Резонансные эффекты вблизи краев поглощения рентгеновского излучения при отражении от многослойных структур тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, кандидат физико-математических наук Одинцова, Екатерина Евгеньевна

  • Одинцова, Екатерина Евгеньевна
  • кандидат физико-математических науккандидат физико-математических наук
  • 2011, Москва
  • Специальность ВАК РФ01.04.07
  • Количество страниц 153
Одинцова, Екатерина Евгеньевна. Резонансные эффекты вблизи краев поглощения рентгеновского излучения при отражении от многослойных структур: дис. кандидат физико-математических наук: 01.04.07 - Физика конденсированного состояния. Москва. 2011. 153 с.

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Одинцова, Екатерина Евгеньевна

Глава I. РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ

В ИССЛЕДОВАНИЯХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК.

§ 1. Общая характеристика метода.

§ 2. Развитие метода стоячих рентгеновских волн.

§ 3. Исследования диффузного рассеяния.

§ 4. Исследования спектров зеркального отражения.

§ 5. Восстановление профилей намагниченности по глубине.

§ 6. Успехи в решении обратных задач рентгеновской рефлектометрии.

§ 7. Развитие теории рентгеновской рефлектометрии.

Глава 2. ТЕОРИЯ ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И ВЫХОДА ВТОРИЧНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ОТ МАГНИТНЫХ АНИЗОТРОПНЫХ СЛОЕВ.

§ 1. Анализ применимости приближенных методов в теории рентгеновского отражения от магнитных мультислоев.

§ 2. Влияние малых магнитных добавок к восприимчивости на угловые зависимости отражения поляризованного излучения.

§ 3. Общая теория и моделирование выхода вторичного излучения из слоисто-анизотропной системы.

Основные результаты главы 2.

Глава 3. ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МНОГОСЛОЙНЫХ

ПЛЕНОК ПО ВЫХОДУ ВТОРИЧНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ.

§ 1. Локализация ультратонкого слоя Ре внутри многослойной структуры М>/Ре/[Мо/81]4о/стекло методом стоячих рентгеновских волн.

§ 2. Флуоресцентный анализ многослойной периодической структуры Zr(10 HM)/[Fe(1.6 нм)/Сг(1.7 нм)]2б/Сг(50 нм)/стекло в скользящей геометрии.

§ 3. Моделирование квантового выхода вторичных электронов в области L23 краев поглощения Si в условиях зеркального отражения от структуры Si02/Si/Si02.

Основные результаты главы 3.

Глава 4. ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАГНИТНОГО ВКЛАДА В ВОСПРИИМЧИВОСТЬ YFe2 СЛОЯ МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕЗОНАНСНОЙ МАГНИТНОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ.

§ 1. Моделирование кривых зеркального отражения рентгеновского излучения левой и правой круговой поляризации от магнитного слоя.

§ 2. Экспериментальная реализация метода.

§ 3. Результаты анализа полученных экспериментальных данных.

Основные результаты главы 4.

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Физика конденсированного состояния», 01.04.07 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Физика конденсированного состояния», Одинцова, Екатерина Евгеньевна

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ

1. Развита теория и проведена оптимизация алгоритмов расчета кривых ( отражения, выхода вторичного излучения и их асимметрии по поляризации падающего излучения от многослойных магнитоупорядоченных структур.

2. Рассмотрено влияние анизотропии восприимчивости среды на структуру стоячих рентгеновских волн и выход вторичного излучения. Показано, что при поглощении рентгеновского излучения антиферромагнитными структурами круговой дихроизм может наблюдаться в условиях сверхструктурного брэгтовского отражения за счет различия стоячих рентгеновских волн для разных поляризаций падающего излучения.

3. Рассмотрены проявления интерференции магнитного и немагнитного рассеяния на кривых зеркального отражения. Дано объяснение различия формы «магнитных» брэгговских максимумов от многослойной пленки [С0738127 (50 А)/81(30 А)]п, с антиферромагнитным межслойным упорядочением для двух противоположных направлений I намагниченности, наблюдавшееся в [107]. Сделан вывод, что определение характеристик магнитного упорядочения в структуре невозможно без корректной расшифровки электронной структуры.

