crotti G., Kuljаса N., Novo M. Evaluation of the dynamic behaviour of heavy current shunts. In: Proc. of the XVIIIMEKO World Congress "Metrology in the 3rd Millennium". June 22-27, 2003, Dubrovnik, Croatia. -2003. - P. 586-589.

142. Lilco Ltd. URL: http://www.lilco.co.uk. Дата обращения: 10.06.2011.

143. Гоноровский И.С. Радиотехнические цепи и сигналы: Ученое пособие. М.: Радио и связь, 1994. — 480 с.

144. Duhamel P., Vetterli М. Fast Fourier Transforms: A Tutorial Review and a State of the Art // Signal Processing. Vol. 19. - April 1990. - P. 259-299.

145. МИ 1967-89. ГСИ. Государственная система обеспечения единства измерений. Выбор методов и средств измерений при разработке методик выполнения измерений. Общие положения.

146. МИ 1991-89. ГСИ. Преобразователи измерительные электрических величин. Шунты постоянного тока измерительные. Методика поверки.

147. Бромберг Э.М., Куликовский K.JI. Тестовые методы повышения точности измерений. -М.: Энергия, 1978. 176 с.

148. Патент РФ на полезную модель № 80585. Устройство для поверки шун-тов / Муравьев С.В., Бориков В.Н., Наталинова Н.М. Опубл. 10.02.2009, Бюл. № 4.

149. Muravyov S.V., Zlygosteva G.V., Borikov V.N. Multiplicative method for reduction of bias in indirect digital measurement result // Metrology and Measurement Systems. 2011. - Vol. 18. - No. 3. - P. 481-490.

150. Шваб А. Измерения на высоком напряжении. М.: Энергия, 1995. -232с.

151. Рябов Б.М. Измерение высоких импульсных напряжений. JL: Энергоатомиздат, 1993. - 124 с.

152. Ашнер A.M. Получение и измерение импульсных высоких напряжений. М.: Энергия, 1998. - 120 с.

153. Хоберг В.А. Высоковольтные установки и измерения на высоком напряжении. Л.: Энергоатомиздат, 1993. - 98 с.

154. Кужекин И.П. Испытательные установки и измерения на высоком напряжении. М.: Энергия, 1999. - 136 с.161. http://www.ppmpower.co.uk/high voltage probes dividers/

155. ГОСТ 11113-88. «Генераторы импульсные измерительные»

156. Кунцевич A.A. Измерение параметров напряжения различной формы. -М.: Изд-во МЭИ, 2005. 131 с.

157. М.И. Грязнов, М.Л., Гуревич, Ю.А. Рябини Измерение параметров импульсов. М.: Радио и связь, 1991. - 216 с.

158. Цифровая осциллография / A.M. Беркутов, И.П. Гиривенко, Е.М. Прошин и др.; Под. Ред. A.M. Беркутова, Е.М. Прошина. М.: Энергоатомиздат, 1983.-232 с.

159. Портативные осциллографы / Е.Блюдин, З.М. Боднар, К.В. Кравченко и др. -М. Сов. радио, 1978. 264 с.

160. Пивак A.B. Об ограничениях при измерении импульсных напряжений с помощью осциллографов. Режим доступа: www.prist.ru, свободный. - Загл. с экрана.

161. Данилов A.A. Специализированные аналоговые микросхемы: Усилители-ограничители. // Электронные компоненты. 2007. - №9. -С.34-39.

162. Данилов A.A. Специализированные аналоговые микросхемы: Операционные усилители с уникальными функциями и параметрами // Электронные компоненты. 2007. - №12. - С. 85-89.

163. Jim Williams Linear technology, Application Note High Speed Amplifier Techniques, A Designer's Companion for Wideband Circuitry 47, August 1991.

164. AD8036/8037 Datasheet. Analog Devices. www.analog.com, free. - Title from screen

165. Regtien P.P.L., Measurement science for engineers. Kogan Page Ltd, London and Sterling, VA, 2004.

166. Мамаев А.И., Бориков B.H., Мамаева В.А., Дорофеева Т.И. Компьютерная система измерения электрических параметров микроплазменных процессов в растворах // Защита металлов. 2005. - Т. 41. - № 3. - С. 1-6.

167. Мамаев А.И., Бориков B.H., Дорофеева Т.И., Мамаева В.А.

168. МИ 222-80. Методика расчета метрологических характеристик измерительных каналов информационно-измерительных систем по метрологическим характеристикам компонентов. М.: ИПК Изд-во стандартов, 1980. - 21 с.

169. Бориков В.Н., Баранов П.Ф. Концепция системы контроля и управления технологическими процессами формирования микроплазменных покрытий // Известия Томского политехнического университета. 2011. -Том 318. - № 5. - С.120-125.

170. Бориков В.Н., Сарычев С.В., Мамаев А.И. Промышленный источник питания для микродугового оксидирования в водных растворах электроли-та «Воу-2» // Приборы. 2007. - № 6. - С.13-16.

171. Бориков В. Н. Модульная система для измерения удельной электропроводности жидкости // Датчики и системы. 2011 - № 5 - С. 40-43.

172. A. I. Maraaev, V. N. Borikov, V. A. Mamaeva, and Т. I. Dorofeeva A Computer System Measuring the Electrical Parameters of Microplasma Processes in Solutions. // Protection of Metals and physical chemistry of surfaces. Vol. 41. -№3.-2005.-P. 254-258.

