Фотокатод для диагностики имульсной плазмы с фемтосекундным разрешением тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.08, кандидат физико-математических наук Горлов, Тимофей Валерьевич

  • Горлов, Тимофей Валерьевич
  • кандидат физико-математических науккандидат физико-математических наук
  • 2007, Москва
  • Специальность ВАК РФ01.04.08
  • Количество страниц 114
Горлов, Тимофей Валерьевич. Фотокатод для диагностики имульсной плазмы с фемтосекундным разрешением: дис. кандидат физико-математических наук: 01.04.08 - Физика плазмы. Москва. 2007. 114 с.

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Горлов, Тимофей Валерьевич

ФОТОКАТОД ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ИМПУЛЬСНОЙ ПЛАЗМЫ.

С ФЕМТОСЕКУНДНЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ.

ВВЕДЕНИЕ.

1. ОБЗОР ФОТОХРОНОГРАФОВ.

1.1 Фотохронографы со старым принципом работы.

1.2 Факторы, влияющие на временное разрешение фотохронографов.

1.3 Фотохронограф нового поколения с временным разрешением 10 фс.

1.4 Выводы и постановка задачи для диссертационной работы.

2.1 Общий метод математического моделирования микрорельефных поверхностей.

2.2 Математическое моделирование микрорельефных поверхностей, относящихся к классу реалистичных поверхностей.

2.3 Выбор параметров N¡ и О)о при моделировании микрорельефа.

3. ВЫСОКОТОЧНОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ КВАЗИЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОГО ПОЛЯ ВБЛИЗИ МИКРОРЕЛЬЕФНОЙ ПОВЕРХНОСТИ ФОТОКАТОДА.

3.1 Введение.

3.2 Общий метод определения поля для произвольной микрорельефной поверхности.

3.3 Разработка аналитического метода расчета поля.

3.4 Определение поля вблизи микрорельефной поверхности с малым параметром <jtga.

3.5 Затухание возмущения электростатического поля на удалении от микрорельефа. Расчет поля ускоряющего зазора сферической конфигурации с учетом микрорельефа сферического фотокатода.

3.6 Особенности метода расчета поля и испытание компьютерного кода.

3.7 Сравнение данного аналитического метода с коммерческим кодом для расчета электростатического поля.

4. ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ФОТКАТОДА НА ВРЕМЕННОЕ РАЗРЕШЕНИЕ ФОТОХРОНОГРАФА ФЕМТОСЕКУНДНОГО РАЗРЕШЕНИЯ.

5. РАЗРАБОТКА И РЕАЛИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОКАТОДА ДЛЯ ФОТОХРОНОГРАФА ФЕМТОСЕКУНДНОГО РАЗРЕШЕНИЯ.

5.1 Введение.

5.2 Получение конической заготовки для фотокатода при помощи электрохимической анодной обработки металла.

5.3 Способ изготовления фотокатода методом электрохимической размерной обработки металлов.

5.4 Способ изготовления фотокатода плазменно-разрядным методом.

5.5 Теория процессов протекающих при изготовлении сферической части фотокатода плазменным способом.

5.6 Покрытие сферической части фотокатода золотом и достижение необходимой шероховатости поверхности фото катода.

ВЫВОДЫ.

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Физика плазмы», 01.04.08 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Фотокатод для диагностики имульсной плазмы с фемтосекундным разрешением»

В начале 60-х годов появилась идея управляемого лазерного термоядерного синтеза. Ключевую роль в физике высокотемпературной плазмы и проблеме поведения вещества в экстремальном состоянии играют сверхмощные лазерные системы. За последние 30 лет наблюдался устойчивый прогресс в понимании условий, при которых может быть достигнуто зажигание инерциального термоядерного синтеза при возможно меньшей энергии управления. За последние 20 лет этот процесс ускорился благодаря развитию технических возможностей теории, вычислительной техники и развитию больших лазеров. Большими лазерными установками в мире, на которых проводятся такие эксперименты, являются Omega и NIF в США, Gekko в Японии, Phebus и LMJ во Франции, Helen и Vulcan в Англии, а также установка ИСКРА 5 (ИСКРА 6) в России.