4. Проведена обработка резонансных спектров выхода вторичных фотоэлектронов для углов скольжения падающего излучения в диапазоне энергий фотонов ЕР1,= 90-106 эВ для углов скольжения 5, 7, 9, 11, 13 15, 17, 19, 21, 25° для образца 8102/8¡/ЭЮо. Показано, что драматическое изменение с углом скольжения спектров поглощения, регистрируемых по выходу вторичных электронов из поверхностного слоя окиси кремния, обусловлено формированием волноводной моды в нижележащем слое 81. Продемонстрировано, что изменение формы резонансных спектров выхода вторичных электронов может использоваться для определения оптических констант слоев.

5. Впервые предложен и реализован метод определения абсолютных значений оптических констант, включая магнитные добавки, по асимметрии кривых отражения по знаку круговой поляризации падающего излучения. Определены абсолютные значения оптических констант иттрия для энергий фотонов вблизи Ь2 и Ь3 краев поглощения иттрия (ЕрЬ=2145-2180 эВ и ЕрЬ=2070-2100 эВ) в результате обработки экспериментальных угловых зависимостей асимметрии отражения для излучения правой и левой круговой поляризации.

6. Создан пакет программ, позволяющий проводить корректную обработку экспериментальных данных для получения детальной информации о структуре исследуемых многослойных объектов: селективный по глубине элементный анализ, уточнение оптических констант отдельных слоев и их магнитных характеристик в резонансных областях вблизи краев поглощения.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Одинцова, Екатерина Евгеньевна, 2011 год

1. Compton A. H.,Alisson S. К. X-rays in theory and experiment. N.Y.: Van Nostrand. 1935. 828 p.

2. Kiessig H. Untersuchungen zur Totalreflexion von Röntgenstrahlen // Ann. Phys. 1931. V. 402. P. 715.

3. Parratt L. G. Surface Studies of Solids by Total Reflection of X-Rays // Physical Review. 1954. V. 95. P. 359.

4. Segmuller A. Observation of X-ray interferences on thin films of amorphous silicon // Thin Solid Films. 1973. V. 18. P. 287.

5. Wagendristel A. An x-ray optical method for the determination of diffusion properties in very thin bimetallic films // Z. Naturforsch. 1975. V. 30a. P. 1618.

6. АндрееваM. А., Борисова С. Ф.,Степанов С. А. Исследования поверхности методом полного отражения излучения рентгеновского диапазона // Поверхность. 1985. Т. 4. С. 5—26.

7. Виноградов А. В., Брытов И. А., ГрудашйА. Я., Коган М. Т., Кожевников И. В.,Слемзин В. А. Зеркальная рентгеновская оптика. Ленинград, Изд-во

8. Машиностроение". 1989. 464 с.

9. Бушу ее В. А., Ломов А. А.,Сутырин А. Г. Восстановление профиляIраспределения плотности приповерхностного слоя в методе рентгеновской рефлектометрии//Кристаллография. 2002. Т. 47. С. 741.

10. Сутырин А. Г.,Имамов Р. М. Метод совместной подгонки кривых рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии с использованием оптимизированного генетического алгоритма // Рентгеновская оптика-2010. (г. Черноголовка, 20-23 сентября 2010). Р. 40.

11. Kozhevnikov L,Pyatakhin М. Use of DWBA and perturbation theory in X-ray control of the surface roughness I I Journal of X-Ray Science and Technology. 1998. V. 8. P. 253.

12. Peverini L., Kozhevnikov I.,Ziegler E. Real-time X-ray reflectometry during thin-film processing // Phys. Stat. Sol. (a). 2007. V. 204. P. 2785.

13. Omote К. High resolution grazing-incidence in-plane x-ray diffraction for measuring the strain of a Si thin layer // Journal of Physics: Condensed Matter. 2010. V. 22. P. 474004.

14. Андреева M. А., Кузьмин P. H. Мессбауэровская и рентгеновская оптика поверхности. М.: Издание общенациональной академии знаний. 1996. 128 с.

15. Бушу ев В. А., Орешко А. П. Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции. М.: Отдел оперативной печати физического факультета МГУ. 2002. 56 с.

16. КовалъчукМ. В., Кон В. Г. Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов // Усп. физ. наук. 1986. Т. 149. С. 69.

17. Бушуев В. А., Кузьмин Р. Н. Вторичные процессы в рентгеновской оптике. М.: Изд-во Моск.ун-та; 1990. 112 с.

18. Bedzyk M. New trends in X-ray standing waves // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 1988. V. 266. P. 679.

