Оценка и повышение метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем с учетом влияния внешних факторов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.16, кандидат технических наук Третьяков, Владимир Владиславович

  • Третьяков, Владимир Владиславович
  • кандидат технических науккандидат технических наук
  • 2017, ТамбовТамбов
  • Специальность ВАК РФ05.11.16
  • Количество страниц 183
Третьяков, Владимир Владиславович. Оценка и повышение метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем с учетом влияния внешних факторов: дис. кандидат технических наук: 05.11.16 - Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям). Тамбов. 2017. 183 с.

Оглавление диссертации кандидат технических наук Третьяков, Владимир Владиславович

СОДЕРЖАНИЕ

Наиболее часто употребляемые обозначения и сокращения

ВВЕДЕНИЕ

1 АНАЛИЗ ПРОБЛЕМЫ ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ

1.1 Общая характеристика состояния проблемы метрологической надежности информационно-измерительных систем

1.2 Математическое моделирование изменения во времени метрологических характеристик информационно-измерительных систем

1.3 Обзор существующих методов оценки метрологической надежности информационно-измерительных систем

1.4 Анализ существующих методов повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем

1.5 Постановка задачи оценки и повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем с учетом влияния внешних факторов „ ..43 Выводы

2 ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ МЕТОДА ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ АНАЛОГОВЫХ БЛОКОВ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ НА ЭТАПЕ ИХ ПРОЕКТИРОВАНИЯ С УЧЕТОМ ВЛИЯНИЯ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ

2.1 Построение математической модели изменения во времени параметров элементной базы проектируемых аналоговых блоков

информационно-измерительных систем

2.2 Алгоритм оценки метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем с учетом влияния внешних факторов „ ..57 2.2.1 Процедура статистического моделирования метрологических характеристик аналоговых блоков информационно-измерительных систем

2.2.2 Построение регрессионной математической модели изменения во времени метрологических характеристик аналоговых блоков

информационно-измерительных систем

2.3 Алгоритм повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем с учетом влияния внешних факторов

3 ПОВЫШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ АНАЛОГОВЫХ БЛОКОВ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ НА ЭТАПЕ ЭКСПЛУАТАЦИИ

3.1 Коррекция выходных сигналов измерительного канала

информационно-измерительных систем

3.2 Алгоритм повышения метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем на этапе эксплуатации

3.3 Структура информационно-измерительной системы, реализующая алгоритм повышения метрологической надежности входящих в ее состав

аналоговых блоков на этапе эксплуатации

Выводы

4 РЕАЛИЗАЦИЯ РАЗРАБОТАННЫХ АЛГОРИТМОВ ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ АНАЛОГОВЫХ БЛОКОВ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ

НА ЭТАПАХ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И ЭКСПЛУАТАЦИИ

4.1 Оценка метрологической надежности исследуемого аналогового блока

на этапе проектирования

4.2 Реализация разработанного алгоритма повышения метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем на этапе проектирования

4.3 Реализация разработанного алгоритма повышения метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем

на этапе эксплуатации

Выводы

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ

ПРИЛОЖЕНИЯ

Приложение А Текст программы, реализующей разработанные алгоритмы оценки и повышения метрологической надежности при проектировании

и эксплуатации аналоговых блоков информационно-измерительных систем

Приложение Б Результаты проведения процедуры статистического моделирования метролгической характеристики исследуемого

аналогового блока при различных значениях внешних влияющих факторов

Приложение В Свидетельства о государственной регистрации

программ для ЭВМ

Приложение Г Материалы по внедрению результатов исследования

Наиболее часто употребляемые обозначения и сокращения

S - метрологическая характеристика; т - математическое ожидание;

у - функция, определяющая границы отклонений метрологической характеристики от ее математического ожидания; г - время;

гр - время, соответствующее значению метрологического ресурса; Т1, Т2 - области контроля и прогноза соответственно; х - входной параметр; у - выходной параметр;

£ - вектор параметров элементов;

ф - вектор внешних влияющих факторов окружающей среды; Т - температура; F - относительная влажность; Р - давление;

Е - радиационное воздействие;

5 - основная относительная погрешность измерения; АБ - аналоговый блок;

ИИС - информационно-измерительная система;

ИК - измерительный канал;

ИС - измерительное средство;

ММ - математическая модель;

МН - метрологическая надежность;

МР - метрологический ресурс;

МХ - метрологическая характеристика;

ОС - окружающая среда;

ПНЧ - преобразователь напряжение-частота;

ЭБ - элементная база.

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)», 05.11.16 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Оценка и повышение метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем с учетом влияния внешних факторов»

ВВЕДЕНИЕ

Актуальность темы исследования

Среди различных классов измерительных средств (ИС) в настоящее время значительное распространение получили информационно-измерительные системы (ИИС), позволяющие реализовать достаточно сложные методики и алгоритмы измерений. Конструктивная, структурная и алгоритмическая сложность современных ИИС делает задачу обеспечения их высокого уровня метрологической надежности (МН) особенно актуальной.