Недавнее развитие сверхмощных лазеров фемтосекундной длительности импульса открыло новую эру исследований взаимодействия лазерного излучения с веществом. Фемтосекундные лазерные системы, обладая малой длительностью светового импульса (10-1000 фс), обеспечивают пиковую мощность вплоть до 1 ПВт. Первая петаваттная лазерная система появилась в США в 1998 году. При фокусировке лазерного излучения в пятно диаметром порядка 10 мкм такие лазеры дают возможность получить интенсивность вплоть до

21 2

10 Вт/см . Энергия импульса в одном импульсе может составлять до 1 кДж. Достижение петаваттного уровня мощности основано на применении принципа усиления растянутых во времени частотно-модулированных лазерных импульсов в традиционных широкоапертурных усилителях и их последующем сжатии до длительностей в несколько сот фемтосекунд на системе дифракционных решеток. Дальнейшее продвижение в направлении увеличения мощности на этом пути ограничено сравнительно узкой полосой усиления света в неодимовом стекле. В связи с этим активно обсуждаются и исследуются альтернативные возможности преодоления петаваттного барьера с использованием более широкополосных усилительных систем. Переход к импульсному лазерному излучению фемтосекундной длительности и петаваттной пиковой мощности является достаточным условием для ускорения электронов плазмы до энергий, необходимых для прямого инициирования целого спектра ядерных процессов: возбуждения ядерных уровней, термоядерных реакций, реакций деления и наработки нестабильных изотопов, генерации ультракоротких импульсов и.т.д. Таблица 1 дает краткий обзор построенных в мире лазеров данного типа.

Таблица 1. Обзор параметров сверхмощных лазеров с фемтосекундной длительностью импульса.

Организация Страна Мощность Тип лазера Длительность Энергия

LLNL USA 1 PW Nd:glass 500 fs 500 J

RAL UK 1PW Nd: glass 600 fs 600 J

JAERI Japan 850 TW Ti:sapphire 20 fs 17 J

ILE Japan 700 TW Nd:glass 700 fs 350 J

MBI Germany 100 TW Ti: sapphire 50 fs 5 J

LLNL USA 100 TW Ti: sapphire 100 fs 10J

LULI France 100 TW Nd:glass 300 fs 30 J

LOA France 100 TW Ti: sapphire 25 fs 2.5 J

ILE Japan 60 TW Nd:glass 500 fs 30 J

Lund Sweden 35 TW Ti:sapphire 35 fs 1.2 J

FOCUS USA 30 TW Ti:sapphire 32 fs 1 J

Texas USA 21 TW Ti: sapphire 35 fs 0.75 J

LBNL USA 18 TW Ti:sapphire 40 fs 0.7 J

Jena Germany 17 TW Ti:sapphire 60 fs 1 J

Ibaraki Japan 12 TW Ti: sapphire 50 fs 0.6 J

CREOL USA 13 TW CnLiSAF 75 fs 1 J

CUOS USA 10 TW Nd:glass 400 fs 4 J

NRL USA 10 TW Nd:glass 500 fs 5 J

ILE Japan 10 TW Ti:sapphire 100 fs 1 J

RAL UK 10 TW Ti:sapphire 50 fs 0.5 J

Soreq Israel 10 TW Ti: sapphire 45 fs 0.45 J

Garching Germany 10 TW Ti: sapphire 100 fs 1 J

В России существует проект, связанный с построением сверхмощной петаваттной лазерной системы и проведением экспериментов по исследованию импульсной плазмы. На стадии изготовления лазерной системы проект выполняется в сотрудничестве ВНИИЭФ (г.Саров) и ИПФ РАН и включает 3 этапа работ.

На первом этапе (завершен в 2003 году) в ИПФ РАН создан параметрический усилительный комплекс тераваттного уровня мощности, позволяющий получать импульсы с длительностью около 70 фс, энергией более 30 мДж и частотой повторения 2Гц. Аналогичный комплекс был поставлен в ВНИИЭФ в первой половине 2004 г.

В 2005 г. завершен второй этап работ в ИПФ РАН по созданию лазерного комплекса 200 ТВт-ного уровня мощности на основе нелинейных кристаллов с апертурой 10x10 см и нового лазера накачки с энергией в импульсе до 75 Дж на второй гармонике. Аналогичный каскад усиления будет поставлен в ВНИИЭФ.

Третий этап работ по созданию оконченного мультипетаваттного усилительного каскада был выполнен в ВНИИЭФ при участии специалистов ИПФ РАН в 2006 г. Для получения лазерного импульса с рекордной мощностью был использован уникальный широкоапертурный кристалл 01ШР с апертурой 30x30 см . В качестве накачки для параметрического усиления использовано излучение одного из каналов установки "Луч" с энергией до 1 КДж на удвоенной частоте и длительностью импульса около 1 не. Это позволяет получить выходной импульс лазерного излучения с мощностью более 100 Дж и длительностью около 50 фс. При фокусировке такого импульса в вакуумной камере на мишени может быть достигнута интенсивность до 10 Вт/см .