19. Bedzyk M. J., Bommarito G. M., Schildkraut J. S. X-ray standing waves at a reflecting mirror surface // Physical Review Letters. 1989. V. 62. P. 1376.

20. Henke B. L. Ultrasoft-X-Ray Reflection, Refraction, and Production of Photoelectrons (100-1000-eV Region) // Physical Review A. 1972. V. 6. P. 94.

21. Соломин И. К,Круглое M. В. II Физика твердого тела. 1984. Т. 26. С. 519.

22. Чумаков А. И., Смирнов Г. В. Mossbauer spectroscopy of conversion electrons: determining the range of depths that can be analyzed by nondestructive depth profiling//ЖЭТФ. 1985. V. 89. P. 1810.

23. Bern S., Bhattacharjee К, Kuri G.,Dev В. N. Probing Atomic Migration in Nanostructured Multilayers: Application of X-Ray Standing Wave Fields // Physical Review Letters. 2007. V. 98. P. 196103.

24. Kortright J. В.,Kim S. Resonant magneto-optical properties of Fe near its 2p levels: Measurement and applications // Physical Review B. 2000. V. 62. P. 12216.

25. Терещенко E. Ю., Желудева С. И.,Махоткин И. А. // Материалы четвертого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)» (Великий Новгород, 2008). С. 212.

26. Gupta A., Kumar D., Meneghini С. Interface structure in magnetic multilayers using x-ray standing waves // Physical Review B. 2007. V. 75. P. 064424.

27. Lee Т., Joumard /., Zegenhagen J., Brandt M.,Schoch V. X-ray standing wave imaging of Mn in GaAs // ESRF Newsletter. 2006. V. 43. P. 18.

28. Ghose S. K, Dev B. N., Gupta A. Resonance enhancement of x-rays and fluorescence yield from marker layers in thin films // Physical Review B. 2001. V. 64. P. 233403.

29. Бушу ев В. А., Рощупкина О. Д. Тонкопленочный рентгеновский волновод на основе многослойной структуры с нанорезонатором // Известия РАН. Сер. физическая. 2008. Т. 72. С. 209.

30. Prudnikov I. К X-ray waveguides based on Bragg scattering of multilayers // Physical Review B. 2003. V. 67. P. 233303.

31. Prudnikov I. R. Resonant x-ray intensity enhancement in a two-layer crystalline heterostructure // Physical Review B. 2002. V. 66. P. 193309.

32. Gupta A., Rajput P., Saraiya A., Reddy V. R, Gupta M., Bernstorff S.,Amenitsch H. Depth profiling of marker layers using x-ray waveguide structures // Physical Review B. 2005. V. 72. P. 075436.

33. ZwanenburgM. J., Bongaerts J. H. H., Peters J. F., Riese D. О:, van der Veen J. F. X-Ray Waveguiding Studies of Ordering Phenomena in Confined Fluids // Physical Review Letters. 2000. V. 85. P. 5154.

34. Jarre A., Salditt Т., Panzner Т., Pietsch U.,Pfeiffer F. White beam x-ray waveguide optics // Applied Physics Letters. 2004. V. 85. P: 161.

35. Hayashi K. Review of the applications of x-ray refraction and the x-ray waveguide phenomenon to estimation of film structures // Journal of Physics-Condensed Matter. 2010. V. 22. P. 474006.

36. Narayanan S., Lee D. R, GuicoR. S., Sinha S. K, Wang J. Real-Time Evolution of the Distribution of Nanoparticles in an Ultrathin-Polymer-Film-Based Waveguide // Physical Review Letters. 2005. V. 94. P. 145504.

37. Sinha S. K., Sirota E. В., Garoff S., Stanley H. B. X-ray and neutron scattering from rough surfaces // Physical Review B. 1988: V. 38; P. 2297.

38. Holy V., Kubena J., Ohlidal I., Lischka K., Plötz W. X-ray reflection from rough layered systems // Physical Review B. 1993. V. 47. P.' 15896.

39. Holy V.,Baumbach T. Nonspecular x-ray reflection from rough multilayers // Physical Review B. 1994. V. 49: P. 10668143.' Афанасьев A. M.,: Александров 77. А., Имамов P. M: Рентгено-дифракционная диагностика субмикронньк слоев. М.: Наука. 1989. 15Г с.

