Глубокие уровни точечных дефектов в сплавах на основе халькогенидов свинца тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.09, кандидат физико-математических наук Зверева, Елена Алексеевна

  • Зверева, Елена Алексеевна
  • кандидат физико-математических науккандидат физико-математических наук
  • 2000, Москва
  • Специальность ВАК РФ01.04.09
  • Количество страниц 126
Зверева, Елена Алексеевна. Глубокие уровни точечных дефектов в сплавах на основе халькогенидов свинца: дис. кандидат физико-математических наук: 01.04.09 - Физика низких температур. Москва. 2000. 126 с.

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Зверева, Елена Алексеевна

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА I. ЗОННАЯ СТРУКТУРА И ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ СПЕКТР ДЕФЕКТОВ

В СПЛАВАХ НА ОСНОВЕ ХАЛЬКОГЕНИДОВ СВИНЦА

1.1. Энергетический спектр носителей заряда в сплавах на основе халькогенидов свинца

1.2. Влияние облучения электронами на свойства сплавов Pb].xSnxSe HPbi.xSnxTe

1.3. Влияние легирования примесями с переменной валентностью на свойства РЬТе и сплавов на его основе

1.4. Особенности легирующего действия галлия в РЬТе и сплавах на его основе

ГЛАВА II. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА И ОБРАЗЦЫ

2.1. Методика измерения гальваномагнитных и фотоэлектрических эффектов

2.2. Методика создания и измерения давления

2.3. Методика облучения быстрыми электронами

2.4. Подготовка образцов к измерениям. Параметры исследованных образцов

ГЛАВА III. ЗОНА РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ В ОБЛУЧЕННЫХ

ЭЛЕКТРОНАМИ СПЛАВАХ PbbxSnxSe(x<0.03)

3.1. Полевые зависимости коэффициента Холла в окрестности перехода диэлектрик-металл, индуцированного давлением

3.2. Зависимости концентрации дырок от давления в окрестности перехода диэлектрик-металл

3.3. Параметры зоны радиационных дефектов

ГЛАВА IV. ГЛУБОКИЕ УРОВНИ ГАЛЛИЯ В СПЛАВАХ РЬ1.хОехТе<Оа>

4.1. Гальваномагнитные эффекты при вариации положения уровня Ферми и состава сплава

4.2. Модель энергетического спектра носителей заряда

ГЛАВА V. ЗАДЕРЖАННАЯ ФОТОПРОВОДИМОСТЬ И ДОЛГОВРЕМЕННЫЕ

РЕЛАКСАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ В СПЛАВАХ РЬ1хОехТе<Оа>

5.1. Фотоэлектрические явления и кинетика фотопроводимости при инфракрасной подсветке

5.2. Пик отрицательной фотопроводимости, индуцированный стационарной инфракрасной подсветкой

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Физика низких температур», 01.04.09 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Глубокие уровни точечных дефектов в сплавах на основе халькогенидов свинца»

Исследование энергетического спектра и микроскопической структуры точечных дефектов в кристаллических твердых телах и, в особенности, в полупроводниках является одной из важнейших задач современной физики твердого тела. Примеси и другие точечные дефекты (собственные и радиационные дефекты), в значительной степени модифицируют энергетический спектр полупроводника и позволяют эффективно управлять электрофизическими, оптическими и фотоэлектрическим свойствами исходных кристаллов [1-3]. Облучение быстрыми частицами может кроме того приводить к образованию новых типов дефектов (комплексы, кластеры) не типичных для равновесного состояния кристалла и позволяет получать материалы с новыми физическими свойствами, которых невозможно достичь другими способами [4, 5].

Изучение энергетического спектра и природы радиационных дефектов и примесей в халькогенидах свинца и сплавах на их основе имеет свои специфические особенности, важнейшими из которых являются следующие. Во-первых, эти материалы, как и все полупроводники группы А4В6, характеризуются значительными отклонениями от стехиометрического состава. Поэтому исходные нелегированные кристаллы имеют высокие концентрации собственных точечных дефектов (№=1018-И019 см"3), которые по своей природе близки к первичным радиационным дефектам (вакансии и междоузельные атомы в подрешетках металла и халькогена). Это обстоятельство существенно затрудняет экспериментальные исследования, поскольку требует выделения вклада легирующей примеси и радиационных дефектов в исследуемые параметры полупроводника на фоне вклада собственных структурных дефектов.

Во-вторых, эти полупроводники относятся к классу узкощелевых материалов и обладают малой шириной запрещенной зоны, малыми эффективными массами носителей заряда и высокими значениями диэлектрической проницаемости. Поэтому мелкие водородоподобные уровни дефектов в этих материалах вообще не наблюдаются, а глубокие уровни радиационных дефектов и примесей, в отличие от широкозонных полупроводников, располагаются в основном на фоне разрешенных состояний и являются резонансными уровнями [6-9].

И, наконец, в-третьих, при высоких (существенно превышающих концентрации собственных структурных дефектов) концентрациях легирующей примеси или радиационных дефектов уровень Ферми в полупроводниках А4В6 оказывается стабилизированным глубоким дефектным уровнем, положение которого относительно краев разрешенных зон зависит от температуры, магнитного поля, состава сплава и давления [9-11]. В этих условиях изменение состава полупроводника или приложение внешнего давления позволяют изменять относительное расположение краев разрешенных зон и примесных или радиационных уровней, индуцируя перераспределение носителей заряда между локализованными и зонными состояниями и даже переходы металл-диэлектрик или диэлектрик-металл [9, 11].

К началу выполнения настоящей работы был накоплен обширный экспериментальный и теоретический материал по влиянию легирования примесями III группы (In, Ga, Tl,) и облучения быстрыми электронами на энергетический спектр носителей заряда и электрофизические свойства полупроводников А4В6 [9-11]. Однако, существовал и целый ряд спорных вопросов и нерешенных проблем, требующих дополнительного экспериментального изучения. Настоящая работа посвящена решению части таких проблем для двух групп сплавов на основе халькогенидов свинца - сплавов Pbj„xSnxSe(x<0.03), облученных быстрыми электронами, и сплавов Pb[„xGexTe (0.04<х<0.08), легированных галлием.

Ранее было установлено, что облучение сплавов PbixSnxSe(x<0.03) быстрыми электронами приводит к возникновению в энергетическом спектре носителей заряда глубокого уровня (зоны) радиационнных дефектов, расположенного в запрещенной зоне и стабилизирующего уровень Ферми чуть выше потолка валентной зоны. Гидростатическое сжатие облученных кристаллов вызывает сближение глубокого уровня с потолком валентной зоны, перетекание электронов из валентной зоны на уровень и переход диэлектрик-металл, индуцированный давлением. Однако, надежные экспериментальные данные о структуре и основных параметрах зоны радиационных дефектов, а также механизмах проводимости в окрестности перехода диэлектрик-металл, индуцированного давлением, отсутствовали.