В настоящее время экспериментально достигнут 200 тераваттный уровень пиковой мощности с помощью предложенной ранее архитектуры мощных фемтосекундных лазеров. Расчеты показывают, что для достижения мультипетаваттной мощности необходим еще один параметрический усилитель с апертурой 200-300 мм и с энергией импульса накачки 1-2 кДж на длине волны 527 нм. Кристалл БЫ)Р для такого усилителя уже выращен в ИПФ РАН, а лазер накачки существует в РФЯЦ-ВНИИЭФ (г. Саров) - один из каналов мощной установки на неодимовом фосфатном стекле "Луч". В настоящее время ведутся работы по созданию на этой базе мультипетаваттного лазерного источника.

Если такое лазерное излучение сфокусировать на твердое вещество, то образуется плазма с уникальными свойствами. Напряженность электрического поля такого излучения может превышать напряженность поля внутри атома водорода на несколько порядков. Электроны и ионы начинают ускоряться в сильном поле лазерного излучения до энергий в диапазоне от 1 кэВ до нескольких МэВ. В таких условиях, теория предсказывает большой волновой удар без длительного прогрева материала, свойственного долговременному облучению мишени [1]. Далее, теория указывает на возникновение волны давления вплоть до гигабар пикосекундной длительности [2,3]. Это дает возможность исследования вещества в экстремальном состоянии близком к условиям возникновения инерциального термоядерного синтеза в малых лабораторных масштабах проведения эксперимента. Взаимодействие частиц высокой энергии с холодным веществом, которым является твердая мишень, производит интенсивное излучение рентгена.

Рентгеновское излучение является одним из наиболее информативных источников о процессах, происходящих в лазерной высокотемпературной плазме при исследованиях, в частности, по проблемным вопросам инерционного термоядерного синтеза и другим смежным вопросам. В этом случае особую ценность представляют фотохронографические методики его регистрации. Фотохронограф - это прибор для временной регистрации излучения. В современных исследованиях, например, в экспериментах [4,5,6,7] длительность рентгеновского излучения составляет порядка длительности лазерного импульса и равна менее 1 пс. При исследовании плазмы с такими характеристиками требуется фотохронограф фемтосекундного разрешения.

К сожалению, на данный момент временное разрешение фотохронографов в диапазоне измерений мягкого рентгена равно 0.9 пс при использовании фотокатода из золота [8]. В диапазоне видимого света разрешение равно 200-300 фс [9].

В работе [10] изложены новые принципы построения данных измерителей, позволяющие получить для того же материала фотокатода разрешение около 10 фс при числе частиц в фотоэлектронном сгустке не менее 1000, что особенно важно при регистрации одиночных импульсов. Ключевым элементом такого фотохронографа является принципиально новый фотокатод сферической конфигурации радиусом 10. 100 мкм. Так как фотокатод такой геометрической конфигурации является принципиально новым, то он требует отдельной разработки технологии его изготовления. Расчетное временное разрешение фотохронографа получено в предположении абсолютно гладкой поверхности фотокатода. При рассмотрении реальных поверхностей всегда присутствует шероховатость поверхности, которая будет влиять на динамику фотоэлектронов, стартующих с его поверхности и, в конечном счете, ухудшать разрешение прибора. Вопрос о влиянии шероховатости на характеристики фотоэлектронного пучка также не был рассмотрен ранее и требует отдельного теоретического исследования.

Цель работы заключалась:

1) в расчетно-теоретическом исследовании влияния шероховатости поверхности фотокатода на временное разрешение фотохронографа фемтосекундного разрешения,

2) в разработке и реализации технологии изготовления фотокатода для фотохронографа фемтосекундного разрешения.

Научная и практическая значимость работы:

Разработанная методика исследования влияния шероховатости поверхности фотокатода на фотоэлектронный пучок, а также написанные компьютерные коды, реализующие этот метод, могут быть использованы для расчета конкретных фотоэлектронных пушек и других приборов с учетом шероховатости фотокатода. Из расчетов можно получить допуски шероховатости фотокатода, необходимые для работы приборов.

Фотокатод, изготовленный по разработанной технологии, будет использован в качестве ключевого элемента фотохронографа фемтосекундного разрешения. Разработанный принципиально новый фотокатод сферической конфигурации также может быть использован для создания фотоэлектронной пушки с предельной яркостью пучка [11].

Научная новизна, по мнению автора, заключается в следующем:

1. Впервые рассмотрена задача влияния шероховатости фотокатода на временное разрешение фотохронографа фемтосекундного разрешения, из которой получены допуски шероховатости, необходимые для достижения требуемого разрешения фотохронографа.