40. Бушуев В. А., Петраков А. П. Особенности формирования спектров трехкристальной рентгеновской дифрактометрии: Учебное; пособие. Сыктывкар, СыктГУ. 1997. 18 с.

41. Andreev А. V., Ponomarev Y. К, Prudnikov I. R.,Salashchenko N. N. X-ray diffiise scattering by multilayer waveguide structures // Physical Review B. 1998. V. 57. P. 13113.

42. Пунегов В. И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах Сыктывкар: ООП СыктГУ. 2007. 218 с.

43. Kozhevnikov I. Analysis of X-ray scattering from a rough multilayer mirror in the first-order perturbation theory // Nuclear Instruments and Methods in Physics

44. Hiroshi O., et al. A grazing incidence small-angle x-ray scattering analysis on capped Ge nanodots in layer structures // Journal of Physics: Condensed Matter. 2010. V. 22. P. 474003.

45. Kozhevnikov I. V., van der Meer R, Basliaens H J. M., Boiler K.-J., Bijkerk F. High-resolution, high-reflectivity operation of lamellar multilayer amplitude gratings: identification of the single-order regime // Opt. Express. 2010. V. 18. P. 16236.

46. Пунегов В. И., Нестерец Я. И., Мытниченко С. В., Коваленко Н. В., Чернов В. А. Рассеяние жесткого синхротронного излучения от неидеальной поверхностной решетки из многослойных рентгеновских зеркал // Поверхность. 2003. Т. 1. С. 58.

47. Ponomarev Y V., Palkin А. В., Savel'ev А. В., Salashenko N. N. ReflEXAFS spectroscopy of thin Fe/Sc multilayers // Journal of x-ray science and technology. 1995. V. 5. P. 379.

48. Bai J., Fullerton E. E., Montano P. A. Resonant X-ray reflectivity study of Fe/Cr superlattices // Physica B: Condensed Matter. 1996. V. 221. P. 411.

49. Filatova E., Lukyanov V., Barchewitz R, André J. M., Idir M.,Stemmler P. Optical constants of amorphous for photons in the range of 60-3000 eV // Journal of Physics: Condensed Matter. 1999. V. 11. P. 3355.

50. BjörckM., Andersson G., Lindgren В., Wäppling R, Stanciu V., Nordblad P. Element-specific magnetic moment profile in BCC Fe/Со superlattices // Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2004. V. 284. P. 273.

51. Matsushita T., Inada Y, Niwa Y., Ishii M, Sakurai K., Nomura M. Curved crystal X-ray optics for a new type of high speed, multiwavelength dispersive X-ray reflectometer// Journal of Physics: Conference Series. 2007. V. 83. P. 012021.

52. Matsushita T., Niwa Y, Inada Y., Nomura M., Ishii M:, Sakurai K., Arakawa E. High-speed x-ray reflectometory in multiwavelength-dispersive mode // Applied Physics Letters. 2008. V. 92. P. 024103.

53. Mertins H. C., Valencia S., Abramsohn D., Gaupp A., Gudat W., Oppeneer P. M. X-ray Kerr rotation and ellipticity spectra at the 2p edges of Fe, Co, and Ni, // Physical Review B. 2004. V. 69. P. 064407.

54. Mertins H.-C., Schäfers F., Le CannX., Gaupp A., Gudat W. Faraday rotation at the 2p edges of Fe, Co, and Ni // Physical Review B. 2000. V. 61. P. R874.

55. Kortright J. В., Rice M.,Carr R. Soft-x-ray Faraday rotation at Fe U>ß edges // Physical Review B. 1995. V. 51. P. 10240.

56. Mertins H. C., Oppeneer P. M., Kunescaron J., Gaupp A., Abramsohn D., Schäfers F. Observation of the X-Ray Magneto-Optical Voigt Effect // Physical Review Letters. 2001. V. 87. P. 047401.

57. Овчинников С. Г. Использование синхротронного излучения для исследования магнитных материалов // Успехи физических наук. 1999. Т. 169. С. 869.

58. Mertins H.-C., Valencia S., Gaupp A., Gudat W., Oppeneer P. M., Schneider C. M Magneto-optical polarization spectroscopy with soft X-rays // Applied Physics A. 2005. V. 80. P. 1011.