Легирование сплавов РЬ1хОехТе(0.04<х<0.08) галлием вызывает появление глубокого примесного уровня (или уровней) ян-теллеровского типа, стабилизирующего уровень Ферми в запрещенной зоне сплавов. В легированных сплавах обнаружены долговременные (с характерными временами до 105 с) релаксационные процессы при низких температурах, связанные с переходами между глубокими уровнями и разрешёнными зонами при инфракрасной (ИК) подсветке, и эффект задержанной фотопроводимости при гелиевых температурах. Однако, энергетическое положение глубоких уровней (диаграмма перестройки энергетического спектра носителей заряда при изменении состава сплава) и даже количество глубоких уровней, а также параметры, характеризующие долговременные релаксационные процессы при ИК фотовозбуждении в легированных галлием сплавах, были неизвестны.

Цель работы. Общая задача настоящей работы состояла в исследовании гальваномагнитных и фотоэлектрических явлений в сплавах на основе халькогенидов свинца с глубокими уровнями радиационных дефектов и примесей с целью построения моделей перестройки энергетического спектра носителей заряда при изменении состава сплавов и под давлением, а также определения параметров, характеризующих долговременные релаксационные процессы при ИК фотовозбуждении в легированных сплавах.

Конкретные задачи исследования включали в себя:

1. Исследование гальваномагнитных явлений в слабых и сильных магнитных полях с целью получения информации о механизмах проводимости и параметрах носителей заряда в окрестности перехода диэлектрик-металл, индуцированного давлением в сплавах РЬ1.х8пх8е(х<0.03), облученных быстрыми электронами.

2. Построение барических зависимостей концентрации дырок в металлической фазе облученных электронами сплавов РЬ1х8пх8е(х<0.03) и определение основных параметров зоны радиационных дефектов в рамках существующей модели энергетического спектра облученных сплавов.

3. Поиск и обнаружение глубоких дефектных уровней, индуцированных примесью ва в энергетическом спектре носителей заряда сплавов РЬ1.хОехТе(0.04<х<0.08), и построение диаграммы перестройки спектра при изменении содержания германия в сплавах.

4. Изучение кинетики фотопроводимости в сплавах РЬ1хОехТе (0.04<х<0.08), легированных галлием, определение критической температуры появления задержанной фотопроводимости, энергетического барьера в конфигурационном пространстве и характерных времен релаксации фотопроводимости при ИК фотовозбуждении легированных галлием сплавов.

Научная новизна и положения, выносимые на защиту.

В настоящей работе исследованы гальваномагнитные явления в облученных электронами сплавах РЬ1х8пх8е(х<0.03) в окрестности перехода диэлектрик-металл, индуцированного давлением, а также гальваномагнитные и фотоэлектрические явления в легированных галлием сплавах РЬ1.хОехТе (0.04<х<0.08) при вариации концентрации легирующей примеси и потока электронного облучения.

В результате проведенных исследований в работе впервые:

1. В окрестности перехода диэлектрик-металл, индуцированного давлением, определены основные параметры носителей заряда в облучённых электронами сплавах РЬ1х8пх8е(х<0.03) и обоснована необходимость учета существования трёх механизмов проводимости: поверхностной проводимости электронного типа, зонной дырочной проводимости и дырочной проводимости по зоне радиационных дефектов Е^.

-82. Путём сравнения экспериментальных и теоретических зависимостей концентрации носителей заряда от давления в металлической фазе, индуцированной давлением, определены основные параметры зоны радиационных дефектов Е^ в сплавах РЬ1х8пх8е(х<0.03) (скорость генерации радиационных дефектов сПЧи/с1Ф и ширина зоны а).

3. Обнаружены увеличение концентрации электронов и переходы из диэлектрической в металлическую фазу в легированных галлием сплавах РЬ1.хОехТе как в результате увеличения содержания легирующей примеси, так и при электронном облучении. Предложена модель перестройки энергетического спектра носителей заряда в исследованных сплавах под действием облучения быстрыми электронами.

4. В запрещенной зоне легированных галлием сплавов РЬ1.хСехТе(0.04<х<0.08) обнаружен глубокий дефектный уровень, положение которого относительно дна зоны проводимости зависит от состава сплава. Построена энергетическая диаграмма движения уровня относительно краёв разрешенных зон при изменении состава сплава и показано, что легирование галлием должно приводить к возникновению в энергетическом спектре сплавов РЬ1.хОехТе двух различных глубоких уровней.

5. Установлено, что в сплавах РЬ1.хвехТе кинетика релаксации фотопроводимости при низких температурах (Т<ТС«60 К) характеризуется наличием, по крайней мере, двух механизмов рекомбинации неравновесных носителей заряда с существенно различающимися временами жизни. Определены основные параметры, характеризующие релаксационные процессы (времена жизни неравновесных носителей заряда Т] и т2, высота энергетического барьера разделяющего зонные и примесные состояния в конфигурационном пространстве).

6. На кривых нарастания фотопроводимости обнаружены аномальные участок задержки фотоотклика и пик отрицательной фотопроводимости при стационарной ИК подсветке сплавов РЬ1.хОехТе<Оа> в области низких температур (Т<ТС«60 К). Обнаруженные особенности объясняются в рамках модели, предполагающей фотоиндуцированный структурый переход по крайней мере части объёма образца из ромбоэдрической в кубическую фазу в результате фотоионизации носителей заряда с примесного уровня в зону проводимости и перестройки кристаллического окружения дефектных центров.

Практическая ценность диссертационной работы заключается в том, что:

1. Полученные в настоящей работе данные о скорости генерации и параметрах глубоких уровней радиационных дефектов в сплавах Pbi.xSnxSe, Pbi.xGexTe<Ga> могут быть использованы для эффективного управления параметрами этих материалов и приборных структур на их основе с помощью электронного облучения, изготовления датчиков потока и интенсивности облучения при регистрации больших интегральных потоков электронов, а также могут позволить прогнозировать пределы работоспособности приборных структур на основе халькогенидов свинца в условиях проникающей радиации и вести целенаправленный поиск путей повышения их радиационной стойкости.

2. В работе продемонстрированы возможности реализации диэлектрического состояния с низкими (близкими к собственной) концентрациями носителей заряда и определены основные параметры, характеризующие долговременные релаксации фотопроводимости, в сплавах PbixGexTe, легированных галлием. Эти результаты представляют интерес с точки зрения изготовления согласованных по параметру решетки изолирующих подложек для эпитаксиальных плёнок и приборных структур, разработки высокочувствительных фотоприемных устройств на основе легированных сплавов, а также расширения спектрального диапазона фоточувствительности приёмников ИК излучения на основе халькогенидов свинца.