2. Разработана и реализована технология изготовления металлического фотокатода для фотохронографа фемтосекундного разрешения.

3. Разработана и реализована технология достижения требуемой шероховатости поверхности фотокатода.

На защиту выносятся следующие результаты:

1. метод математического моделирования микрорельефных поверхностей, относящихся к классу реалистичных поверхностей, описываемых всего двумя параметрами - среднеквадратическими ординатой и наклоном микрорельефа;

2. высокоточный метод расчета электростатического поля вблизи микрорельефной поверхности фотокатода, позволяющий вычислять поле для класса реальных поверхностей с более высокой точностью, чем доступные коммерческие программы; результаты расчетов зависимости разрешения фотохронографа от шероховатости поверхности фотокатода с определением допусков на шероховатость, при которых фотохронограф достигает фемтосекундного разрешения; технология изготовления металлического фотокатода для фотохронографа фемтосекундного разрешения;

Основные результаты представленных в диссертации исследований докладывались на:

10-й Европейской конференции по ускорительной физике ЕРАС06 (Эдинбург, 2006);

8-й Европейской конференции по диагностике в ускорительной физике DIPAC07 (Венеция, 2007);

11-й всероссийской конференции по диагностике высокотемпературной плазмы (Звенигород, 2005); научных конференциях МИФИ (2004, 2005, 2006).

По теме диссертации опубликовано 9 работ.

Горлов Т. В. //Влияние шероховатости фотокатода на временное разрешение фотохронографа фемтосекундного разрешения. - Вопросы атомной науки и техники. Сер. термоядерный синтез, 2007, вып. 1 с. 55—66. (Статья поступила в редакцию 10 ноября 2006 года) Gorlov Т. "High-Precision Calculation of Quasistatic Field near a Photocathode Surface Microrelief', Journal of Electrostatics, 65 (2007), p. 735-741.

Tron A. M., Gorlov T. Photocathode roughness impact on photogun beam characteristics. — Proc. Of EPAC, Edinburgh, Scotland, 2006, p. 121-123.

4. Tron A. M., Merinov I. G., Gorlov T. New generation streak camera desighn and investigation—Proc. Of EPAC, Edinburgh, Scotland, 2006, p. 1175—1177.

5. Tron A. M. Gorlov Т., New type photocathode for x-ray streak camera of the 10-fs resolution.-Proc. of DIPAC, Venice, Italy, 2007.

6. Горлов Т. В., Давыдов А. Д., Тронь А. М. //Технологии изготовления и контроля игольчатого фотокатода рентгеновского хронографа фемтосекундного разрешения // Сб. науч. тр.: В 13 т. М: МИФИ-2004. Т.4. С. 62-63.

7. Горлов Т. В., Тронь А. М. //Определение поля вблизи микрорельефной поверхности фотокатода. XI Всероссийская конференция "Диагностика высокотемпературной плазмы", Звенигород, с. 112-114., 2005г.

8. Горлов Т. В., Тронь А. М. //Влияние микрорельефа фотокатода на работу приборов с фемтосекундными характеристиками // Сб. науч. тр.: В 13 т. М: МИФИ-2005. Т.4. С. 88-89.

9. Горлов Т. В., Тронь А. М. //Численное моделирование динамики фотоэлектронов с учетом микрорельефной поверхности фотокатода// Сб. науч. тр.: В 13 т. М: МИФИ-2006. Т.4. С. 106-108.

1.

ОБЗОР ФОТОХРОНОГРАФОВ

Похожие диссертационные работы по специальности «Физика плазмы», 01.04.08 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Физика плазмы», Горлов, Тимофей Валерьевич

Основные результаты диссертации могут быть сформулированы следующим образом.

1. Разработан простой метод моделирования микрорельефных поверхностей, относящихся к классу реальных. Показано, что данный класс поверхностей можно описать двумя параметрами в соответствии с ГОСТ - это среднеквадратические величины ординаты поверхности и производной ординаты поверхности.

2. Разработан аналитический метод расчета поля вблизи микрорельефных поверхностей, на порядки превосходящий по точности доступные коммерческие программы, основанные на МКЭ методе.

3. Показано, что микровозмущение поля при параметрах шероховатости 100 нм и менее распространяется на расстояние не более 1 мкм от поверхности.

4. Показано, что для получения временного разрешения 20 фс в области измерения мягкого рентгена шероховатость сферической части фотокатода фотохронографа должна быть не хуже 10 нм.