59. Sacchi M. Resonant magnetic scattering of polarized soft x-rays // Rassegna scientifica. 1999. V. 4. P. 3.

60. Jaouen N., van der Laan G., Johal T. K, Wilhelm F, Rogalev A., Mylonas S., Ortega L. Oscillatory behavior of 5d magnetic moments in Fe/W multilayers // Physical Review B. 2004. V. 70. P. 094417.

61. Kim S.-K.,Kortright J. B. Modified Magnetism at a Buried Co/Pd Interface Resolved with X-Ray Standing Waves // Phys. Rev. Lett. 2001. V. 86. P. 1347.

62. Geissler J., Goering E., Justen M., Weigand F., Schrjtz G., LangerJ., Schmitz D., Maletta H. ,Mattheis R Pt magnetization profile in a Pt/Co bilayer studied by resonant magnetic x-ray reflectometry // Physical Review B. 2001. V. 65. P. 020405.

63. Ishimatsu N., Hashizume H., Hamada S., Hosoito N., Nelson C. S., Venkataraman C. T., Srajer G., Lang J. C. Magnetic structure of Fe/Gd multilayers determined by resonant x-ray magnetic scattering//Phys. Rev. B. 1999. V.60. P.9596.

64. Bergmann A., Grabis J., Nefedov A., Westerholt K,Zabel H. X-ray resonant magnetic scattering study of Co2MnGe/Au]„ and [Co2MnGe/V]„ multilayers // Journal of Physics D: Applied Physics. 2006. V. 39. P. 842.

65. Bruck S., Schutz G., Goering E., Ji X., Krishnan K. Uncompensated Moments in the MnPd/Fe Exchange Bias System// Phys. Rev. Lett. 2008. V. 101. P. 126402.

66. Kozhevnikov I., Montcalm C. Design of X-ray multilayer mirrors with maximal integral efficiency // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 2010. V. 624. P. 192.

67. Мог awe C, Ziegler E., Peffen J.,Kozhevnikov I. Design and fabrication of depth-graded X-ray multilayers // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 2002. V. 493. P. 189.

68. YakshinA. E., Kozhevnikov I. V., Zoethout E., Louis E.,Bijkerk F. Properties of broadband depth-graded multilayer mirrors for EUV optical systems // Opt. Express. 2010. V. 18. P. 6957.

69. Zak J., Moog E. R., Liu C.,Bader S. D. Magneto-optics of multilayers with arbitrary magnetization directions // Physical Review B. 1991. V. 43. P. 6423.

70. Stepanov S. A., Sinha S. K. X-ray resonant reflection from magnetic multilayers: Recursion matrix algorithm// Physical Review B. 2000. V. 61. P. 15302.

71. Андреева M. А., Смехова А. Г. Анализ спектров резонансного магнитного рассеяния рентгеновских лучей от магнитных многослойных структур // Поверхность. 2006. Т. 2. С. 83.

72. Барковский Л. М., Борздов Г. И., Федоров Ф. И. Волновые операторы в оптике. Препринт № 304. 1983. 45 с.

73. Смехова А. Г., Андреева М. А. О применимости правила сумм в рефлектометрии резонансного рентгеновского излучения для исследования магнитных мультислоев // Известия РАН. сер. физическая. 2005. Т. 69. С. 259.

74. Thole В. T., Carra P., Seite F., van der Laan G. X-ray circular dichroism as a probe of orbital magnetization// Physical Review Letters. 1992. Y. 68. P. 1943.

75. Carra P., Thole В. T., Altarelli M., WangX. X-ray circular dichroism and local magnetic fields // Physical Review Letters. 1993. V. 70. P. 694.

76. Andreeva M, Smekhova A. Theoretical analysis of the spectra of X-ray resonant magnetic reflectivity // Applied Surface Science. 2006. V. 252. P. 5619.

77. Аззам P., Башара H. Эллипсометрия и поляризованный свет. (под. ред. Ржанова А. В.,Свиташева К. К.). М.: Мир. 1981. 583.

78. Борздов Г. H., Борковский Л. М., Лаврукович В. И. Тензорный импеданс и преобразование световых пучков системами анизотропных слоев. II. Косое падение. // Журнал Прикладной Спектроскопии. 1976. Т. 25. С. 526

79. Анго А. Математика для электро и радиоинженеров, (под. ред. Шифрина К. С.). М.: Наука. 1965. 779 с.