Метрологическая надежность является показателем качества ИИС, характеризующим их свойство сохранять во времени метрологические характеристики (МХ) в пределах установленных норм при эксплуатации в заданных режимах, техническом обслуживании, хранении и транспортировании. То есть МН определяется характером и темпом изменения нормируемых МХ исследуемых ИИС. Основным количественным показателем МН является метрологический ресурс (МР), определяемый временем пересечения реализаций нестационарного случайного процесса изменения во времени МХ границ поля допуска.

Как показывают теоретические и практические исследования, МН ИИС определяется, как правило, метрологической надежностью входящих в состав их измерительных каналов (ИК) аналоговых блоков (АБ), так как именно в АБ протекают основные процессы преобразования измеряемой физической величины. Следовательно, для обеспечения высокого уровня МН ИИС в целом необходимо обеспечить высокий уровень метрологической надежности входящих в них аналоговых блоков.

На этапе эксплуатации ИИС подвергается влиянию внешних дестабилизирующих воздействий окружающей среды (ОС), таких, например, как температура, влажность, давление и радиационный фон, при отклонении которых от нормальных условий ускоряются деградационные процессы, возникающие в элементной базе (ЭБ) АБ и вызывающие изменения их номиналов, что в свою

очередь, приводит к изменению метрологических свойств ИИС и сокращению их метрологического ресурса. Следовательно, исследование процессов изменения во времени МХ ИИС, а также разработка принципиально новых методов и алгоритмов оценки и повышения уровня МН АБ ИИС с учетом влияния внешних факторов ОС, как на этапе проектирования, так и на этапе эксплуатации, является крайне актуальной задачей современной метрологии, решение которой позволит потребителю прогнозировать МН АБ ИИС без проведения долгосрочных экспериментов и дать рекомендации по их эксплуатации.

Объект исследования: Метрологическая надежность аналоговых блоков информационно-измерительных систем.

Предмет исследования: процессы изменения МХ АБ ИИС.

Методы исследования основаны на математическом моделировании, статистическом моделировании, аналитико-вероятностном прогнозировании, экстраполяции и интерполяции, а также методов математической статистики и компьютерного моделирования.

Научная новизна. В диссертации получены следующие основные результаты, характеризующиеся научной новизной:

1. Разработана математическая модель изменения во времени параметров элементной базы аналоговых блоков ИИС, отличающаяся учетом влияния на исследуемый АБ кроме температуры и влажности дополнительно давления и радиационного воздействия, что повышает адекватность описания физико-химических процессов, происходящих в элементной базе АБ. Предложенная модель положена в основу разработанного в диссертации нового метода оценки и повышения метрологической надежности исследуемых измерительных средств, состоящего из алгоритма оценки МН и алгоритмов повышения МН на этапе проектирования и эксплуатации АБ ИИС соответственно, сущость которых изложена ниже.

2. Разработан алгоритм оценки метрологического ресурса при проектировании АБ ИИС учитывающий совместное влияние температуры, влажности, давления и радиационного воздействия окружающей среды на

метрлогические свойства исследуемых измерительных средств на основе многофакторной регрессионной модели изменения во времени МХ и позволяющей дать вероятностную оценку МР АБ ИИС в различных условиях предстоящей эксплуатации.

3. Разработан алгоритм повышения метрологической надежности АБ ИИС на этапе проектирования, состоящий в определении отличных от нормальных условий эксплуатации значений внешних факторов, обеспечивающих максимальный уровень метрологического ресурса как основного показателя метрологической надежности АБ ИИС.

4. Разработан алгоритм повышения метрологического ресурса ИИС на этапе эксплуатации, предусматривающий по результатам проводимых метрологических поверок и при достижении погрешности измерения порогового уровня введение коррекции выходного сигнала исследуемого измерительного средства, осуществляемой встроенной в структуру информационно-измерительной системы подсистемой метрологического контроля.

На защиту выносятся следующие основные положения:

1. Разработанная математическая модель (ММ), характеризующая процесс изменения параметров элементной базы АБ ИИС во времени, учитывающая комплексное воздействие на исследуемый блок температуры, влажности, давления и радиационного фона ОС.

2. Алгоритм оценки метрологического ресурса АБ ИИС, учитывающий совместное воздействие указанных внешних влияющих.

3. Алгоритм повышения метрологического ресурса при проектировании аналоговых блоков ИИС, учитывающий комплексное влияние внешних факторов.

4. Алгоритм повышения метрологического ресурса информационно-измерительных систем на этапе их эксплуатации.

Целью диссертационной работы является повышение метрологической надежности информационно-измерительных систем на этапе проектирования и снижение затрат при их эксплуатации на основе разработки метода оценки и повышения МН с учетом внешних влияющих факторов.