Апробация работы. Результаты исследований, изложенные в диссертации, докладывались и обсуждались на II и III Международных школах-коференциях «Физические проблемы материаловедения полупроводников» (Черновцы, Украина, 1997, 1999 гг.), VIII Международной конференции «Мелкие уровни в полупроводниках» (Монпелье, Франция, 1998 г.), VIII Международной конференции «Высокие давления в физике полупроводников» (Салоники, Греция, 1998 г.), IV и V Международных конференциях «Материаловедение и свойства материалов для инфракрасной оптоэлектронники» (Киев, Украина, 1998, 2000 гг.), Международной конференции студентов и аспирантов по фундаментальным наукам "Ломоносов-99" (Москва, 1999 г.), VIII Международной конференции «Идентификация и визуализация дефектов в физике полупроводников» (Нарита, Япония, 1999 г.), IX Международной конференции по узкощелевым полупроводникам (Берлин, Германия, 1999 г.), IV Российской конференции по физике полупроводников "Полупроводники-99" (Новосибирск, 1999 г.), Осенней сессии американского общества материаловедов - MRS Fall Meeting (Бостон, США, 1999 г.), VI Международном совещании «Нелинейная оптика и кинетика возбуждений в полупроводниках» (Марбург, Германия, 2000 г.), IX Международной конференции «Мелкие уровни в полупроводниках» (Хиого, Япония, 2000 г.), II Международной конференции «Фундаментальные проблемы физики» (Саратов, 2000 г.).

Структура диссертации. Диссертация состоит из введения, пяти глав, выводов и списка литературы. Первая глава содержит литературный обзор по теме исследования, вторая глава - описание экспериментальных методик, применяемых в работе, а каждая из последующих трёх глав содержит оригинальные результаты, полученные автором.

Похожие диссертационные работы по специальности «Физика низких температур», 01.04.09 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Физика низких температур», Зверева, Елена Алексеевна

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ.

1. В окрестности перехода диэлектрик-металл, индуцированного давлением, исследовано влияние давления на электрофизические свойства облученных электронами сплавов РЬ1х8пх8е(х<0.03) п- и р-типа. В рамках двухзонной модели рассчитаны полевые зависимости коэффициента Холла, удовлетворительно согласующиеся с экспериментальными данными, и определены основные параметры носителей заряда в облучённых сплавах. Показано, что в окрестности перехода диэлектрик-металл необходимо учитывать существование трёх механизмов проводимости: поверхностной проводимости электронного типа, зонной дырочной проводимости и дырочной проводимости по зоне радиационных дефектов Ец.

2. Установлено, что в облучённых электронами сплавах РЬ1.х8пх8е(х<0.03) переход диэлектрик-металл под действием давления сопровождается перетеканием электронов из валентной зоны в зону радиационных дефектов Еи и, как следствие, увеличением концентрации свободных дырок. Путём сравнения экспериментальных и теоретических барических зависимостей концентрации дырок в металлической фазе определены основные параметры зоны радиационных дефектов Е1ь скорость генерации радиационных дефектов с1Ни/<ЗФ=(0.45±0.1) см"1 и ширина зоны а=(15±5) мэВ.

3. Исследовано влияние электронного облучения на электрофизические свойства сплавов п-РЬ 1 х6ехТе(0.04<х<0.08), легированных галлием. Показано, что облучение быстрыми электронами так же, как и увеличение содержания галлия в сплавах, индуцирует увеличение концентрации электронов и переход к металлическому типу проводимости и может служить эффективным, дополнительным к легированию, средством управления электрофизическими параметрами легированных сплавов. Предложена модель перестройки энергетического спектра носителей заряда в сплавах РЬ1хОехТе<Оа> под действием облучения быстрыми электронами.

-1104. Установлено, что легирование РЬ1хОехТе галлием приводит к формированию в запрещённой зоне сплавов глубокого примесного уровня галлия, положение которого относительно потолка валентной зоны практически не зависит от содержания германия в сплаве: Е0а - Ь~6 « 45 - 2000 х мэВ. Предложена модель энергетического спектра носителей заряда, позволяющая предположить, что легирование теллурида свинца и сплавов на его основе галлием должно приводить к появлению в энергетическом спектре двух различных дефектных уровней. В теллуриде свинца это известный ранее глубокий уровень, расположенный на 70 мэВ ниже дна зоны проводимости, и резонансный уровень в зоне проводимости.

5. Показано, что в сплавах РЬ].хОехТе<Са> кинетика релаксации фотопроводимости при низких температурах (Т<ТС) характеризуется наличием двух типов релаксационных процессов: быстрого с характерным временем Т]~0.1 с и медленного - х2>103 с. Для сплава РЬо.94Сгео.обТе<Оа> по температурной зависимости времени релаксации фотопроводимости в рамках модели, предполагающей возникновение автолокализационного энергетического барьера, разделяющего примесные и зонные состояния в конфигурационном пространстве при низких температурах, оценена высота барьера W=23±2 мэВ.

6. В области низких температур (Т<ТС) на кривых нарастания фотопроводимости сплавов РЬ1.хОехТе<Оа> обнаружены участок задержки фотоотклика и пик отрицательной фотопроводимости. Для объяснения обнаруженных аномалий предложена модель, согласно которой при ИК подсветке сплавов происходит постепенное накопление искажений в ближайшем кристаллическом окружении примесных центров и переход по крайней мере части объёма образца в кубическую фазу из-за опустошения дефектных центров в результате активации электронов с примесного уровня в зону проводимости и перестройки кристаллического окружения дефектных центров.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Зверева, Елена Алексеевна, 2000 год

1. Точечные дефекты в твердых телах. Сборник статей. //М.: Мир, 1979.

2. Ланно М., Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках. Теория. //М.: Мир, 1984.

3. Ланно М., Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты. //М.: Мир, 1985.

4. Физические процессы в облучённых полупроводниках. Под ред. Л.С. Смирнова. //Новосибирск: Наука, 1977.

5. Вавилов B.C., Кекелидзе Н.П., Смирнов Л.С. Действие излучений на полупроводники. //М.: Наука, 1988.

6. Каллуэй Дж. Теория энергетической зонной структуры. //М.: Мир, 1969.

7. Бассани Ф., Пастори Паравичини Дж. Электронные переходы и оптические переходы в твёрдых телах. //М.: Наука, 1982.

8. Кайданов В.И., Равич Ю.И. Глубокие и резонансные состояния в полупроводниках AIVBVI. //УФН, 1985, т.145, в.1, с.51-86.