80. Андреева М. А.,Росете К. Теория отражения от мессбауэровского зеркала. Учет послойных изменений параметров СТВ вблизи поверхности. // Вестн. Моск. ун-та, сер.З.: физика, асторон. 1986. Т. 27. С. 57.

81. Pleshanov N. К. Neutrons at the boundary of magnetic media I ! Zeitschrift fur Physik В Condensed Matter. 1994. V. 94. P. 233.

82. Rühm A., TopervergB. P.,Dosch H. Supermatrix approach to polarized neutron reflectivity from arbitrary spin structures // Physical Review B. 1999. V. 60. P. 16073.

83. AndreevaM. A. T-MOKE for nuclear resonant reflectivity // Journal of Physics: Conference Series. 2010. V. 217. P. 012013.

84. Kunes J.,Oppeneer P. M Anisotropic x-ray magnetic linear dichroism at the Ij2;3 edges of cubic Fe, Co, and Ni: Ab-initio calculations and model theory // Physical Review B. 2003. V. 67. P. 024431.

85. Hecker M., Valencia S., Oppeneer P. M., Mertins H.-Ch., Schneider С. M. Polarized soft-x-ray reflection spectroscopy of giant magnetoresistive Co/Cu multilayers // Physical Review B. 2005. V. 72. P. 054437.

86. SacchiM., Hague C., Gullikson E., Underwood J. Resonant magnetic scattering of polarized soft x rays: Specular reflectivity and Bragg diffraction from multilayers // Physical Review B. 1998. V. 57. P. 108.

87. Sacchi M, Hague C., Pasquali L., Mirone A., Mariot J., Is berg P., Gullikson E., Underwood J. Optical Constants of Ferromagnetic Iron via 2p Resonant Magnetic Scattering//Physical Review Letters. 1998. V. 81. P. 1521.

88. Kohn V. G. On the Theory of Reflectivity by an X-Ray Multilayer Mirror // Phys. Stat. Sol. (b). 1995. V. 187. P. 61.

89. Rosenbluth A.,Lee P. Bragg condition in absorbing x-ray multilayers // Applied Physics Letters. 1982. V. 40. P. 466.110. http://kftt.phvs.msu.ru/personalii/Andreeva/XRMR.zip.

90. ЧуевМ. А., Субботин И. А., Пашаев Э. M., Квардаков В. В., Аронзон Б. А. Фазовые соотношения в анализе кривых рентгеновской рефлектометрии от сверхрешеток//ПисьмаЖЭТФ. 2007. Т. 85. С. 21.112. http://kftt.phys.msu.ru/index.php?page= Odintsova.

91. AndreevaM. A., Monina N. G., Hdggstrijm L., Lindgren В., Kalska В., Kamali-M S., Vdovichev S. N., Salashchenko N. N., Semenov V. G., Leupold O., Ruffer R• 57

92. Irkaev S., Semenov V., Panchuk V., Makarov N. Multipurpose spectrometer TERLAB for depth selective investigation of surface and multilayer // Hyperfine Interactions. 2006. V. 167. P. 861.

93. Andreeva M. A., Belozerskii G. N, Irkaev S. M., Semenov V. G., Sokolov,Shumilova N. V. Investigation of thin oxide 57Fe films by Mossbauer total external reflection// Phys. Stat. Sol. (A). 1991. V. 127. P. 455.

94. Домашевская Э. П., Терехов В. А., Турищев С. Ю. Интерференция синхротронного излучения перед краем поглощения кремния в структурах "кремний на изоляторе" // Тезисы докладов конференции РСНЭ-НБИК. Р. 119.

95. Kasrai М. Sampling depth of total electron and fluorescence measurements in Si L- and K-edge absorption spectroscopy// Appl. Surf. Sci. 1996. V. 99. P. 303.120. www.esrf.eu/computing/scientific/xop2.1/.

96. Windt D. XUV optical constants of single-crystal GaAs and sputtered C, Si, Cr3C2, Mo, and W//Appl. Opt. 1991. V. 30. P. 15.

97. Tripathi P., Lodha G. S., ModiM. H., SinhaA. K., Sawhney K. J. S., Nandedkar R V. Optical constants of silicon and silicon dioxide using soft X-ray reflectance measurements// Optics Communications.2002. V. 211. P. 215.

98. Lengeler В. H Resonant Anomalous X-ray Scattering, Theory and Applications (edited by Materlik G., Sparks C. J.,Fischer K.). New York: Elsevier. 1994. P. 35.