5. На основе современных технологий из разных областей науки, где ключевой является плазменная технология, разработана и осуществлена технология изготовления фотокатода сферической формы высокоточной геометрии. Диаметр сферической части фотокатода контролируется с точностью 1 мкм.

6. Разработан один из методов получения необходимой шероховатости поверхности Я9=10 нм сферической части фотокатода, при которой фотохронограф способен достичь разрешения 20 фс.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Горлов, Тимофей Валерьевич, 2007 год

1. Ya. B. Zel'dovich and Yu. P. Raizer, "Physics of Shock Waves and High-Temperature Hydrodynamic Phenomena" (Academic Press, New York, 1967).

2. V. E. Gusevj Phys. Vibr. 57, 1 (1993).

3. A. Ng, A. Forsman, and P. Celliers, Phys. Rev. E 51, R5208 (1995).

4. H. Hamster, A. Sullivan, S. Gordon, W. White, and R. W. Falcone, "Subpicosecond, electromagnetic pulses from intense laser-plasma interaction", Phys. Rev. Lett. vol. 71, pp. 2725-2728,1993.

5. J. J. Macklin, J. D. Kmetec, and C. L. Gordon, "High-order harmonic generation using intense femtosecond pulses," Phys. Rev. Lett. 70, 766 (1993).

6. M. M. Murnane, H. C. Kapteyn, M. D. Rosen, and R. W. Falcone, Science 251,531 (1991).

7. J. D. Kmetec, C. L. Gordon, J. J. Macklin, B. F. Lemoff, G. S. Brown, and S. E. Harris, Phys. Rev. Lett. 68,1527 (1992).

8. Z. Chang et al., Proc. ofSPIE2№ (1998) 971.

9. M.Ya. Schelev, Physics Uspekhi 43, 9 (2000) 931.

10. A. M. Tron, "New principles in Photochronography of Femtosecond Resolution", Proc. ofSPIE494S (2003) 141.

11. Tron A.M. Klystron-type photoelectron gun designs for femtosecond electron diffractometer // Proc. of SPIE, 2005. Vol. 5580. P. 700-709.

12. M.Ya. Schelev, Physics Uspekhi 43, 9 (2000) 931.

13. B.K.Scheidt,"Review of Streak Cameras for Accelerators: Features, Applications and Results", EPAC2000, Vienna, 2000

14. D.Giulietti and L.A.Gizzi,X-ray emission from laser-produced plasmas , La Rivista del Nuovo Cimento 21, 1 (1998).

15. K.Scheidt, G.Naylor "500fs Streak Camera in lKHz accumulation mode with optical -jitter-freesynchronization",

16. Z.Chang et al, "Demonstration of sub-picosec X-Ray Streak Camera", Appl. Phys. Lett. 69(1) July 1996.

17. A.M. Tron, I.G. Merinov, "Method of Bunch Radiation Photochronography with 10 Femtosecond and Less Resolution", Proc. of the PAHBEB2005 Conf., Arice, Italy, Octorber 2005.

18. M. Krasilnikov, "Impact of the cathode roughness on the emittance of an electron beam", FEL 2006, Berlin, Aug.2006, pp. 583-586.

19. Y. Lau, "Effects of cathode roughness on the quality of electron beams", J. Appl. Phys 61(1), Jan. 1987.

20. M.D. Nijkerka, P. Kruit, Influence of surface roughness on space charge limited emission, Appl. Sur. Sci. 233 (2004) 172-179.

21. A. M. Mandy, H.I. Anis, S. A. Ward, "Electrode roughness effects on the breakdown of air-insulatedapparatus", IEEE Trans, on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 5, No. 4, pp. 612-617, Aug. 1998.

22. Горлов Т. В. //Влияние шероховатости фотокатода на временное разрешение фотохронографа фемтосекундного разрешения. -Вопросы атомной науки и техники. Сер. термоядерный синтез, 2007, вып. 1 с. 55—6.

23. Tron A. M., Gorlov T. Photocathode roughness impact on photogun beam characteristics. — Proc. Of EPAC, Edinburgh, Scotland, 2006, p. 121-123.

24. Gorlov T. "High-Precision Calculation of Quasistatic Field near a Photocathode Surface Microrelief', Journal of Electrostatics, 65 (2007).

25. Горлов Т. В., Тронь A. M. //Определение поля вблизи микрорельефной поверхности фотокатода. XI Всероссийская конференция "Диагностика высокотемпературной плазмы", Звенигород, с. 112-114., 2005г.