9. Маделунг О. Физика твердого тела. Локализованные состояния. //М.: Наука, 1985.

10. Akimov В.А., Dmitriev A.V., Khokhlov D.R. and Ryabova L.I. Carrier transport and non-equilibrium phenomena in PbTe and related materials. //Phys. Stat. Sol. (a), 1993, v.137, N1, p.9-55.

11. И. Брандт Н.Б., Скипетров Е.П. Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках AIVBVI с помощью давления (обзор). //Физика низких температур, 1996, т.22, №8, с.870-891.

12. Абрикосов Н.Х., Шелимова Л.Е. Полупроводниковые материалы на основе соединений AIVBVI. IM.: Наука, 1975.

13. Равич Ю.И., Ефимова Б.А., Смирнов И.А. Методы исследования полупроводников в применении к халькогенидам свинца РЬТе, PbSe и PbS. /М.: Наука, 1968.

14. Kawamura Н. Phase transition in IV-VI compounds. //Lect. Notes in Phys., 1980,v.l33,p.470-494.

15. Жукова Т.Б., Заславсшй А.И. Исследование фазового превращения и структуры a-GeTe. //Кристаллография, 1967, т.12, в.1, с.37-41.

16. Лебедев А.И., Случинская И.А. Влияние легирующих примесей на сегнетоэлектрические фазовые переходы в PbTej.xSx и Pbj.xGexTe. //ФТТ, 1993, т.35, в.З, с.629-635.

17. Лебедев А.И., Абдуллин Х.А. Исследования электрических свойств Pbi.xGexTe с примесью индия в области фазового перехода. //ФТП, 1984, т. 18, в.4, с.624-627.

18. Такаока S., Murase К. Anomalous resistivity near the ferroelectric phase transition in (Pb, Ge, Sn)Te alloys semiconductors. //Phys. Rev. B, 1979, v.20, N7, p.2823-2833.

19. Suski Т., Такаока S., Ishii K., Murase K. High-pressure investigation of ferroelectric phase transition in PbGeTe. //J. Phys. C, 1984, v.7, N12, p.2181-2192.

20. Маслов B.B., Барышников C.B., Казаков B.B., Драбкин И.А. Зависимость температуры фазового перехода в Pb.xGexTe от давления и концентрации носителей. //Элементарные возбуждения в сегнетоэлектриках. Л.: 1983, с.30-33.

21. Hohnke D.K., Holloway Н., Kaiser S. Phase relations and transformations in the system PbTe-GeTe. //J. Phys. Chem. Sol., 1972, v.33, N11, p.2053-2062.

22. Antcliffe G.A., Rate R.T., Buss D.D. On the ferroelectric nature of the cubic-rhombohedral phase transition in Pb!xGexTe. //Solid State Commun., 1973, v. 13, N7, p. 1003-1006.

23. Sugimoto M., Matsuda Т., Hatta I. Specific heat capacity of PbbxGexTe at their structural phase transition. //J. Phys. Soc. Jap., 1981, v.50, N5, p.1555-1559.

24. Takano S., Kumashiro Y., Tsuji K. Resistivity anomalies in PbixGexTe at low temperatures. //J. Phys. Soc. Jap., 1984, v.53, N12, p.4309-4314.

25. Rabii S. Investigation of energy-band structures and electronic properties of PbS-113and PbSe. //Phys. Rev., 1968, v. 167, N3, p.801-808.

26. Martinez G., Schluter M., Cohen M.L. Electronic structure of PbSe and PbTe. I. Band structures, densities of states and effective masses. //Phys. Rev. B, 1975, v.ll,N2, p.651-659.

27. Conklin J.B., Johnson L.E., Pratt G.W. Energy bands in PbTe. //Phys. Rev., 1965, v.137, N4A, p. 1282-1294.

28. Rabii S. Energy-band structure and electric properties of SnTe. //Phys. Rev., 1966, v.142, N2, p.478-489.

29. Tung Y.W., Cohen M.L. Relativistic band structure and electronic properties of SnTe, GeTe and PbTe. //Phys. Rev., 1969, v. 180, N3, p.823-826.

30. Bauer G. Magnetooptical properties of IV-VI compounds. //Lect. Notes Phys., 1980, v.133, p.427-446.

31. Calawa A.R., Dimmock J.O., Harman T.C., Melngailis I. Magnetic field dependence of laser emission in PbixSnxSe diodes. //Phys. Rev. Lett., 1969, v.23, N1, p.7-10.

32. Harman T.C., Calawa A.R., Melngailis I., Dimmock J.O. Temperature and compositional dependence of laser emission in Pb!xSnxSe. //Appl. Phys. Lett., 1969, v.14, N11, p.333-334.

33. Harman T.C. Narrow-gap semiconductor lasers. //J. Phys. Chem. Sol., 1971, v.32 (Suppl.), p.363-382.

34. Гуреев Д.М., Засавицкий И.И., Мацонашвили Б.Н., Шотов А.П. Определение зонных параметров твёрдых раствовров Pb.xSnxSe из спектров фотолюминесценции в магнитном поле. //ФТП, 1979, т. 13, в.11, с.2129-2134.

35. Nimtz G., Schlicht В. Narrow-gap lead salts. //Narrow-Gap Semicomductors, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York-Tokyo, 1983, p. 1-117.

36. Kohn S.E., Yu P.Y., Petroff Y., Shen Y.R., Tsang Y., Cohen M.L. Electronic band structure and optical properties of PbTe, PbSe and PbS. //Phys. Rev. B, 1973, v.8, N4, p. 1477-1488.

37. Dimmock J.O., Melngailis I., Strauss A.J. Band structure and laser action in-114

38. PbixSnxTe. //Phys. Rev. Lett., 1966, v.16, N26, p.l 193-1196.

39. Butler J.F., Calawa A.R., Harman T.C. Diode lasers of PbixSnxSe and PbbxSnxTe. //Appl. Phys. Lett., 1966, v.9, N12, p.427-429.

40. Lewis A.V., Nicholas R.J., Ramage G.S., Bauer G., Stradling R.A., Lopez-Otero A. Effective masses in n- and p-type PbixGexTe. //J. Phys. C, 1980, v. 13, N4, p.561-569.

41. Takaoka S., Murase K. Band edge structure transformation due to the ferroelectric transition in Pbi.xGexTe alloy semiconductors. //J. Phys. Soc. Jap., 1982, v.51, N6, p.1857-1864.

42. Bangert E., Bauer G., Fantner E.J., Pascher H. Magnetooptical investigation of phase-transition-induced band-structure changes of PbixGexTe. //Phys. Rev. B, 1985, v.31, N12, p.7958-7978.