99. Blake R L., Davis J. C., Graessle D. E.,et. a. II Resonant Anomalous X-ray Scattering, Theory and Applications (edited by Materlik G., Sparks C. J.,Fischer K.). New York: Elsevier. 1994. P. 79.

100. Peters J. F., Miguel J., de Vries M. A., Toulemonde O. M., Goedkoop J. B., Dhesi S. S.,Brookes N. B. Soft x-ray resonant magneto-optical constants at the Gd M4,5 and Fe U,3 edges // Physical Review B. 2004. V. 70. P. 224417.

101. Prieto J. E., Heigl F., Krupin O., Kaindl G.,Starke K. Magneto-optics of Gd and Tb in the soft x-ray resonance regions // Phys. Rev. B. 2003. V. 68. P. 134453.

102. Höchst H. M2,3 magnetic circular dichroism (MCD) measurements of Fe, Co and Ni using a newly developed quadruple reflection phase shifter // Surface Science. 1996. V. 352-354. P. 998.

103. Höchst H., Rioux D., Zhao D.,Huber D. Magnetic linear dichroism effects in reflection spectroscopy: A case study at the Fe M2,3 edge // Journal of Applied Physics. 1997. V. 81. P. 7584.

104. Merlins H.-C., Schäfers F., LeCannX., Gaupp A.,Gudat W. Faraday rotation at the 2p edges of Fe, Co, and Ni // Physical Review B. 2000. V. 61. P. R874.

105. Kunes J., Oppeneer P. M., Mertins H.-C., Schäfers F., Gaupp A., Gudat W, Novak P. X-ray Faraday effect at the L2,3 edges of Fe, Co, and Ni: Theory and experiment // Physical Review B. 2001. V. 64. P. 174417.

106. Seve L., Tonnerre J. M.,Raoux D. Determination of the Anomalous Scattering Factors in the Soft-X-ray Range using Diffraction from a Multilayer // J. Appl. Cryst. 1998. V. 31. P. 700.

107. Dumesnil K., Dutheil M., Dufour C.,Mangin P. Spring magnet behavior in DyFe2/YFe2 Laves phases superlattices // Physical Review B. 2000. V. 62. P. 1136.

108. Dumesnil K., Fernandez S., Avisou A., Dufour C., Rogalev A., Wilhelm F., Snoeck E. Temperature and thickness dependence of the magnetization reversal in DyFe2/YFe2 exchange-coupled superlattices // Eur. Phys. J. B. 2009. V. 72. P. 159.

109. Paolasini L., Hennion В., Panchula A., Myers K.,Canfield P. Lattice dynamics of cubic Laves phase ferromagnets // Physical Review B. 1998. V. 58. P. 12125.

110. Кон В. Г. К теории зеркального отражения рентгеновских лучей многослойными зеркалами. II. Точно решаемые модели переходного слоя // Поверхность. 2003. Т. 2. С. 62.

111. Segmuller А. II International conference "Modulated structures". (New York, 1979). P. 78.

112. Press W. #., Teukolsky S., Vetterling W., Flannery B. Numerical Recipes in Fortran 77. The Art of Scientific Computing, 2nd Edition. Cambridge University press. 1992. 933.1. СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ АВТОРА

113. А1. Одинцова Е.Е., АндрееваМ.А., Анализ применимости приближенных методов в теории рентгеновского отражения от магнитных мультислоев // Поверхность. 2010. №11. С.46-56.

114. А2. Одинцова Е.Е., Андреева МЛ., Анализ применимости приближенных методов в теории рентгеновского отражения от магнитных мультислоев // Тезисы докладов VII национальной конференции РСНЭ-НБИК (Москва, 2009). С. 503

115. АЗ. Андреева М.А., Одшщова Е.Е., Влияние малых магнитных добавок к восприимчивости на угловые зависимости отражения рентгеновского поляризованного излучения от многослойных структур // Письма ЖЭТФ. 2011. Т.93. С. 78-82.

116. All.Андреева М.А., Одинцова Е. Е., Семёнов В. Г., Иркаев С. М., Панчук В. В., Флуоресцентный анализ мультислойной структуры* Zr(10 hm)/Fe(1.6 нм)/ Сг(1.7 нм)]2б/Сг(50 нм)/стекло в скользящей геометрии // Поверхность. 2008. Т.7. С. 60-65.

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.