Разработка и исследование алгоритмических методов синтеза проверяющих тестов для сменных цифровых узлов ЭВМ, содержащих элементы повышенной степени интеграции тема диссертации и автореферата по ВАК 05.13.13., кандидат технических наук Синельников, Владимир Ефимович

Диссертация и автореферат на тему «Разработка и исследование алгоритмических методов синтеза проверяющих тестов для сменных цифровых узлов ЭВМ, содержащих элементы повышенной степени интеграции». disserCat — научная электронная библиотека.
Автореферат
Диссертация
Артикул: 304568
Год: 
1984
Автор научной работы: 
Синельников, Владимир Ефимович
Ученая cтепень: 
кандидат технических наук
Место защиты диссертации: 
Москва
Код cпециальности ВАК: 
05.13.13.
Специальность: 
Организация структур и вычислительных процессов в ЭВМ, комплексах и системах
Количество cтраниц: 
191

Оглавление диссертации кандидат технических наук Синельников, Владимир Ефимович

ВВЕДЕНИЕ.

I. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ СУЩЕСТВУЮЩИХ МЕТОДОВ

СИНТЕЗА ТЕСТОВ И РАЗРАБОТКА АЛГОРИТМА СИНТЕЗА

ПРОВЕРЯЮЩИХ ТЕСТОВ ДЛЯ СЦУ.

1.1. Исследование основных характеристик сменного цифрового узла как объекта диагноза.

1.2. Разработка требований к алгоритмам и программным комплексам синтеза проверяющих тестов для СЦУ, содержащих элементы повышенной степени интеграции.

1.3. Обзор литературы и анализ существующих методов диагностирования цифровых узлов ЭВМ

1.4. Сравнительные характеристики регулярных и случайных методов синтеза тестов,

1.5. Основные определения.

1.6. Формулировка задачи случайного поиска тестовой последовательности.

1.7. Разработка алгоритма синтеза проверяющих тестов для СЦУ.

1.8. Выводы.

П. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ АЛГОРИТМОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ УСТРОЙСТВ ПОТЕНЦИАЛЬНО-ИМПУЛЬСНОГО ТИПА, СОДЕРЖАЩИХ ЛОГИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ ПОВЫШЕННОЙ СТЕПЕНИ

ИНТЕГРАЦИИ.

2.1. Постановка задачи

2.2. Исследование эффективности алгоритмических средств организации вычислительного процесса моделирования,.

2.3. Разработка алфавита моделирования и метода моделирования состязаний в дискретных устройствах потенциально-импульсного типа.

2.4. Разработка методики построения алгоритмов-интерпретаторов закона функционирования элементов повышенной степени интеграции

2.5. Анализ корректности синхронизированной псевдослучайной последовательности методом цифрового моделирования. III

2.6. Выводы.

Ш. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ АЛГОРИТМОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ

НЕИСПРАВНОСТЕЙ В ДИСКРЕТНЫХ УСТРОЙСТВАХ ПОТЕНЦИАЛЬНО-ИМПУЛЬСНОГО ТИПА.

3.1. Постановка задачи

3.2. Разработка алгоритма параллельного моделирования неисправностей.

3.3. Разработка дедуктивного алгоритма вычисления списков обнаруживаемых неисправностей

3.4. Разработка математической модели неисправностей триггеров и элементов с динамическим ' управлением.

3.5. Исследование и анализ параллельного и дедуктивного алгоритмов.

3.6. Выводы.

1У. РАЗРАБОТКА И ВНЕДРЕНИЕ ПРОГРАММНОГО КОМПЛЕКСА

АВТОМАТИЧЕСКОГО СИНТЕЗА ПРОВЕРЯЮЩИХ ТЕСТОВ ДЛЯ

ТИПОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ЗАМЕНЫ.

4.1. Технические характеристики комплекса

4.2. Структура и режимы работы.

4.3. Особенности программной реализации

4.4. Внедрение и результаты эксплуатации комплекса.

4.5. Выводы.