Для достижения указанной цели необходимо решить следующие задачи:

1. Исследовать механизмы воздействия внешних влияющих факторов на процессы изменения параметров элементов проектируемых блоков ИИС и разработать математическую модель, характеризующую зависимость параметров элементной базы от времени, а также от таких внешних дестабилизирующих факторов окружающей среды как температура, влажность, давление и радиационное воздействие.

2. Разработать алгоритм оценки метрологической надежности АБ ИИС с учетом влияния указанных дестабилизирующих факторов ОС.

3. Разработать алгоритмы повышения метрологической надежности АБ ИИС, учитывающие воздействие обозначенных внешних влияющих факторов.

Теоретическая значимость работы:

1. Разработана обобщенная математическая модель, определяющая изменение во времени параметров элементной базы аналоговых блоков с учетом внешних влияющих факторов.

2. Разработан алгоритм оценки МР, позволяющий прогнозировать МН АБ ИИС при различных сочетаниях внешних факторов ОС.

3. Разработаны алгоритмы повышения МН, позволяющие решить задачу определения значений внешних факторов ОС, обеспечивающих увеличение МР как при проектировании, так и при эксплуатации АБ ИИС.

Практическая значимость работы:

1. Реализация разработанного алгоритма повышения МР ИИС на этапе эксплуатации позволит провести обоснованный выбор времени проведения поверочных и профилактических работ, что способствует снижению финансовых и временных затрат на эксплуатацию ИИС.

2. Разработаны программы для ЭВМ, реализующие алгоритмы оценки и повышения метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем на этапах проектирования и эксплуатации.

3. Результаты диссертационной работы используются как инженерные методики при оценке и повышении МР АБ различных типов ИИС.

Внедрение результатов исследования

Результаты диссертационной работы приняты к использованию на предприятии ПАО «Электроприбор», а также в учебном процессе ТГТУ.

Степень достоверности и апробация результатов исследования

Достоверность научных результатов работы подтверждается корректностью постановки задач и методов, изложенных в фундаментальных трудах отечественных и зарубежных ученых. Научные положения диссертации обоснованы и подтверждены воспроизводимостью и соответствием экспериментальных и расчетных результатов.

Основные результаты исследований представлялись и обсуждались на 11 всероссийских и международных конференциях, в том числе на Всероссийских научно-технических конференциях курсантов, слушателей и молодых ученых, посвященных Дню образования войск связи «Современное состояние и перспективы развития систем связи и радиотехнического обеспечения в управлении авиацией» (2013, 2014, 2016, Воронеж), 1-ой, 2-ой и 3-ей Международных конференциях с элементами научной школы «Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах» (2014, 2015, 2016, Тамбов), XXVII Международной научной конференции «Математические методы в технике и технологиях» ММТТ-27 (2014, Саратов), Международной научно-практической конференции «Проблемы теории и практики современной науки» (2015, Нефтекамск), Международной (заочной) научно-практической конференции «Научные перспективы XXI века» (2015, Нефтекамск), Международной молодежной научно-практической конференции «Тенденции и инновации современной науки» (2015, г. Прага, Чехия), Международная научно-практическая конференция «Проблемы и перспективы развития науки и образования в XXI веке» (2017, г. София, Болгария).

Публикации. Список научных трудов по теме диссертации содержит 24 публикации, из них 10 статей (7 статей в журналах, рекомендуемых ВАК при Минобрнауки РФ), 10 тезисов докладов и 4 свидетельства о государственной регистрации программ для ЭВМ.

Объем и структура диссертационной работы

Диссертационная работа включает введение, четыре главы, заключение, четыре приложения, изложенные на 183 страницах машинописного текста, 22 рисунка и 9 таблиц. Список использованных источников состоит из 138 наименований.

Во введении обозначена актуальность темы исследования, сформулирована цель и поставлены задачи для ее достижения, раскрыта научная новизна, а также теоретическая и практическая значимость проводимых исследований.

В первой главе проведен анализ существующих методов и алгоритмов оценки и повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем, а также обозначены основные их недостатки. Выявлено, что существующие методы оценки и повышения МН не учитывают комплексное влияние на АБ ИИС температуры, влажности, давления и радиационного воздействия. На основе проведенного анализа можно сделать вывод, что наиболее оптимальными являются методы аналитико-вероятностного прогнозирования, позволяющие дать вероятностную оценку метрологического ресурса при проектировании АБ ИИС без проведения длительных экспериментов.

Обозначено, что МН ИИС определяется, как правило, метрологической надежностью входящих в состав их измерительных каналов аналоговых блоков. Обоснованы основные причины и механизмы старения элементов АБ ИИС под воздействием указанных факторов ОС.

Проведенный обзор ранее разработанных методов повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем показал, что наиболее актуальным является метод, основанный на введении в структуру ИИС подсистемы метрологического контроля, что позволит повысить метрологический ресурс АБ ИИС как на этапе проектирования, так и на этапе эксплуатации.

Также перспективным направлением повышения МН АБ ИИС является поиск оптимальных значений внешних влияющих факторов ОС, позволяющих обеспечить максимальный уровень МР проектируемых блоков.