26. Tron A. M., Merinov I. G., Gorlov T. New generation streak camera desighn and investigation—Proc. Of EPAC, Edinburgh, Scotland, 2006, p. 1175-1177.

27. Горлов Т. В., Тронь А. М. //Численное моделирование динамики фотоэлектронов с учетом микрорельефной поверхности фотокатода// Сб. науч. тр.: В 13 т. М: МИФИ-2006. Т.4. С. 106-108.

28. Tron А. М. Gorlov Т., New type photocathode for x-ray streak camera of the 10-fs resolution.-Proc. of DIPAC, Venice, Italy, 2007.

29. Горлов Т. В., Давыдов А. Д., Тронь А. М. //Технологии изготовления и контроля игольчатого фотокатода рентгеновского хронографа фемтосекундного разрешения // Сб. науч. тр.: В 13 т. М: МИФИ 2004. Т.4. С. 62-63.

30. ANSI/ASME В46.1-2002 "Surface Texture (Surface Roughness, Waviness and Lay)", American Society of Mechanical Engineers, 2002.

31. G.A. Korn, T.M. Korn, Mathematical Handbook for Scientists and Engineers. Dover Publications, Inc.Mineola, N. Y., 2000.

32. Витенберг Ю.Р. Шероховатость поверхности и методы ее оценки. Обзор. Л., "Судостроение", 1971.

33. Витенберг Ю.Р. Оценка шероховатости поверхности с помощью корреляционных функций // Вестник машиностроения. -1969.-№1.-С.55-57.

34. Шероховатость поверхности (теоретико-вероятностный подход), Хуцу А.П., Витенберг Ю.Р., Пальмов В.А., Главная редакция физико-математической литературы издательства "Наука", 1975, стр. 344.

35. М. Krasilnikov, "Impact of the cathode roughness on the emittance of an electron beam", FEL 2006, Berlin, Aug.2006, pp. 583-586.

36. Y. Lau, "Effects of cathode roughness on the quality of electron beams", J. Appl.Phys 61(1), Jan. 1987.

37. M.D. Nijkerka, P. Kruit, Influence of surface roughness on space charge limited emission, Appl. Sur. Sci. 233 (2004) 172-179.

38. A. D. Polyanin, Handbook of Linear Partial Differential Equations for Engineers and Scientists, Chapman & Hall/CRC Press, Boca Raton, 2002.

39. A.H. Тихонов, A.A. Самарский. Уравнения математической физики. М., Наука, 1971.

40. I. S. Sokolnikoff, Mathematical Theory of Elasticity, McGraw Hill, 1956.

41. A Multiple-Precision Binary Floating-Point Library with Correct Rounding, L. Fousse, G. Hanrot, V. Lefevre, P. Pelissier, P. Zimmermann, Research Report RR-5753, 2005.

42. The MAFIA collaboration, User's Guide MAFIA Version 4.00, CST GmbH, Lauteschlagerstr. 8, D-64289 Darmstadt, Germany.

43. V. P. Degtyareva and M. A. Monastyrski, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 363, 354(1995).

44. B.L. Henke, J.A. Smith, "0.1-10-keV X-ray-induced Electron Emissions from Solids Models and Secondary Electron Measurements", J. Appl. Phys. 48 (1977) 1852.

45. Соболь И.М. Численные методы Монте-Карло. М.: Наука. 1973. 311 с.

46. L.M. Rangarayan, G.K. Bhide, Photoemission energy distribution studies of gold thin films under uv excitation by a photoelectron spectroscopic method. Vacuum. 1980, Vol. 30, No. 11/12, pp 515-522.

47. Allan J. Melmed, "The art and science and other aspects of making sharp tips"; American Vacuum Society; Journal of Vacuum Science Technology; B; vol. 9, No. 2; pp. 601-608, Apr. 1991.

48. O. Albrektsen, H. W. M. Salemink, K. A. M0rch, and A. R. Tholen, "Reliable tip preparation for high-resolution scanning tunneling microscopy", American Vacuum Society; Journal of Vacuum Science Technology; B; vol. 12, No. 6; pp. 3187-3190, Nov. 1994.

49. R. Zhang and D. G. Ivey, "Preparation of sharp polycrystalline tungsten tips for scanning tunneling microscopy imaging", American Vacuum Society;

50. Journal of Vacuum Science Technology; B; vol. 14, No. 1; pp. 1-10, Nov. 1996.

51. M. Fotino, 'Tip sharpening by normal and reverse electrochemical etching", Rev. Scientijic Instruments, vol. 64, No. 1; pp. 159-167, Jan. 1993.