Введение диссертации (часть автореферата) На тему "Разработка и исследование алгоритмических методов синтеза проверяющих тестов для сменных цифровых узлов ЭВМ, содержащих элементы повышенной степени интеграции"

Актуальность теш исследования. Решения ХХУ1 съезда КПСС предусматривают широкое применение средств автоматизации и вычислительной техники в управлении народным хозяйством. Высокое качество изделий и требуемые параметры надежности эксплуатации не могут быть достигнуты без повсеместного внедрения средств диагностирования и восстановления работоспособности. Широкое применение при изготовлении, наладке и эксплуатации устройств ЭВМ получили методы тестового диагностирования, поскольку во многих случаях они оказываются более экономичными, более эффективными с точки зрения качества диагностирования и более технологичными за счет возможности автоматизации отдельных процессов диагностирования на стадии разработки изделия по сравнению с аппаратурными методами и методами диагностирования в реальном времени (например, метод псевдослучайных кодов) /45/.

Тестирование ДУ осуществляется, как на уровне всего устройства, так и на уровне его конструктивных единиц: узлов, блоков, плат, панелей, рам и т.п. Построение современных конструкций ЭВМ по модульному принципу делает задачу тестирования на уровне сменных цифровых узлов ЭВМ (СЦУ) одной из главных задач тестового диагноза ЭВМ. Действительно, в процессе изготовления и наладки в принципе возможен контроль только на уровне сменных цифровых узлов, так как устройства вч момент изготовления еще не существует.

По данным заводов-изготовителей до 60% стоимости изготовления ЕС ЭВМ — наиболее массовой серии средств ВТ в СССР — приходится на контрольно-наладочные работы. Среди многих причин, определяющих высокую долю стоимости этих работ, одной из основных является недостаточное качество проверки массовых сменных конструктивных цифровых узлов ЕС ЭЕМ- ТЭЗ. Надежная эксплуатация

ЭВМ также невозможна без использования средств тестового диагноза СЦУ, так как существующие методы проверки работоспособности и диагностирования неисправностей дискретных устройств (ДУ), а также методы контроля функционирования в большинстве случаев позволяют диагностировать неисправность в ЭВМ с точностью до группы СЦУ. Для восстановления работоспособности в заданное время, являющееся параметром надежности разрабатываемой ЭВМ, использование средств тестового диагностирования СЦУ необходимо для обнаружения неисправного узла среди группы подозреваемых.

Задача построения тестов проверки работоспособности (проверяющих тестов) и тестов поиска неисправностей в СЦУ должна быть решена на стадии проектирования изделия. При этом тесты проверки работоспособности, словари неисправностей и т.п. должны являться составной частью эксплуатационной и технологической документации изделия. Этот факт вызывает необходимость решения задачи в рамках тех же технологических условий, в которых решаются основные задачи проектирования, то есть необходимо обеспечить выпуск тестовой документации высокого качества в заданные, сжатые сроки проектирования, гибкость при внесении в проект большого количества изменений и при перестройке средств диагностирования на новые виды изделий.

Среди различных задач проектирования рассматриваемая задача является одной из наиболее трудоемких. Практика проектирования устройств вычислительной техники показывает, что для построения теста для одного СЦУ (50 входных-выходных полюсов, 100 логических элементов) разработчик высокой квалификации затрачивает 3-5 недель. При этом оказывается, что качество тестов (полнота проверки, достоверность обнаружения и точность поиска дефекта) очень низкое, и тесты, как правило, требуют дополнительной доработки. Если учесть, что современные ДУ содержат порядка тысяч типов таких узлов, то становится ясно, что ручными, интуитивными методами в реальные сжатые сроки проектирования изделий ВТ эта задача выполнена быть не может. Для ее эффективного решения должны быть использованы средства автоматизации проектирования (САПР), для чего необходимо разработать формальные алгоритмы и высокоэффективные программные комплексы, позволявшие синтезировать тесты по структурному описанию схемы узла. Алгоритмы должны быть ориентированы на современный технологический базис и обеспечивать автоматический синтез тестов не для одной, а для целой совокупности разработок.

Стремление к повышению быстродействия ЭБМ на уровне элементов с динамическим управлением (ЭДУ) матричных (МаЩС) и микропроцессорных (МПБИС) приводит к использованию принципов электронного конструирования, ориентированных на формирование сигналов за счет использования сочетаний задержки элементов, а также к построению логической сети, функционирущей по потенциально-импульсному типу (потенциально-импульсные ду). Методы синтеза тестов для таких сетей развиты недостаточно. Последнее подтверждается тем обстоятельством, что практический опыт применения различных методов построения тестов для потенциально-импульсных ДУ, а также теоретические соображения на этот счет / 7,12,51,63,72-74,84 / показывают, что получаемые тесты в большинстве случаев имеют малую полноту проверки, достоверность обнаружения и глубину поиска дефектов и требуют ручной доработки, что существенно снижает эффективность применения средств автоматизации проектирования ЭВМ.