Во второй главе описаны процессы, протекающие в структуре элементной базы аналоговых блоков информационно-измерительных систем под воздействием внешних влияющих факторов ОС и приводящие к отклонению параметров элементов проектируемых блоков от номинальных значений. Построена математическая модель, описывающая процесс изменения с течением времени параметров элементной базы АБ ИИС, учитывающая комплекстное влияние температуры, влажности, давления и радиационного воздействия.

Разработан алгоритм оценки МН АБ ИИС на этапе проектирования. В основу алгоритма положен метод аналитико-вероятностного прогнозирования, позволяющий, с заданной доверительной вероятностью, определить МР проектируемого блока при любых сочетаниях значений обозначенных внешних влияющих факторов ОС. Реализация разработанного алгоритма основывается на построении регрессионной ММ изменения во времени погрешности проектируемых АБ ИИС, позволяющей определить их МР, как основной показатель МН, с учетом комплексного влияния температуры, влажности, давления и радиационного воздействия.

Разработан алгоритм повышения метрологической надежности АБ ИИС на этапе проектирования, заключающийся в определении значений внешних исследумых факторов ОС, обеспечивающих максимальный МР проектируемых блоков. В основу алгоритма положен поисковый метод оптимизации, позволяющий определить наиболее оптимальные значения внешних влияющих факторов ОС для проектируемого блока ИИС.

В третьей главе разработан алгоритм повышения метрологической надежности АБ ИИС на этапе эксплуатации. Алгоритм заключается во введении в структуру ИИС подсистемы метрологического контроля, осуществляющей контроль изменения во времени погрешности измерения ИИС и вносящей корректирующее значение в выходной измеряемый сигнал. В результате погрешность компенсируется, и на выходе ИК ИИС формируется скорректированный сигнал. Таким образом, ИИС продолжает корректно функционировать. При реализации разработанного алгоритма применяется

принцип подачи на вход ИК ИИС образцовых сигналов, используемых для расчета погрешности измерения и формирования поправочной величины, вносимой в выходной измеряемый сигнал.

Преимуществом предлагаемого алгоритма является возможность рационального планирования сроков проведения очередных поверок ИИС, что, в свою очередь, является важной экономической составляющей.

В четвертой главе рассматривается практическая реализация разработанных алгоритмов оценки и повышения метрологичесуой надежности АБ ИИС на этапах проектирования и эксплуатации. Данные алгоритмы реализованы на примере исследования аналогового блока преобразователь напряжение-частота (ПНЧ). Для данного блока построена ММ его функционирования, математическая модель МХ ПНЧ, а также регрессионная модель изменения во времени МХ данного преобразователя, учитывающая влияние температуры, влажности, давления и радиационного воздействия ОС, и позволяющая определить МР преобразователя напряжение-частота при любых сочетаниях исследуемых внешних влияющих факторов.

Реализован разработанный алгоритм повышения МН АБ ИИС на этапе проектирования на примере указанного АБ. Результаты данной реализации показали, что применение разработанного алгоритма способствует повышению МР при проектировании АБ ИИС в среднем на 15 %.

Представлены результаты реализации разработанного алгоритма повышения МН ИИС на этапе эксплуатации. Данные результаты свидетельствуют о повышении МР не менее чем на 30 % в результате реализации предлагаемого алгоритма.

В приложениях представлены листинги разработанного программного обеспечения реализующего предлагаемые алгоритмы оценки и повышения МН при проектировании и эксплуатации АБ ИИС, свидетельства о регистрации программ для ЭВМ, а также результаты статистического моделирования МХ исследуемого АБ ИИС и материалы по внедрению.

1 АНАЛИЗ ПРОБЛЕМЫ ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ

МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ.

ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ

1.1 Общая характеристика состояния проблемы метрологической надежности информационно-измерительных систем

Понятие и проблема метрологической надежности измерительных средств были сформулированы в 1969 году ученым В.О. Арутюновым. Постановка данной проблемы была обусловлена неконструктивностью методов классической теории надежности при оценке МН ИС [1,2].

Проведенные исследования по указанной проблеме [2,3] доказали невозможность применения классического математического аппарата для оценки МН ИС. Это связано, в первую очередь, со спецификой ИС: ее метрологическими свойствами, связями между показателями надежности и точности.

Необходимо подчеркнуть, что в теории МН ИИС не могут быть применены два фундаментальных допущения общей теории надежности [4,5] о неизменности количества отказов и взаимной независимости отказов разных компонентов измерительного средства. ИИС характеризуются нестационарным процессом изменения их метрологических характеристик, что приводит, в результате, к метрологическому отказу [6].