43. Antcliffe G.A., Parker S.G., Bate R.T. CW operation and nitric oxide spectroscopy using diod laser of Pbi.xGexTe. //Appl. Phys. Lett., 1972, v.21, N10, p.505-507.

44. Antcliffe G.A., Chapman R.A. Diffused junction photovoltaic infrared detectors using PbbxGexTe with 0.05x<<0.11. //Appl. Phys. Lett., 1975, v.26, N10, p.576-577.

45. Gibson A.F. The absorption spectra of single crystals of lead sulphide, selenide and telluride. //Proc. Phys. Soc., 1952, v.65, Pt.5, N389B, p.378-388.

46. Maitre A., Le Toullec R., Balkanski M. Fundamental absorption of PbSe. //Proc. Intern. Conf. Phys. Semicond., Warszaw, 1972, Pt.2, p.826-831.

47. Лихтер А.И., Пель Э.Г., Руднев A.B. Зависимость ширины запрещённой зоны некоторых полупроводников от давления. //ФТП, 1971, т.5, в.4, с.699-702.

48. Засавицкий И.И., Мацонашвили Б.Н., Погодин В.И. Влияние гидростатического давления на спектры излучения лазеров Pbi.xSnxSe. //ФТП, 1974, т.8, в.4, с.732-736.

49. Martinez G. Band crossing and laser emission in Pb!.xSnxSe alloys underhydrostatic pressure. //Physics of IV-VI Compounds and Alloys, ed. S.Rabii, 1974, p. 215-218.

50. Dimmock J.O. K-p theory for the conduction and valence band of Pb!xSnxTe and Pbi.xSnxSe alloys. //The Physics of Semimetals and Narrow Gap Semiconductors, ed. D.L.Carter and R.T.Bate, PergamonPress, N. Y., 1971, p.319-330.

51. Tsuji K., Takano S. Quantum oscillations of velocity of sound in PbixGexTe in rombohedral phase. //J. Phys. Soc. Jap., 1982, v.51, N6, p.1851-1856.

52. Tsuji K., Kumashiro Y., Takano S. Energy surfaces and domain structure of PbbxGexTe in rhombohedral phase. //J. Phys. Soc. Jap., 1984, v.53, N4, p. 13971405.

53. Martinez G. Band inversion of Pb.xSnxSe alloys under hydrostatic pressure. I. Theoretical band structure analysis. //Phys. Rev. B, 1973, v.8, N10, p.4678-4685.

54. Брандт Н.Б., Пономарёв Я.Г., Скипетров Е.П. Энергетический спектр носителей заряда в сплавах Pb!.xSnxSe. //ФТТ, 1987, т.29, в.11, с.3233-3240.

55. Parada N.J., Pratt G.W. New model for vacancy states in PbTe. //Phys. Rev. Lett., 1969, v.22, N5, p. 180-182.

56. Parada N.J. Localized defects in PbTe. //Phys. Rev. B, 1971, v.3, N6, p.2042-2055.

57. Pratt G.W. Vacancy and interstitial states in the lead salts. //J. Nonmetals, 1973, v.l, N2, p.103-109.

58. Hemstreet L.A. Cluster calculations of the effects of single vacancies of the electronic properties of PbS. //Phys. Rev. B, 1975, v.l 1, N6, p.2260-2270.

59. Hemstreet L.A. Cluster calculations of the effects of lattice vacancies in PbTe and SnTe. //Phys. Rev. B, 1975, v.12, N4, p.1212-1216.

60. Волков Б.А., Панкратов O.A. Зонная структура и энергетический спектр точечных дефектов в полупроводниках А4В6. //Препринт ФИАН, 1980, №127, №130.

61. Волков Б.А., Панкратов О.А. Электронная структура точечных дефектов в полупроводниках А4В6. //ЖЭТФ, 1985, т.88, в. 1, с.280-292.

62. Панкратов О.А., Поваров П.П. Многоэлектронные эффекты и зарядовые состояния вакансий в полупроводниках А4В6. //ФТТ, 1988, т.ЗО, в.З, с.880-882.

63. Pankratov О.А., Povarov P.P. Charge states of vacancies in IV-VI semiconductors. //Sol. State Commun., 1988, v.66, N8, p.847-855.

64. Брандт Н.Б., Зломанов В.П., Ладыгин E.A., Пономарёв Я.Г., Скипетров Е.П., Шибаев П.В. Переход металл-диэлектрик под действием давления в сплаве Pb0.875Sn0.i25Se, облучённом быстрыми электронами. //ФТТ, 1987, т.29, в.1, с.246-249.

65. Брандт Н.Б., Дубков В.П., Иванова Г.В., Ладыгин Е.А., Скипетров Е.П. Переход металл-диэлектрик, индуцированный электронным облучением, в сплаве PbixSnxSe(x=0.25). //Вестн. Моск. Ун-та. Сер.З, Физика. Астрономия,1987, т.28, в.5, с.96-97.

66. Брандт Н.Б., Дубков В.П., Зломанов В.П., Иванова Г.В., Ладыгин Е.А., Скипетров Е.П. Влияние электронного облучения на гальваномагнитные явления в n-PbbxSnxSe(x=0.25). //ФТП, 1987, т.21, в. 12., с.2136-2141.

67. Brandt N.B., Dubkov V.P., Skipetrov Е.Р., Ladigin E.A. Resonant defect states in Pbi„xSnxSe(x=0.125), irradiated with electrons. //Sol. State Commun., 1988, v.65, N12, p.1489-1493.

68. Скипетров Е.П., Дубков В.П., Мусалитин A.M., Подсекалов И.Н. Проводимость по локальной зоне в сплавах PbixSnxSe, облучённых электронами. //ФТП, 1988, т.22, в.10, с.1785-1791.

69. Брандт Н.Б., Доропей В.Н., Дубков В.П., Скипетров Е.П. Зона локальных состояний в сплаве Pbi.xSnxSe(x=0.125), облучённом электронами. //ФТП,1988, т.22, в.8, с. 1462-1473.

70. Brandt N.B., Skipetrov Е.Р. High-pressure spectroscopy of electron irradiated semiconductors. //Semicond. Sci. Technol., 1989, v.4, N4, p.260-262.

71. Пономарёв Я.Г., Скипетров Е.П. Закон дисперсии носителей заряда в сплавах PbixSnxSe. //Структура и свойства соединений AIVBVI (под ред. А.Н. Ковалёва), М.: Металлургия, 1990, с.81-93.

72. Дубков В.П., Скипетров Е.П. Влияние давления на электрофизические свойства PbixSnxSe(x:rr0.25), облучённого электронами, в диэлектрической фазе. //ФТП, 1990, т.24, в.1, с.104-108.