Потенциально-импульсные ДУ использовались в разработках ЭЗГЛ и раньше, но доля их среди общего чтсла схем была невелика, да и логически:! объел разрабатываемых узлов был невелик, так что ручная доработка тестов для ДУ этого типа вполне удов-левторяло практические нувды проектировщиков. Использование в современных ЭВМ большого ассортимента элементов повышенной степени интеграции МаШС и МПЕИС сделали потенциально-импульсные ДУ наиболее распространенным классом проектируемых последова-тельностных ДУ. Таким образом задача синтеза тестов для потенциально-импульсных ДУ является чрезвычайно актуальной и ее решение может стать одним из путей снижения объема и стоимости наладочных работ и улучшения технико-экономических характеристик ЭВМ.

Целью работы является

- разработка теории и алгоритмов синтеза проверяющих тестов для логических сетей, работающих по потенциально-импульсному типу (в том числе и для МаШС),

- разработка принципов программной реализации метода синтеза тестов,

- создание программного комплекса автоматического синтеза проверяющих тестов.

Научная новизна

1. Разработаны алгоритмы синтеза тестов для логических сетей, работающих по потенциально-импульсному тицу (например, МаЕИС ЭСЛ).

2. Разработаны методы моделирования логических сетей, работающих по потенциально-импульсному типу. Предложенные алгоритмы отличаются высоким быстродействием при обеспечении требуемого уровня адекватности.

3. Разработаны методы моделирования неисравностей для ДУ потенциально-импульсного типа. В рамках параллельного метода решена задача сохранения принципа параллельности обработки группы неисправных моделей в пятеричном алфавите. В рамках дедуктивного метода решена задача моделирования с учетом состязаний в неисправных моделях.

4. Разработан алгоритм анализа корректности и алгоритм включения в тест-последовательность процедуры синхронизации, существенно повышащей эффективность генерации теста.

Практическая ценность

Разработанная теория и алгоритмические методы синтеза тестов позволяют эффективно строить и анализировать тесты высокоскоростных БИС, работающих на предельных частотах с использованием динамических эффектов (например, МаШС ЭСЛ). Разработан программный комплекс, решающий указанные задачи.

Структура работы

Диссертация состоит из введения, 1У-х разделов, заключения и 2-х приложений.

Заключение диссертации по теме "Организация структур и вычислительных процессов в ЭВМ, комплексах и системах", Синельников, Владимир Ефимович

Основные результаты диссертационной работы получены автором самостоятельно и опубликованы в работах / 10, II, II / 51 /

12, 14, 15, 16, 51, 52, 53, 102, 103, 104 /.

В работах, опубликованных в соавторстве, личным вкладом автора является: 10, 12, 103 / - разработка алгоритмов моделирования, используемых в методе случайного поиска;

- разработка основных принципов построения моделирующих программ для синтеза тестов на ТЭЗ потенциально-импульсного типа;

- а) постановка задачи и выбор методов ее решения; б) разработка основных алгоритмов, реализованных в комплексе АСГТ, в частности: разработка методов организации вычислительного процесса, разработка алгоритмов моделирования состязаний, разработка алгоритма синтеза тестов, разработка параллельного и дедуктивного методов моделирования неисправностей; в) руководство по созданию программного комплекса АСГТ;

- разработка алгоритмов моделирования ТЭЗ, содержащих элементы с динамическим управлением; 14, 15/ 16 / - исследование влияния состязаний и начальной неопределенности на достоверность обнаружения и локализации неисправностей; Ю4 / - разработка алгоритма моделирования синхронизирующей последовательности большой длины.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Синельников, Владимир Ефимович, 1984 год

1. Ангер С. "Асинхронные последовательностные схемы". Под редакцией Пархоменко П.П., изд-во "Наука", М., 1977.

2. Бирюков В.В., Волков В.В., Титюра А.Н. Система построения проверочных тестов для типовых элементов замены ЭВМ третьего поколения. "Ш Всесоюзное совещание по технической диагностике. Тезисы докладов". Минск, 1975, изд-во "Наука", М., 1975.

3. Богомолов A.M. и др. Эксперименты с автоматами. Изд-во "Навукова думка", 1973.