Установлено [8,9], что для ИИС большинство отказов составляют постепенные метрологические отказы, обусловленные постепенным изменением МХ. Доля наиболее опасных метрологических отказов ИИС, приводящих к искажению получаемой измерительной информации, составляет от 30% до 100% [8-10]. Данные отказы возникают в результате закономерно протекающих в элементах АБ ИИС процессов старения, износа и изменения параметров ЭБ. Применение методов для анализа МН ИИС, основанных на указанных допущениях, может быть причиной грубых ошибок. Например, прогнозируемое в

соответствии с ними значение межповерочного интервала (МПИ), может оказаться на порядок меньше его реальных значений [4,7,10,11].

Данные обстоятельства сделали проблему разработки теории метрологической надежности, учитывающей специфику метрологических отказов ИИС наиболее приоритетной. Работы по указанной проблеме проводились в 1970-х годах в метрологических институтах Госстандарта, научных организациях и предприятиях приборостроительных отраслей промышленности, многих высших учебных заведениях и научно-исследовательских институтах [12-18].

Наиболее известные и значимые работы [4-9] в области решения проблемы МН ИИС связаны с именами ученых П.В Новицкого и А.Э. Фридмана, сформулировавших основные положения теории МН ИИС. Также значительный вклад в решение задачи разработки теории метрологической надежности внесли Ю.В. Тарбеев, И. А. Зограф, М.И. Ревяков, А.В. Екимов и многие другие ученые, выдвинувшие в качестве первоочередной задачи разработку критериев оценки метрологической надежности информационно-измерительных систем [5-10].

Для оценки МН ИИС имеет место ряд показателей: показатель информационной надежности, показатель доли верных измерений с учетом постепенных метрологических отказов, показатели частоты отказов и скорости изменения частоты отказов, вероятность метрологической исправности, метрологический ресурс, коэффициент метрологической исправности и другие [19-21]. С учетом особенностей каждого показателя МН, формулируется главное положение для оценки МН [21,22]: основным процессом, определяющим МН ИИС, является нестационарный случайный процесс изменения во времени нормируемой МХ с монотонно изменяющимися во времени ее математическим ожиданием и дисперсией, приводящей к метрологическому отказу.

Физически старение любого АБ ИИС рассматривается как результат его взаимодействий с ОС [21,23-28], таких, например, как осаждение пыли, влаги, адсорбция, абсорбция и другие, приводящий к изменению его параметров. В процессе изготовления всех элементов АБ их материал подвергается различным физическим воздействиям, таким как напыление, травление, пайка, штамповка,

которые приводят к образованию дополнительных механических напряжений и нарушению структуры кристаллической решетки, то есть к разнообразным видам накопления энергии в материале. Со временем внесенные запасы энергии высвобождаются путем рассасывания внутренних напряжений, перекристаллизации, полимеризации материалов, релаксационных процессов в них и так далее.

Температура, при этом, является основным фактором, ускоряющим процесс старения [30,31]. Также на элементы АБ ИИС дополнительно воздействует повышенная температура, выделяемая другими нагревающимися при работе системы элементами.

Исходя из вышесказанного, основным фактором, влияющим на процесс старения элементов АБ являются молекулярные процессы происходящие в комплектующих элементах. Однако, как доказано в работе Ж.С. Мельницкой [22], старение элементов АБ ИИС определяется календарным временем с момента выпуска электронного блока, а не «наработка» во включенном режиме.

Исследования показывают, что с увеличением интенсивности воздействия внешних дестабилизирующих факторов ОС ускоряются деградационные процессы, происходящие в элементах, составляющих АБ ИИС [29,32], и, соответственно, ускоряется процесс старения элементов данных блоков. Следовательно, условия эксплуатации существенно влияют на показатели МН, и их неучет может привести к некорректным расчетам МПИ и преждевременным метрологическим отказам.

Однако, проблема оценки метрологической надежности информационно-измерительных систем с учетом указанных факторов ОС исследована не достаточно, особенно в отношении воздействия давления Р и радиации Е, и остается ряд спорных вопросов по поводу влияния данных факторов на метрологические характеристики АБ ИИС. Поэтому разработка методов оценки МН ИИС с учетом совместного влияния параметров ОС, таких, как влажность ^ и температура Т, давление Р и радиационное воздействие Е является актуальным задачей в теории метрологической надежности.

Имеют место два принципиальных способа получения данных о процессе деградации элементов электронных блоков и, соответственно, о процессе изменения их МХ [1,21,30]: экспериментальный и с помощью методов статистического моделирования. Экспериментальное оценивание МН ИИС представляет существенную сложность. Определить закон изменения их МХ можно лишь посредством изучения большого числа единиц ИИС одного типа на протяжении длительного времени [33-40]. Однако основным недостатком данного подхода является невозможность применения этих данных к новым поколениям информационно-измерительных систем.

По этой причине, при решении задачи оценки и прогнозирования метрологической надежности проектируемых блоков, все большую целесообразность приобретает математическое моделирование. Очевидно, что точность прогнозов, выполняемых на основе ММ изменения во времени МХ будет ограниченной и должна рассматриваться только в вероятностном аспекте. Однако результаты таких прогнозов могут использоваться при решении ряда практических задач: определении сроков профилактических поверок и необходимого числа измерений МХ при поверках; вычислении возможного МР группы ИИС на основе полученных при моделировании процессов изменения нормируемых МХ; разработке ИИС с заданным уровнем МН и других.