52. Zang R., Ivey D.G. "Preparation of sharp polycrystalline tungsten tips for scanning tunneling microscopy imaging", J. Vac. Sci. Technol; B; Vol. 14, No. 1; pp. 1-10, Jan 1996.

53. J. P. Song, N. H. Pryds, K. Glejb0l, K. A. Tholen, and L. N. Christensen, "A development in the preparation of sharp scanning tunneling microscopy tips", Rev. Scientijic Instruments, vol. 64, No. 4; pp. 900-903, Apr. 1993.

54. Электрохимическое полирование металлов. Штанько В. М., Карязин П. П. М., «Металлургия», 1979, 160 с.55. www.XNoteStopwatch.com

55. Давыдов А. Д., Козак Е. Высокоскоростное электрохимическое формообразование. М.: Наука, 1990. 272 с.

56. Котляр JI. М., Миназетдинов Н. М. Определение формы анода с учетом свойств электролита в задачах электрохимической размерной обработки металлов // ПМТФ. 2003. Т. 44, № 3. С. 179-184.

57. JI. М. Котляр, Н. М. Миназетдинов Эволюция формы анодной границы при электрохимической размерной обработке металлов. // Прикладная механика и техническая физика, 2004, № 4, с. 7-1

58. Давыдов А.Д. Волгин В.М., Любимов В.В. Электрохимическая размерная обработка металлов: процесс формообразования // Электрохимия. 2004. Т.40. N 12. С. 1438-1480.

59. V. М. Volgin, A. D. Davydov, "Numerical Modeling of Non-Steady-State Ion Transfer in Electrochemical Systems with Allowance for Migration,"Russian Journal of Electrochemistry (2001) 37, No. 11, 11971205.

60. V.M. Volgin, V.V. Lyubimov, Mathematical modeling of changing workpiece surface at electrochemical shaping, in: Proceedings of the ISEM XII, Aachen, 1998, pp. 523-532.

61. V.M. Volgin, V.V. Lyubimov, Mathematical modeling of three dimensional electrochemical forming of complicated surfaces, J. Mater. Process Technol. 109 (3) (2001)314-319.

62. V.M. Volgin, V.V. Lyubimov, Numerical simulation of the electrolyte flow at three-dimensional electrochemical machining, in: Proceedings of the II International Conference on Advances in Production Engineering, Part I, Warsaw, 2001, pp. 299-308.

63. V.M. Volgin, V.V. Lyubimov, Numerical simulation of the three-dimensional electrochemical shaping, in: Proceedings of the Seventh Conference on EM'03 Electromachining, Rydzyna, 2003, pp. 300-307.

64. V. M. Volgin, О. V. Volgina, A. D. Davydov, "Finite difference method of simulation of non-steady-state ion transfer in electrochemical systems with allowance for migration", Computational Biology and Chemistry 27(3): 185-196 (2003).

65. Volgin V.M., Davydov A.D. (2004). Modeling of multistage electrochemical shaping. J. Mat. Proc. Technol. 149: 466-471.

66. Дамаскин Б.Б., Петрий O.A. Введение в электрохимическую кинетику: Учеб. Пособие для студентов хим. спец. ун-тов.-2-е изд., перераб. и доп.-М.: Высш. школа, 1983.-400 с.

67. S.S. Sripada, I.M. Cohen, P.S. Ayyaswamy, "Melting of a wire anode followed by solidification: A three-phase moving interface problem" J. Heat Transfer, Trans. ASME, 125, No.4, 661-668 (2003).

68. Huang, L. J., Ayyaswamy, P. S., and Cohen, Ira. M., 1995, "Melting and Solidification of Thin Wires: A Class of Phase-Change Problems With a Mobile Interface—I. Analysis," Int. J. Heat Mass Transfer, 38.9., pp. 16371645.

69. I.M. Cohen, L.J. Huang and P.S. Ayyaswamy, Melting and solidification of thin wires: a class of phase change problems with a mobile interface—II. Experimental confirmation. Int. J. Heat Mass Trans. 38 9 (1995), pp. 16471659.

70. Jonathan Tan, Toh B.H., Ho H.M. "Modelling of Free Air Ball for Copper Wire Bonding" Proc. 6. th. Electronic Packaging Technology Conference, 810 Dec. 2004. pp. 711-717.

71. Chen J.L., Lin Y.C. "A New Approach in Free Air Ball Formation process Parameters Analysis," IEEE Trans-on Elect. Packaging Manufacturing, Vol. 23, No. 2 (Apr. 2000), pp. 116-122.