4. Богомолов A.M., Твердохлебов В.А. Контроль синхронизируемых автоматов. "Ш Всесоюзное совещание по технической диагностике. Тезисы докладов". Изд-во "Наука", М., 1975.

5. Бабаджанян К.Г. Об учете состязаний при построении тестовой последовательности. "Автоматика и телемеханика", 1975, В 9.

6. Валиев К.А., Дягилев В.Н. и др. Микромощные интегральные схемы. Изд-во "Советское радио", М., 1975.

7. Вейцман И.Н., Жук В.Е., Флеров А.Б. Вероятностная система синтеза контролирующих тестов на логические схеглы. "Вопросы радиоэлектроники. Серия ЭВМ", вып.6, 1971.

8. Вейцман И.Н., Синельников В.Е., Флеров А.Б. Машинный синтез контролирующих тестов и диагностических словарейда дискретных устройств. Материалы У Между народно го симпозиума IPAC "Дискретные системы", Рига, 1974.

9. Вейцман И.Н., Дегтярев А.Н., Жук В.Е., Синельников В.Е., Флеров А. Б., Штемплюк Г. А. Система синтеза контрольно-диагностических тестов для логических схем". "В сб. трудов

10. П Всесоюзного совещания по технической диагностике". Вып.118, ч.П, Ленинград, 1972.

11. Вейцман И.Н., Синельников В.Е. Принципы построения цифровых моделей для анализа и синтеза тестовых последовательностей дискретных устройств. "Ш Всесоюзное совещание по технической диагностике". Тезисы докладов. Минск, 1975, изд-во "Наука", М., 1975.

12. Вейцман И.Н. Применение методов моделирования на некоторых этапах проектирования вычислительных устройств.' "Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук". ШРЭА, М., 1971.

13. Вейцман И.Н., Жук В.Е., Перегуд Н.В., Сергеев А,А.,

14. Синельников В.Е., Степанова И.В., Щукина Л.Я, Комплекс программ синтеза контролирующих тестов для ТЭЗов вычислительных устройств третьего поколения. "Вопросы радиоэлектроники". Сер. ЭВТ, И 12, 1978.

15. Вейцман И.Н., Синельников В.Е. Достоверность обна- . ружения и локализации неисправностей в блоках дискретных устройств". П Всесоюзная школа-семинар по технической диагностике. Тезисы докладов". Москва, 1974.

16. Гилл А. Внедрение в теорию конечных автоматов. М., изд-во "Наука", 1966.

17. Бэльдман Р.С., Чипулис В.П. О диагностике неисправностей. "Автоматика и телемеханика"* 1972, 1е 9.

18. Гробман Д.М., Сергеев Б. Г. Автоматизированная система контроля цифровых модулей средств вычислительной техники. "УСИМ", 1973, & I.

19. Груяский И. С. Контрольный эксперимент с сильно связным диагностируемым автоматом". "Автоматика и телемеханика", 1972, Д» 3.

20. Грунский И.С. Поведение автомата в окрестностях состояний и его диагностика. "Ш Всесоюзное совещание по технической диагностике, Тезисы докладов". Минск, 1975, иэд-во "Наука, М., 1975.

21. Гурвич Е.И., Уробушкин В.И. Построение проверочных тестов для схем с памятью. В сб. "Автоматизация проектирования РЭА". Материалы семинара. М., ЩЩТП, 1972.

22. Гурвич Е.И. Многозначное моделирование логических схем. Материалы семинара. "Автоматизация проектирования РЭА", М., 1973.

23. Верзаков Г.Ф., Кишит Н.В., Рабинович В.И., Тимонен Л.С. Введение в техническую диагностику. Изд-во "Энергия", М., 1968.

24. Волков А.Ф., Зенин В.Д., Тюрин А.В., Меттер Э.Я. Структурный метод построения элементарных проверяющих тестов для дискретных устройств с памятью. "Труды Е Всесоюзного совещания по технической диагностике", "Известия" ЛЭТИ, вып. 118, ч.1, 1972.

25. Дкераче Дк.Б. Состязания в по следовательно стных устройствах с импульсными входами. В кн. "Булева алгебра иконечные автомата". Иэд-во "Мир", 1969.

26. Ермилов В.А. Метод отбора существенных неисправностей для диагностики цифровых схем. Общие выражения для неисправностей, возможных при эксперименте. "Автоматика и телемеханика", 1971, № I.