Из вышеизложенного следует, что перспективным направлением исследований в области МН ИИС является использование приемов математического моделирования и методов прогнозирования для построения адекватных и доступных для практического использования математических моделей процессов изменения МХ различных типов ИИС, и решение на основе построенных ММ ряда важных теоретических и практических задач.

Одним из направлений повышения метрологической надежности измерительных средств является введение в структуру ИИС подсистемы метрологического контроля. В соответствии с современным уровнем развития измерительной техники, такие функции как определение параметров МН, прогнозирование изменения МХ на период МПИ и осуществление

самодиагностики, должны быть встроены в ИИС [41-44]. Поэтому введение в измерительную цепь микропроцессорного устройства не только расширяет функциональные возможности ИИС и позволяет достичь высокой точности измерений, но и открывает возможности повышения их МН [21]. Следовательно, разработка алгоритмов, подразумевающих автоматизацию метрологического контроля и сопровождения ИИС являются перспективными и актуальными.

Возможности повышения МН с помощью коррекции погрешностей определяются тем, что при этом осуществляется управление точностью измерений в соответствии с текущими условиями [30].

1.2 Математическое моделирование изменения во времени метрологических характеристик информационно-измерительных систем

Изучение и описание любого физического процесса ставит задачу разработки адекватной математической модели, описывающий данный процесс. Разработанная модель должна иметь компактный и удобный для практического применения вид, и служить инструментом инженерной деятельности без изменений в течение длительного времени. В данном разделе дается обзор возможных вариантов математической модели, описывающей процесс изменения во времени метрологических характеристик проектируемых АБ ИИС и учитывающей воздействие внешних факторов ОС.

Погрешность измерения, вызванная дрейфом («прогрессирующая» погрешность) является доминирующей составляющей погрешности АБ ИИС [5,25,45-48]. Ооценка прогрессирующей погрешности является сложной и комплексной задачей, так как погрешность определяется свойствами разрабатываемых информационно-измерительных систем, методами и условиями проводимых измерений.

Похожие диссертационные работы по специальности «Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)», 05.11.16 шифр ВАК

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Третьяков, Владимир Владиславович, 2017 год

СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ

1. Мищенко, С. В. Метрологическая надежность измерительных средств [Текст] / С. В. Мищенко, Э. И. Цветков, Т. И. Чернышова. - М.: Машиностроение, 2001. - 218 с.

2. Проблема и специфика надежности измерительных устройств [Текст] /

B. О. Арутюнов, Б. А. Козлов, А. Б. Татиевский [и др.] // Измерительная техника.

- 1969. - № 3. - С. 9 - 13.

3. Мандельштам, С. М. Информационная надежность [Текст] /

C. М. Мандельштам // Труды Ленинградского института авиационного приборостроения. - 1966. - Вып. 48. - С. 102 - 109.

4. Абуладзе, И. В. Метрологическая надежность [Текст] / И. В. Абуладзе, С. М. Мандельштам // Измерительная техника. - 1975. - № 2 - С. 29 - 32.

5. Новицкий, П. В. Оценка погрешностей результатов измерений [Текст] / П. В. Новицкий, И. А. Зограф. - Л.: Энергоатомиздат, 1985. - 248 с.

6. Фридман, А. Э. Теория метрологической надежности средств измерений [Текст] / А. Э. Фридман // Измерительная техника. - 1991. - № 11. - С. 3 - 10.

7. Тарбеев, Ю. В. Задачи в области обеспечения стабильности и метрологической надежности средств измерений [Текст] / Ю. В. Тарбеев // Метрология. - 1977. - № 2 - С. 3 - 7.

8. Екимов, А. В. Надежность средств измерительной техники [Текст] / А. В. Екимов, М. И. Ревяков. - Л.: Энергоатомиздат, 1986. - 208 с.

9. Фридман, А. Э. Оценка метрологической надежности измерительных приборов и многозначных мер [Текст] / А. Э. Фридман // Измерительная техника.

- 1993. - № 5. - С. 7 - 10.

10. Чернышова, Т. И. Методы и информационно-измерительные системы неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов и изделий [Текст]: моногр. / Т. И. Чернышова, В. Н. Чернышов. - СПб: «Экспертные решения», 2016 - 384 с.

11. Каменская, М. А. Метод оценки метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков информационно-измерительных систем неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.11.16 / Каменская Мария Анатольевна; Тамб. гос. техн. ун-т. -Тамбов, 2016. - 158 с.

12. Иванов, Б. С. Связь между точностью и надежностью некоторых теплоэнергетических приборов [Текст] / Б. С. Иванов, Д. В. Свечарник // Измерительная техника. - 1970. - № 5. - С. 76 - 78.