72. Chen J.L., Lin Y.C. "A New Approach in Free Air Ball Formation process Parameters Analysis," IEEE Trans-on Elect. Packaging Manufacturing, Vol. 23, No. 2 (Apr. 2000), pp. 116-122.

73. Qin W., Cohen, I.M., Ayyswamy, P.S. "Ball Size and HAZ as Function of EFO Parameters for Gold Bonding Wire," EEP-Vol 19-1, Advances in Electronic Packaging-1991, Vol. 1, ASME 1997, pp. 391-398.

74. L. Huang, K. Yu, I. Cohen, and P. Ayyaswarmy, "Ball formation in wire bonding—Part 1: Upscaled experimental study," ISHM J., vol. 13, pp. 1-5, Mar. 1990.

75. Ivy Wei Qin, "Wire Bonding Tutorial", Advanced Packaging, July (2005).

76. Ho H.M., Y.C. Tan, Jonathan Tan, Toh B.H., Xavier P., "Modeling energy transfer to copper wire for bonding in an inert environment" Proc. 7. th. Electronic Packaging Technology Conference, 7-9 Dec. 2005.

77. Y.C. Tan, Toh B.H., Ho H.M., Jonathan Tan, "Free Air Ball Modeling for Gold Wire Bonding for Different Wire Diameters" IMAPS Taiwan 2006 Technical Symposium, 29 th June 1 st July, 2006 , Taipei, Taiwan.

78. Yeung, R. W., 1982, "Numerical Methods in Free-Surface Flows," Annu. Rev. Fluid Mech., 14, pp. 395-442.

79. Finlayson, B. A., 1992, Numerical Methods for Problems With Moving Fronts, Ravenna Park Publishing, Inc., Seattle, WA.

80. Alexiades, V., and Solomon, A. D., 1993, Mathematical Modeling of Melting and Freezing Processes, Hemisphere, Bristol, PA.

81. Ryskin, G., and Leal, L. G., 1984, "Numerical Solution of Free-Boundary Problems in Fluid Mechanics. Part 1. The Finite-Difference Technique,"J. Fluid Mech., 148, pp. 1-17.

82. Yoo, J., and Rubinsky, B., 1983, "Numerical Computation Using Finite Elements for the Moving Interface in Heat Transfer Problems With Phase Change Transformation," Numer. Heat Transfer, 6, pp. 209-222.

83. Liu, A., Voth, T. E„ and Bergman, T. L., 1993, "Pure Material Melting and Solidification With Liquid Phase Buoyancy and Surface Tension Force," Int. J. Heat Mass Transfer, 36, pp. 411-422.

84. Qin, W., Cohen, Ira. M., and Ayyaswamy, P. S„ 2000, "Charged Particle Distributions and Heat Transfer in a Discharge Between Geometrically Dissimilar Electrodes: From Breakdown to Steady State," Phys. Plasmas, 7(2), pp. 719-728.

85. Sripada, Srinivas. S., 1999, "Fundamental Studies of Plasma Applications in Microelectronic Manufacturing and Flames: Fluid Mechanics, Phase-Change, and Heat Transfer," Ph.D. thesis, Univ. of Pennsylvania.

86. Sripada, Srinivas, S., Ayyaswamy, P. S., and Cohen, I. M., 1998, "Weakly Ionized Plasma Heat Transfer Between Geometrically Dissimilar Electrodes," ASME J. Heat Transfer, 120(3), pp. 939-942.

87. Ryskin, G., and Leal, L. G., 1983, "Orthogonal Mapping," J. Comput. Phys., 50, pp. 71-100.

88. M. Deley, L. Levine, "Copper ball bonding advances for Leading Edge packaging" Semi Technology Symposium SEMICON, Singapore 2005 (4 -6 May).

89. Gaiser tool company, industry newsletter & technical publication, Vol. 3 (2). Mar. 2005.91. http://members.tripod.com/Hirona/efo.html

90. Галанин С. И., Сорокина М.В., Токмаков А. Ю. Электрохимическое полирование и глянцевание поверхности ювелирных изделий с использованием импульсных токов технология завтрашнего дня // Русский ювелир, 2005, сентябрь №6.- с. 113-116.

91. Галанин С. И., Сорокина М. В., Токмаков А. Ю., Способ обработки отливок из сплавов на основе золота: Патент РФ на изобретение №2284381 от 28.04.2005 г.

92. Галанин С. И., Сорокина М.В., Токмаков А.Ю., Галанина A.C., Полирование и глянцевание сложнопрофильных изделий из золота импульсами тока: Международная Научно-Техническая Конференция -Ювелирная индустрия, Петербург 2007 г.

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.