27. Ермилов В.А. Метод отбора существенных неисправностей для диагностики цифровых схем, выражения для одиночных кратковременных неисправностей, возможных при эксперименте. "Автоматика и телемеханика", 1971, & 3.

28. Ермилов В.А. Метод отбора существенных неисправностей для диагностики цифровых схем. "Автоматика и телемеханика", 1971, £ 6.

29. Животова Т.М., Першеев В.Т. Использование многозначного моделирования для анализа переходных процессов в логических цепях. "Ш .Всесоюзное совещание по технической диагностике. Тезисы докладов", Минск, IS75, изд-во "Наука", М., 1975.

30. Жуков М.В. Метод проверки кратных неисправностей в дискретных устройствах. "Автоматика и телемеханика", J£ 7, 9, 1976.

31. Иголинский В.Г., Видан Б.В. Аналитические методы контроля логических схем. "Техническая диагностика. Труды I Всесоюзного совещания по технической диагностике", иэд-во "Наука", М., 1972.

32. Каравай М.Ф. Построение теста для поиска кратных неисправностей комбинационных устройств произвольного базиса. "Автоматика и телемеханика", 1973, № 4.

33. Каравай М.Ф. Диагноз кратных неисправностей древовидных схем произвольного базиса. "Автоматика и телемеханика", 1973, № 4.

34. Карасик В.М., Алексахина Л.П., Аругеева М.П., Романчикова НД. Система автоматического синтеза и анализа тестов для асинхронных по следовательно стных схем. "Вопросы радиоэлектроники". Серия ЭВТ, вып.З, 1972.

35. Карибский В.В., Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Техническая диагностика объектов контроля. Изд-во "Энергия", М., 1967.

36. Карибский В.В. Построение входной последовательности, обнаруживающей заданную неисправность дискретного устройства. "Автоматика и телемеханика", 1972, il 5.

37. Лобанов А;В. Об учете неопределенности в методе выделения подозреваемых неисправностей дискретных устройств.' "Автоматика и телемеханика", 1976, & 10.

38. Лейфан Л.Я. Эффективный алгоритм разбиения ориентированного графа на бикомпоненты. Сборник "Кибернетика", 1966, й 5.

39. Майоров С.А., Немолочнов О.Ф., Колесник А.П. Асинхронное событийное моделирование логических схем цифровых устройств, "УСИМ", 1973, J& 2.

40. Меркулов В.Г., Архипов А.Е., Мясиа О.Ф. Вопросы, синтеза тестов для проверки типовых элементов замены в системе автоматизированного проектирования ЭВМ. "Автоматизация проектирования РЭА", М., 1973.

41. Мильнер А.Д. Алгоритм событийного моделирования цифровых устройств. Сб. "Вычислительная техника", материалы конференции. Каунас, 1972.

42. Мур Э.Ф. Умозрительные эксперименты с последовательными машинами. В кн. "Автомата" под ред. Шеннона К.Э. и Дае. Маккарти, изд-во "Иностранная литература", М, ,. 1956.

43. П.П.Пархоменко. Книга первая. "Модели объектов, методы и алгоритмы диагноза", изд-во "Энергия", 1976.

44. Пархоменко П.П. О технической диагностике. Изд-во "Энергия", М., 1969.

45. Пархоменко П.П. Диагноз технического состояния дискретных устройств методом выделения подозреваемых неисправностей. Комбинационные устройства. Устойчивые неисправности. "Автоматика и телемеханика", 1971, Л 6.

46. Плитман А.Д. Построение проверяющей последовательности для кратной неисправности в асинхронной схеме. "Автоматика и телемеханика", 1974, 7.

47. Плитман А.Д. О сокращении перебора в алгоритмах построения проверяющих и установочных последовательностей.

48. Ш Всесоюзное совещание по технической диагностике. Тезисы докладов", Минск, 1975. Изд-во "Наука", М., 1975.51. "Разработка программного комплекса синтеза контролирующих тестов для ТЭЗов EC-I035". Отчет по НИР, Г50174, 1977.

49. Синельников В.Е. Алгоритм анализа состязаний в последовательно стных устройствах. "Известия высших учебных заведений. "Электромеханика", 1975, Ш II.

50. Синельников В.Е. Параллельные и дедуктивные модели дискретных устройств, содержащих элементы с динамическим управлением. Вопросы радиоэлектроники, ССР. ЭВТ, вып.12, I960.