73. Ковалёв Б.Б., Скипетров Е.П. Резонансная зона в сплаве Pb1.xSnxSe(x=0.07), облучённом электронами. //ФТП, 1990, т.24, в.8, с.1379-1383.

74. Брандт Н.Б., Ковалёв Б.Б., Скипетров Е.П. Зона радиационных дефектов в сплаве Pbi.xSnxSe(x=0.34). //Физ. и техн. высоких давлений, 1992, в. 12, с.5-9.

75. Скипетров Е.П., Ковалёв Б.Б. Зона радиационных дефектов в сплавах PbixSnxSe с инверсным спектром. //Неорг. Матер., 1992, т.28, №12, с.2322-2326.

76. Brandt N.B., Kovalev В.В., Skipetrov E.P. Pressure studies of the energy spectrum of irradiation-induced defects in Pb|xSnxSe. //Proc. IV Int. Conf. "High Pressure in Semiconductor Physics". Thessaloniki, Greece, 1990, p. 170-173.

77. Ковалёв Б.Б., Скипетров Е.П. Глубокий локальный уровень в сплавах PbixSnxSe(x<0.03), облучённых электронами. //Материалы VIII Всесоюзного сипозиума по полупроводникам с узкой запрещённой зоной и полуметаллам. Львов, 1991, ч.П, с.181-183.

78. Brandt N.B., Kovalev В.В., Skipetrov E.P. Pressure studies of the energy spectrum of irradiation-induced defects in PbixSnxSe. //Semicond. Sci. Technol., 1991, v.6, N6, p.487-490.

79. Skipetrov E.P., Zvereva E.A., Kovalev B.B., Mousalitin A.M., Skipetrova L.A. Mechanism of defect formation process in electron-irradiated PbixSnxSe alloys with inverse band structure. //Phys. Stat. Sol. (b), 1998, v.210, N2, p.797-800.

80. Скипетров Е.П., Ковалев Б.Б., Скипетрова JI.А., Зверева E.A. Кинетика накопления радиационных дефектов при глубоком электронном облучении сплавов PbixSnxSe. //ФТП, 1998, т. 32, в.12, с.1409-1413.

81. Брандт Н.Б., Скипетров Е.П., Ковалев Б.Б., Скипетрова Л.А. Энергетический спектр радиационных дефектов в сплавах Pbi.xSnxSe (х<0.06), облученных электронами. //Вестн. Моск. Ун-та. Сер.З, Физика. Астрономия, 1999, т.40, в.2, с.42-45.

82. Брандт Н.Б., Скипетров Е.П., Слынько Е.И., Хорош А.Г., Штанов В.И. Гальваномагнитные эффекты в сплаве p-PbixSnxTe(x=0.2), облученном электронами. //ФТП, 1990, т.24, в.1, с.51-58.

83. Брандт Н.Б., Скипетров Е.П., Хорош А.Г. Резонансная зона радиационных дефектов в сплаве p-Pbi.xSnxTe(x=0.2), облученном электронами. //ФТП, 1992, т.26, в.5, с.888-895.

84. Скипетров Е.П., Некрасова А.Н., Пелехов Д.В, Сидоров В.И. Электрофизические свойства p-Pb i .^пДе^О .2) при глубоком облучении электронами. //Неорг. Матер., 1992, т.28, №12, с.2372-2376.

85. Tao T.F., Wang C.C., Sunier J.W. Effect of proton bombardment on Pbo.76Sno.24Se. //Appl. Phys. Lett., 1972, v.20, N7, p.235-237.

86. Wang C.C., Tao T.F., Sunier J.W. Proton bombardment and isochronal annealing of p-type Pbo.76Sno.24Se. //J. Appl. Phys., 1974, v.45, N9, p.3981-3987.

87. Брандт Н.Б., Гаськов A.M., Ладыгин E.A., Скипетров Е.П., Хорош А.Г. О положении локальных уровней радиационных дефектов в сплавах Pb.xSnxTe, облученных протонами. //ФТП, 1989, т.23, в.11, с.2034-2038.

88. Кайданов В.И., Мельник Р.Б., Черник И.А. Исследование теллурида свинца с примесью индия. //ФТП, 1973, т.8, в.4, с.759-762.

89. Голубев В.Г., Гречко Н.И., Лыков С.Н., Сабо Н.П., Черник И.А. Электрические свойства твердых растворов Pbi.xInxTe при температурах жидкого гелия. //ФТП, 1977, т.11, в.9, с.1704-1708.

90. Ерасова Н.А., Ефимова Б.А., Захарюгина Г.Ф., Кайданов В.И. Примесные состояния In в некоторых твёрдых растворах на основе PbTe. //Изв. АН СССР. Неорг. Матер., 1978, т. 14, в.5, с.870-874.

91. Драбкин И.А., Квантов М.А., Компаниец В.В. Магнитная восприимчивость PbTe с примесью In. //ФТП, 1979, т.13, в.Ю, с.2064-2066.

92. Акимов Б.А. Энергетический спектр, глубокие квазилокальные уровни и метастабильные электронные состояния в халькогенидах свинца и олова. //Докт. дисс., М.: МГУ, 1985.

93. Feit Z., Eger D., Zemel A. Quasilocal impurity states in Pb!xSnxTe and PbSe0.08Te0.92 liquid-phase epitaxial layers doped with group-Ill elements. //Phys. Rev. B, 1985, v.31, N6, p.3903-3909.

94. Сизов Ф.Ф., Пляцко C.B., Лакеенков B.M. Глубокие уровни в PbTe. //ФТП, 1985, т.19., в.4, с.592-596.

95. Вейс А.Н., Немов С.А. Температурная зависимость положения квазилокального уровня в РЬТе<1п>. //ФТП, 1980, т.14, в.1, с.1130-1133.

96. Akimov B.A., Brandt N.B., Ryabova L.I., Sokovishin V.V., Chudinov S.M. Band edge motion in quantizing magnetic field and nonequlibrium states in Pb.xSnxTe alloys doped with In. //J. Low Temp. Phys., 1983, v.51, N1/2, p.9-32.

97. Акимов Б.А., Зломанов В.П., Рябова Л.И., Чудинов С.М., Яценко О.Б. Переходы полупроводник-металл-полупроводник в сплавах PbixSnxTe(In) под действием давления. //ФТП, 1979, т.13, в.7, с.1293-1301.

98. Акимов Б.А., Вадхва Р.С., Зломанов В.П., Рябова Л.И., Чудинов С.М. Переход в бесщелевое состояние под действием давления в сплаве Pbi.xSnxTe с примесью In. //ФТП, 1977, т.11, в.6, с.1077-1083.