173. Borikov V. Neural Method Alloys Identification by the Microplasma Oxidation Process in the Electrolyte Solutions // Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 2006 - Vol. 37. - No. 11. - P. 915-918.

174. Бориков В.Н. Построение измерительных алгоритмов модульных компьютерных измерительных систем: автореф. . канд. тех. наук. Томск, 1993.-167 с.

175. Муравьев С.В., Ким B.JL, Комаров А.В., Октябрьский В.В., Сарычев

176. С.В. Компьютерные лабораторные работы на основе графической программной технологии // Датчики и системы. 2000. - № 10. - С. 23-31.

177. Баранов П.Ф., Бориков В.Н. Дистанционный лабораторный практикум на основе графической программной технологии // Дистанционное и виртуальное обучение. 2011. - № 1. - С. 81-88.

178. Муравьев С.В., Бориков В.Н. Алгоритмы дискретной математики в измерениях // Измерения, контроль, автоматизация. 1992. - № 1-2(80) . - С. 20-28.

179. Малышев В.М., Механиков А.И. Гибкие измерительные системы в метрологии. -М.: Изд-во стандартов, 1988. 176с.

180. Бориков В.Н., Баранов П.Ф., Горисев С.А., Ряшенцев И.В., Цимбалист Э.И. Сетевая виртуальная лаборатория удаленного доступа по электротех-нике // Открытое образование. 2011. - № 4(87). - С.19-24.

181. Borikov V. Virtual Electrolyte Conductivity Analyzer for Microplasma // Proc. of 17th Symposium IMEKO TC4. Slovakia, Kosice, September 8-10, 2010.-P. 14-18.

182. Бориков B.H., Баранов П.Ф., Мамаев А.И. Программно-аппаратный комплекс для исследования микроплазменных процессов в растворах // Приборы. 2011. - № 12. - С.53-59.

183. P. Daponte, D. Grimaldi Artificial neural networks in measurements. -Measurement. №23. - 1998 - P. 93-115.

184. Мамаев А.И., Дорофеева Т.Н., Бориков В.Н., Мамаева В.А. Применение нейросетей для определения марки сплава при микроплазменном воздействии // Технология металлов. 2006. - № 6. - С. 37-41.

185. Агамалов Ю.Р., Бобылев Д. А., Кнеллер В.Ю. Виртуальные измерители-анализаторы параметров импеданса // Датчики и системы. -2004.-№5.-С. 14-18.

186. Латышенко К.П. Кондуктометры на рынке промышленных приборов // Мир измерений. 2008. - № 2. - С.36-37.

187. Moron Z. Consideration on the accuracy of measurements of electrical conductivity of liquids // XVIIIIMEKO World Congress: Proceedings. Rio de Janeiro, 2006. - P. 43^8.

188. Лопатин Б.А. Теоретические основы электрохимический методов анализа. М.: Высш. школа, 1975. - 295 с.

189. ГОСТ 8.207-76. Государственная система обеспечения единства измерений. Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов наблюдений. Основные положения. М.: Издательство стандартов, 1986. - 9 с.

190. ГОСТ 8.009-84. Государственная система обеспечения единства измерений. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений. М.: Издательство стандартов, 1985. - 32 с.

191. ГОСТ 13350-78. Анализаторы жидкости кондуктометрические ГСП. Общие технические условия. М.: ИПК Издательство стандартов, 1999. -11с.

192. Кныш В.А. Полупроводниковые преобразователи в системах заряда накопительных конденсаторов. JL: Энергоиздат. Ленингр. отд-ние, 1981. -160с.

193. Блум, Хансиоахим. Схемотехника и применение мощных импульсных устройств / Хансиоахим Блум; пер. С англ. Рабодзея А.М. М.: Додэка-ХХ1, 2008.-352 с.

194. Сукер К. Силовая электроника. Руководство разработчика. М.: Издательский дом Додэка XXI, 2008. - 252с.

195. Патент РФ № 2330353. Способ преобразования химической энергии в электрическую энергию и устройство для его осуществления / Мамаев А.И., Мамаева В.А., Бориков В.Н. Опубл. 27.07.2008, Бюл. №21.

196. Бориков В.Н., Ким В.Л., Меркулов С.В. Генераторы тестовых напряже-ний // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. -2010. -№1. С.23-26.

197. Рыбин Ю.К., Будейкин В.П., Герцигер Л.Н. Измерительные низкочастотные RC-генераторы синусоидальных колебаний с малым коэффициентом гармоник // Измерения, контроль, автоматизация. Научно-техн. сб. обзоров. / ЦНИИТЭИ приборостроения. М.,1985. Вып.2(54).

198. М.Н. Jones. А Practical Introduction То Electronic Circuits. Cambridge University Press - 1995.213. .Применение микропроцессоров в осциллографах // Электроника. -1983.-№5.-С. 3-7

199. Бориков В.Н., Баранов П.Ф., Цимбалист Э.И., Ким В.Л. Устройство для испытаний и поверки индуктивных делителей напряжения // Контроль. Диагностика. 2011. - № 11(161) - С. 41-45.швёшщшшяшшёёщшё

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.