51. Тоценко Б.Г. Метод построения проверяющих тестов для произвольных конечных автоматов. "Автоматика и телемеханика", 1976, № 8.

52. Турчина Е.Л., Стешкович Н.Г. Соснина Н.Н. Применение ЗВМ при построении тестов для контроля цифровых схем. "Вычислительная техника", материалы конференции. Каунас, 1976.

53. Тюрин А.В. Построение проверяющих тестов для синхронных последовательностных устройств. "Автоматика и телемеханика", 1974, В 7.

54. Халчев В.Ф. Построение полного проверяющего теста для последовательного соединения одиночных контуров. "Автоматика и телемеханика", 1975, Л 4.

55. Чеггис И.А., Яблонский С.В. Логические способы контроля электрических схем "Труды Математического института имени В.А.Стеклова", изд-во АН СССР, 1958, т.1.

56. Чяен Г., Мэнинг Е., Метц Г. Диагностика отказов цифровых вычислительных систем. Изд-во "Мир", М., 1972.

57. Чипулис В.П. О построении тестов для контроля комбинационных схем "Автоматика и телемеханика", 1970, В 10.

58. Чипулис В.П. О проверке схем при сочетании неисправностей. "Автоматика и телемеханика", 1972, $ 9.

59. Чипулис В.П. О построении полных контролирующих тестов. "Автоматика и телемеханика", 1971, № II.

60. Шейнаускас Р.И., Кривицкас И.И. Многозначное моделирование логических схем. Сб. "Вычислительная техника". Материалы конференции. Каунас, 1975.

61. Agrawall V.D., Agrawall P.D., On Improvity the Efficiefi-cy of Monte-Carlo Test Generation, "Proc. of the 1975 Inter. National Symposiom on Fault-Tolerant Computing'1, June 18-19» Paris, Franoe, 1975.

62. Amar V., Condulmari N., Diagnosis of Large Combinational Networks, "IEEE Trans, on Eleotr. Сотр." vol. EC-16, 1967,N5.

63. Akers S.B., On a Theori of Boolean Functions, "Journal SIAM", vol. 7, 1959,N4.

64. Akers S.B., Universal Test Sets for Logio Networks. "IEEE Trans, on Сотр.", vol. C-22, 1973, N9.

65. Armstrong D.B. On Finding a Nearly Minimal Set of Fault Detection Tests for Combinational Logic Nets, "IEEE Trans, on El. Сотр.", vol. EC-15, 1966, N2.

66. Armstrong D.B., A Deductive Method for Simulating Faults in Logio Circuits, "IEEE Trans, on Сотр.", vol. C-21, 1972, N5.

67. Breuer M.A., A Random and Algorithmic' Technique for Fault Detection Test Generation for Sequental Circuits, "IEEE Trans.on Сотр.", Nov. 1971.

68. Breuer M.A., Harrison R.L. , Procedure for Eliminating Static and Dynamic Hazard in Test Generation, "IEEE Trans, on Сотр.", vol. 0-23, 1974. N10.

69. Breuer M.A., A Note on Three-Valued Logic Simulation, "IEEE Trans, on Сотр.", (Short Notes), vol. C-11, April 1972.

70. Breuer M.A. , The Effect Races, Delays and Delays Faults on Test Generation, "IEEE Trans, on Сотр.", vol. 23, 1974-, N10.

71. Breuer M.A., Design Automation of Digital Systems. Vol.1, Theory and Techniques, New Jersev, 1972.

72. Chappel S.G., Automatic Tests Generation for Asynchronous Digital Circuits, "The Bell System Technical Journal", vol.53,1974,1. N8.

73. Chang H.V., Chappel S.G., Elmendorf C.H., Schmidt L.D., Comparison of Parallel and Deductive Fault Simulation Method, "IEEE Trans, on Сотр.", vol. C-23, Nov. 1974.

74. Chappell S.G., Elmendorg C.H., Schmidt L.D., Logic Circuits Simulators, "Bell System Technical Journal, v-53, October, 1974.

75. Earnest C.P., Balker K.G., Anders L., Analysis of Graphs by Ordering of Nodes, "L of the ACM", vol.19, 1972, N1.

76. Eldred fi.D., Test Routines Based on Symbolic Logic Statement, "Journal of ACM", vol.6, 1959,N1.

77. Eichelberger E.B., Hazard Detection in Combinational and Sequential Switching Circuits. "IBM Lournal Rec. Develop.", vol.9, March 1965.