99. Мойжес Б.Я., Драбкин И.А., Диссоциация нейтральных состояний гетеровалентной примеси (In, Ga, Т1) в РЬТе. //Проблемы современной физики. Л.: Наука, 1980, с.128-145.

100. Драбкин И.А., Мойжес Б.Я. Спонтанная диссоциация нейтральных состояний примеси на положительно и отрицательно заряженные состояния. //ФТП, 1981, т. 15, в.4, с.625-648.

101. Grodzicka Е., Dobrowolski W., Kossut J., Story Т., Witkowska В. Peculiarities of transport properties in semiconductors with resonant impurities: HgSe:Fe versus PbTe:Cr. //J. Cryst. Growth, 1994, v.138, N1-4, p.1034-1039.

102. Grodzicka E., Dobrowolski W., Story Т., Wilamowski Z., Witkowska B. A study of the resonant Cr donor in IV-VI lead compounds. //Cryst. Res. Technol., 1996, v.31 S, p.651-654.

103. Akimov B.A., Lvova N.A., Ryabova L.I. Quantum oscillatory properties of the semimagnetic semiconductor PbTe(Cr). //Phys. Rev. B, 1998, v.58, N16, p. 10430-10434.

104. Story Т., Gorska M., Lusakowski A., Arciszewska M., Dobrowolski W., Grodzicka E., Golacki Z., Galazka R.R. New mechanism of f-f exchange interactions controlled by Fermi level position. //Phys. Rev. Lett., 1996, v.77, N16, p.3447-3450.

105. Story Т. IV-VI semimagnetic semiconductors with rare earth ions. //Acta Phys.- 121

106. Polonica A, 1997, v.92, N4, p.663-672.

107. Grodzicka E., Dobrowolski W., Story T. Resonant state of 4f14/13 Yb ion in Pbi.xGexTe. //Acta Phys. Polonica A, 1996, v.90, N4, p.801-804.

108. Выграненко Ю.К., Слынько Е.И. Фотоэлектрические свойства твёрдых растворов PbixGexTe<Ga,Yb>. //ФТП, 1996, т.ЗО, в. 10, с. 1876-1878.

109. Skipetrov Е.Р., Chernova N.A., Slyn'ko E.I., Vygranenko Yu.K. Energy spectrum and parameters of deep impurity level in Pbi.xGexTe alloys doped with Yb. //Phys. Rev. B, 1999, v.59, N20, p.12928-12934.

110. Skipetrov E.P., Chernova N.A., Slyn'ko E.I. Ytterbium-induced Jahn-Teller states in PbixGexTe alloys. //J. Cryst. Growth, 2000, v.210, N1-3, p.288-291.

111. Бытенский Л.И., Кайданов В.И., Макеенко В.П., Мельник Р.Б., Немов С.А. Самокомпенсация донорного действия висмута в телуриде свинца. //ФТП, 1984, т.18, в.13, с.489-492.

112. Лыков С.Н., Черник И.А. Осцилляционные эффекты Шубникова-де Гааза в теллуриде свинца с примесью индия. //ФТП, 1980, т.14, в.1, с.47-54.

113. Абдуллин Х.А., Лебедев А.И. Спектры и кинетика примесной фотопрововодимости легированных индием твёрдых растворов Pbi.xGexTe. //Письма в ЖЭТФ, 1984, т.39, в.6, с.272-274.

114. Акимов Б.Б., Брандт Н.Б., Рябова Л.И., Хохлов Д.Р. Фотопроводимость сплавов PbixSnxTe, легированных Al, Ga, In, Cd. //Письма в ЖЭТФ, 1980, т.6,в.20, с. 1269-1273.

115. Акимов Б.Б., Албул А.В., Рябова Л.И. Кинетика фотопроводимости PbTe(Ga). //ФТП, 1995, т.29, в. 12, с.2158-2168.

116. Akimov В.А., Bogoyavlenskiy V.A., Ryabova L.I., Vasil'kov V.N., Zimin S.P. Photoconductivity kinetics in high resistivity n-PbTe(Ga) epitaxial films. //Semicond. Sci. Technol., 1999, v. 14, N8, p.679-684.

117. Волков Б.А., Панкратов O.A. Ян-Теллеровская неустойчивость кристаллического окружения точечных дефектов в полупроводниках А4В6. //ДАН СССР, 1980, т.255, в.1, с.93-97.

118. Волков Б.А., Осипов В.В., Панкратов O.A. Перестройка дефектов и долговременные релаксации неравновесных носителей в узкозонных полупроводниках. //ФТП, 1980, т. 14, в.7, с.1387-1389.

119. Каган Ю., Кикоин К.А. Туннельная примесная автолокализация в полупроводниках. Природа аномальных свойств соединений PbixSnxTe с примесью индия. //Письма в ЖЭТФ, 1980, т.31, в.6, с.367-371.

120. Васильев А.Н., Волков Б.А., Волошок Т.Н., Кувшинников C.B. Природа и зарядовые состояния примеси Ga в РЬТе. //Письма в ЖЭТФ, 1995, т.61, в.9, с.768-773.

121. Васильев А.Н., Волков Б.А., Волошок Т.Н., Кувшинников C.B. Неравновесная парамагнитная восприимчивость примесных центров галлия в теллуриде свинца. //ЖЭТФ, 1998, т.114, в.5(11), с.1859-1867.

122. Шейкман М.К., Шик А.Я. Долговременные релаксации и остаточная проводимость в полупроводниках (обзор). //ФТП, 1976, т. 10, в.2, с.209-233.

123. Андреев Ю.В., Гейман К.И., Драбкин И.А., Матвеенко A.B., Можаев Е.А., Мойжес Б.Я. Электрические свойства Pb!xSnxTe с примесью индия. //ФТП, 1975, т.9, в.Ю, с.1873-1878.

124. Anderson P.W. Model of the electronic structure of amorphous semiconductors. //Phys. Rev. Lett., 1975, v.34, N15, p.953-955.

125. Romcevic N., Romcevic M., Khokhlov D.R., Ivanchik I.I. Optical properties of gallium-doped PbTe. //High-temperature semiconductor and novel inorganic materials, ed. G. van Tendeloo et al, 1999, Kluwer Academic Publ., p.297-302.

126. Белогорохов А.И., Иванчик И.И., Попович 3., Ромчевич H., Хохлов Д.P.

127. Структура DX-подобных центров в узкозонных полупроводниках AIVBVI, легированных элементами III группы. //ФТП, 1998, т.32, в.6, с.679-683.

128. Белогорохов А.И., Слынько Е.И., Хохлов Д.Р. Аномалии спектров фотопроводимости PbTe(Ga). //Письма в ЖТФ, 1992, т. 18, в.8, с.30-34.