13. Кондрашкова, Г. А. Количественная оценка нестабильности погрешности электронных измерительных устройств [Текст] / Г. А. Кондрашкова // Стандарты и качество. - 1967. - № 5. - С. 23-24.

14. Рябинов, М. Н. К оценке надежности геофизической аппаратуры с учётом постепенных отказов [Текст] / М. Н. Рябинов, Г. А. Кондрашкова, Н. А. Бачманов // Геофизическая аппаратура. - 1970. - Вып. 42. - С. 165 - 168.

15. Методика обеспечения надежности на этапе проектирования [Текст] : Прогнозирование стабильности и оценка серийнопригодности аналоговых устройств / Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР. - Москва : Изд-во стандартов, 1976. - 43 с.

16. Бедова, Е. М. Исследование долговечности аналоговых устройств, обладающих высокой надежностью [Текст] / Е.М. Бедова // Труды Всесоюзного научно-исследовательского института электроизмерительных приборов. - 1973. -№ 16. - С. 148 - 155.

17. Батова, Г. П. Статистический метод оценки стабильности аналоговых приборов контроля и регулирования по результатам экспериментальных исследований [Текст] / Г. П. Батова, А. М. Звягинцев // Труды НИИТП. - 1974. -Вып. 81. - С. 12 - 20.

18. Цейтлин, В. Г. Интегральный расчёт метрологической надёжности средств измерений [Текст] / В. Г. Цейтлин, А. Х. Цизис // Измерительная техника. - 1974. - № 3. - С. 12-13.

19. Сысоев, Ю. С. Оценка длительности межповерочных интервалов средств измерений методами теории массового обслуживания [Текст] / Ю. С. Сысоев, Н. А. Симакова // Измерительная техника. - 2014. - № 12. - С. 10 - 15.

20. Цветков, Э. И. Метрологическая надежность измерительных систем. Общий подход к установлению межповерочного интервала [Текст] / Э. И. Цветков // Вестник СЗО МА. - 2008. - Вып. 22. - С. 3 - 9.

21. Чернышова, Т. И. Разработка и исследование методики прогнозирования состояния метрологических характеристик аналоговых блоков информационно-измерительных систем в процессе эксплуатации [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.11.16 / Чернышова Татьяна Ивановна ; Ленингр. электротехн. ин-т им. В.И. Ульянова (Ленина). - Л., 1979. - 198 с.

22. Шевчук, В. П. Моделирование метрологических характеристик интеллектуальных измерительных приборов и систем [Текст] / В. П. Шевчук. -М.: Физматлит, 2013. - 320 с.

23. Чекушкин, В. В. Совершенствование полиномиальных методов воспроизведения функциональных зависимостей в информационно-измерительных системах [Текст] / В. В. Чекушкин, К. В. Михеев, И. В. Пантелеев // Измерительная техника. - 2015. - № 4. - С. 16 - 22.

24. Мельницкая, Ж. С. Об основных эксплуатационных показателях качества средств измерений [Текст] / Ж. С. Мельницкая, П. В. Новицкий // Приборы и системы управления. - 1973. - № 5. - С. 16-17.

25. Новицкий, П. В. Динамика погрешностей средств измерений [Текст] / П. В. Новицкий, И. А. Зограф, В. С. Лабунец. - Л.: Энергоатомиздат, 1990. - 192 с.

26. Коровайцев, А. А. Информационно-энтропийный подход к оценке метрологического ресурса средств измерений [Текст] / А. А. Коровайцев, М. И. Ломакин, А. В. Сухов // Измерительная техника. - 2014. - № 6. - С. 14 - 18.

27. Коровайцев, А. А. Оценка метрологической надежности средств измерений в условиях неполных данных [Текст] / А. А. Коровайцев, М. И. Ломакин, А. В. Докукин // Измерительная техника. - 2013. - № 10. - С. 11 - 19.

28. Абуладзе, И. В. Определение изменений во времени метрологических характеристик средств измерений [Текст] / И. В. Абуладзе, А. И. Беляевский, А. А. Джевдет // Измерительная техника. - 1978. - № 2. - С. 9 - 12.

29. Горлов, М. И. Геронтология кремниевых интегральных схем [Текст] / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строганов. - М.: Наука, 2004. - 240 с.

30. Отхман, Н. З. Метод повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.11.16 / Отхман Набиль Заки Сабир; Тамб. гос. техн. ун-т. - Тамбов,

2012. - 170 с.

31. Игнатов, Д. В. Оценка и повышение метрологической надежности при проектировании средств неразрушающего контроля с учетом температурных режимов их эксплуатации [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.11.13 / Игнатов Дмитрий Вячеславович; Тамб. гос. техн. ун-т. - Тамбов, 2005. - 155 с.

32. Доценко, И. С. Долговечность элементов радиоэлектронной аппаратуры (влияние влаги) [Текст] / И. С. Доценко, В. В. Соболев. - Л.: Энергия, 1973. - 160 с.