78. Fantauzzi G., An Algehroic Model for Analysis of Logical Circuits, "IEEE Trans, on Сотр.", N6, 1974.

79. Hsiao Mi. J., Dennis K.Ch., Boolean Difference for Fault Detection in Asynchronous Sequential Machines, "IEEE Trans, on Сотр.", Nov. 1971.

80. Meir M., On the Three-Valued Simulation of Digital Systems, "IEEE Trans, on Сотр.", Nov. 1976.

81. Kamal S., Poage G.V., Intermittent Fault: a Model and Detection Procedure, "IEEE Trans, on Сотр.", Nov. 1976.

82. Kautz V/.H., Fault Testing and Diagnosis in Combinational Digital Circuits. "IEEE Trans, on Electr. Сотр.", vol. EC-17, 1968, N1.

83. Kime C.B., An Organization for Checking Experiments on Sequential Circuits, "IEEE Trans, on El. Сотр.", vol. EC-15, 1966, N10.

84. Kohavi I., Kohavi Z., Variable-length Distinguishing Sequences and Their Application to the Design of Fault-Detection Experiments, "IEEE Trans, on Сотр.", vol. C-17, August 1968.

85. Kohavi Z., Switching and Finite Automate Theory, "Mc CEAW Fill Computer Sciences Series", New-York, 1970.- 180

86. Poage I.E., Derivation of Optimum Tests to Detect . Fault in Combinational Circuits., "Symposium Proc. on Mathematical Theory of Automata, Polytechnic Institute of Brooklin", New York, 196?.

87. Putzolu G.R., Roth J.P., A Heuristic Algorithm for Testing of Asynchronous Circuits, "IEEE Trans, on Сотр.", June 1971.

88. Both J.P., Bouricius W.G., Schneider P.R., Programmed Algorithms to Compute Tests to Detect and Distinguish Between Failure in Logic Circuits. "IEEE Trans, on Electr. Сотр.", vol. EC-16, 1967, N5.

89. Sellers F.F., Hsiao M.Y., Bearson L.W., Analyzing Errors with the Boolean Difference, "IEEE Trans, on Сотр.", vol. C-17, 1968 1; .

90. Seschu S., Freedman D.N., The Diagnosis of Asynchronous Sequential Switching Systems, "IKE Trans. El. Сотр.", vol. EC-11, August 1962.

91. Seschu S., Oh an Improved Diagnosis Program, "IEEE Trans, on El. Сотр.", vol. EC-14, 1965 N1.

92. Schneider P.R., On the Necessity to Examine D-chains in Diagnostic Test Generation on Example, "IBM Journal", Januar 1967.

93. Thayse A., Testing of Asynchronous Sequential Switching Circuits, "Phillips Res. Reports", vol. 25, 1972, N1.

94. Thomson E.W., Szygenda S.A., Digital Logic Simulation in a Time-Based, Table-Driven Environment. Part 2. Parallel Fault Simulation. "Computer" (USA),8, 1975, N3.

95. Ulrich E.G., Time-Sequenced Logical Simulation, Based on Circuit Delay and Selective Tracing of Activity Network Path, "Proc. ACM 20th National Conference, 1965.

96. Ulrich E.G., Excitisive Simulation on Activity in Digital Networks, "Communications of the ACM", vol.12, 1969, N2.

97. Weinblatt H., A New Search Algorithm for Finding the Simple Cycles of a Finite Directed. Graph, "L of the ACM", Vol.19, 1972 , N1.

98. Вейцман И.Н., Синельников B.E. Многозначное моделирование переходных процессов в дискретных устройствах. Вопросы радиоэлектроники. Серия ЭВМ, Вып.1, 1982 г, стр.Ю7-П5.

99. Якубайтис Э.А. Синтез асинхронных конечных автоматов. Издательство "ЗИНАШЕ" Рига, 1970 г.

100. Гордон, Наддиг. Локализация неисправностей в микропроцессорных системах при помощи шестнадцатеричных ключевых кодов. "Электроника" J5 5, 1977 г.

101. Берштейн М.С. Метод статистического контроля логических схем. "Кибернетика" й I, 1974 г.

102. Головистиков П.П. и др. Функциональный контроль и ремонт логических ячеек с помощью псевдослучайных кодов. Труды ИТМ и ВТ 1979 г.

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания.
В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.

Автореферат
200 руб.
Диссертация
500 руб.
Артикул: 304568