129. Акимов Б.Б., Албул А.В., Ильин В.Ю., Некрасов М.Ю., Рябова Л.И. Спектры фотопроводимости и проблема примесных состояний в PbTe(Ga). //ФТП, 1995, т.29, в.11, с.2015-2023.

130. Belogorokhov A.I., Ivanchik I.I., Khokholov D.R., Ponomarev S. Local lattice mode-induced far-infrared selective photoconductivity in PbTe(Ga). //Brazil. J. Phys., 1996, v.26, N1, p.308-312.

131. Herrmann K.H., Mollmann K.-P., Wendt M. Photoeffects in strongly gallium-doped lead telluride above critical temperature. //Phys. Stat. Sol. (a), 1983, v.80, N2, p.541-546.

132. Засавицкий И.И., Мацонашвили Б.Н. Панкратов O.A., Трофимов В.Т. Двухэлектронные захваты и параметры Ян-теллеровского центра в Pb,xSnxTe:In. //Письма в ЖЭТФ, 1985, т.42, в.1, с.3-6.

133. Засавицкий И.И., Матвеенко А.В., Мацонашвили Б.Н. Трофимов В.Т. Спектр фотопроводимости эпитаксиальных слоев Pbi.xSnxTe(In). //ФТП, 1986, т.20, в.2, с.214-220.

134. Абдуллин Х.А., Лебедев А.И. Примесная фотопрововодимость в твёрдом растворе PbixyGexSnyTe, легированном индием. //ФТП, 1985, т. 19, в. 10, с.1725-1730.

135. Lebedev A.I., Abdullin Kh.A. Impurity photoconductivity and electrical properties of Pbi.x.yGexSnyTe doped with indium. //Phys. Stat. Sol. (a), 1985, v.91, N1, p.225-234.

136. Акимов Б.А., Никорич A.B., Хохлов Д.Р., Чесноков С.Н. Проводимость сплавов Pb0.75Sn0.25Te(In) при комбинированном воздействии электрического и магнитного полей. //ФТП, 1989, т.23, в.4, с.668-672.

137. Akimov В.А., Khokhlov D.R. Lead telluride-based photodetectors: a newapproach. //Semicond. Sci. Technol., 1993, v.8, N1S, p.S349-S351.

138. Волков Б.А., Ручайский O.M. Внутрицентровые кулоновские корреляции, зарядовые состояния и спектр примесей III группы в узкощелевых полупроводниках AIVBVI. //Письма в ЖЭТФ, 1995, т.62, в.З, с.205-209.

139. Volkov В.А. //Lead Chalcogenides: Physics and Applications, ed. D. Khokhlov, New York: Gordon and Breach Publishers, 2000, in press.

140. Akimov B.A., Bogoyavlenskiy V.A., Ryabova L.I., Vasil'kov V.N. Observation and experimental study of negative photoconductivity in n-PbTe(Ga) epitaxial films. //Phys. Rev. B, 2000, v.61, N23, p.16045-16051.

141. Preier H. Recent advances in lead-chalcogenide diode lasers. //Appl. Phys., 1979, v.20, N3, p. 189-206.

142. Бушмарина Г.С., Грузинов Б.Ф., Дедегкаев T.T., Драбкин И.А., Жукова Т.Б., Лев Е.Я. Особенности легирующего действия Ga в РЬТе и твердых растворах PbTe-SnTe. //Изв. АН СССР. Неорг. матер., 1980, т.16, в.12, с.2136-2140.

143. Бушмарина Г.С., Грузинов Б.Ф., Драбкин И.А., Лев Е.Я., Нельсон И.В. О стабилизации уровня Ферми в сплавах PbixGexTe, легированных Ga. //ФТП, 1977, т.11, в.10, с.1874-1881.

144. Вейс А.Н., Кайданов В.И., Костылева Н.А., Мельник Р.Б., Уханов Ю.И. Примесные состояния галлия в теллуриде свинца. //ФТП, 1973, т.7, в. 5, с.928-930.

145. Акимов Б.А., Албул А.В., Иванчик И.И., Рябова Л.И., Слынько Е.И., Хохлов

146. Д.Р. Влияние легирования галлием на свойства твёрдых растворов

147. Pbi„xGexTe. //ФТП, 1993, т.27, в.2, с.351-354. • • б

148. Акимов Б.А., Брандт Н.Б., Рябова Л.И., Хохлов Д.Р., Чудинов С.М., Яценко

149. О.Б. Аномальное поведение примесных центров в сплавах Pb.xSnxTe(Ga) под действием давления. //Письма в ЖЭТФ, 1980, т.31, в.5, с.304-307.

150. Аверкин А.А., Бушмарина Г.С., Драбкин И.А., Санфиров Ю.З. Влияние гидростатического сжатия на электрические свойства PbixGexTe с-125 примесью Ga. //ФТП, 1978, т. 12, в.11, с.2219-2223.

151. Аверкии А.А., Бушмарииа Г.С., Драбкин И.А., Саифиров Ю.З. Влияние всестороннего сжатия на электрические свойства PbixSnxTe с примесью Ga. //ФТП, 1981, т. 15, в.1, с.197-199.

152. Скипетров Е.П., Некрасова А.Н., Пелехов Д.В, Рябова Л.И., Сидоров В.И. Электрические и фотоэлектрические свойства PbTe(Ga), облучённого электронами. //ФТП, 1994, т.28, в.9, с. 1626-1635.

153. Скипетров Е.П. Стабилизация донорного действия галлия в сплавах PbixSnxTe, облученных электронами. //ФТП, 1995, т.29, в.8, с.1416-1424.

154. Брандт Н.Б., Пономарев Я.Г. Электронные переходы в сплавах висмут-олово, висмут-свинец, висмут-сурьма и висмут-сурьма-свинец под действием давления. //ЖЭТФ, 1968, т.55, в.4(10), с.1215-1237.

155. Jennings L.D., Swenson С.A. Effects of pressure on the superconducting transition temperatures of Sn, In, Та, T1 and Hg. //Phys. Rev., 1958, v. 112, N1, p.31-43.

156. Киреев П.С. Физика полупроводников. //M.: Высшая школа, 1975.

157. Petritz R.L. Theory of an experiment for measuring the mobility and density of carriers in the space-charge region of semiconductor surface. //Phys. Rev., 1958, v. 110, №6, p.1254-1262.

158. Петровский В.И., Соловьев H.H., Омельяновский Э.М., Ивлева B.C. Влияние поверхностной проводимости на электрофизические свойства компенсированного n-InSb. //ФТП, 1978, т. 12, в. 10, с. 1904-1908.

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.