33. Правиков, Ю. М. Метрологическое обеспечение производства [Текст]: учеб. пособие / Ю. М. Правиков. - М.: КноРус, 2012. - 236 с.

34. Новоселов, О. Н. Оценка внешних воздействий на состояние динамических объектов [Текст] / О. Н. Новоселов // Измерительная техника. -

2013. - № 2. - С. 8 - 10.

35. Бочегов, В. И. Технические средства для прямого измерения теплопроводности твердых тел [Текст] / В. И. Бочегов, В. М. Грабов, А. С. Парахин // Измерительная техника. - 2014. - № 4. - С. 22 - 27.

36. Castrup, Howard Estimating Bias Uncertainty [Text] / Howard Castrup // NCSLI Workshop and Symposium. - Washington, D.C., July 2001.

37. Castrup, S. Comparison of Methods for Establishing Confidence Limits and Expanded Uncertainty [Text] / S. Castrup // Proc. of 2010 Measurement Science Conference. - Pasadena, CA, March 2010 (23 pgs).

38. Castrup, H. Uncertainty Analysis for Alternative Calibration Scenarios [Text] / H. Castrup, S. Castrup // NCSLI Workshop and Symposium, Orlando, FL, August 2008 (27 pgs).

39. Беляев, Б. М. Повышение точности расчета межповерочных интервалов средств измерений по результатам периодической поверки [Текст] / Б. М. Беляев, В. В. Новиков // Метрология. - 1991. - № 9. - С. 28 - 35.

40. Балакирева, С. Д. Методика выбора межповерочных интервалов средств измерений [Текст] / С. Д. Балакирева, А. В. Екимов, А. М. Звягинцев // Измерительная техника. - 1987. - № 10. - С. 15 - 17.

41. Метрологическое обеспечение информационно-измерительных систем (теория, методология, организация) [Текст] / под ред. Е. Т. Удовиченко. - М.: Изд-во стандартов, 1991. - 192 с.: ил.

42. Димов, Ю. В. Метрология, стандартизация и сертификация [Текст]: учеб. для вузов (доп.) / Ю. В. Димов. - СПб.: Питер, 2010. - 464 с.

43. Иванов, М. Н. Основы технических измерений и метрологическое обеспечение испытаний для подтверждения соответствия [Текст]: учеб. пособие / М. Н. Иванов. - СПб.: Изд-во: СПГУТД, 2004. - 151 с.

44. Артемьев, Б. Г. Метрология и метрологическое обеспечение [Текст] / Б. Г. Артемьев - М.: Стандартинформ, 2010. - 564 с.

45. Ефремов, Л. В. Вероятностная оценка метрологической надежности средств измерений: алгоритмы и программы [Текст] / Л. В. Ефремов - СПб.: Нестор-История, 2011. - 200 с.

46. Козочкин, М. П. Информационно-измерительные и управляющие системы силовых и виброакустических параметров [Текст] / М. П. Козочкин, А. Р. Маслов, А. Н. Порватов // Измерительная техника. - 2015. - № 8. - С. 5 - 9.

47. Грубо, Е. О. Алгоритмическое обеспечение повышения метрологической надежности средств измерения [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.11.16 / Грубо Елена Олеговна; Санкт-Петербургский гос. электротехн. Ун-т «ЛЭТИ» им. В .И. Ульянова (Ленина). - СПб., 2011. - 174 с.

48. Сергеев, А. Г. Метрология [Текст]: учеб. пособие для вузов / А. Г. Сергеев. - М.: Логос, 2001. - 408 с.: ил.

49. Назаров, Н. Г. Метрология. Основные понятия и математические модели [Текст] / Н. Г. Назарова. - М.: Высш. шк., 2002. - 348 с.

50. Нистратов, М. И. Разработка методов оценки и повышения метрологической надежности средств неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов с учетом условий эксплуатации [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.11.13 / Нистратов Михаил Игоревич; Тамб. гос. техн. ун-т. - Тамбов, 2011. - 147 с.

51. ГОСТ 8.009-84. Государственная система обеспечения единства измерений. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений [Текст] - Взамен ГОСТ 8.009-72; введ. 1986-01-01. Переизд. 2006 - М.: Изд-во стандартов, 2006. - 26 с.

52. Екимов, А. В. Прогнозирование и обеспечение надёжности средств измерений с учётом явных и скрытых отказов [Текст] / А. В. Екимов, Ю. М. Макаров, М. И. Ревяков // Измерительная техника. - 1990. - № 6. - С. 3-4.

53. Петров, В. А. Оценка метрологической безотказности средств измерений в условиях превалирующих внешних воздействий [Текст] / В. А. Петров // Измерительная техника. - 1992. - № 12. - С. 20.

54. Бержинская, М. В. Теоретические основы экспериментального определения погрешности от временной нестабильности средств измерения [Текст] / М. В. Бержинская, А. А. Данилов // Измерительная техника. - 2009. -№ 3. - С. 12.

55. Обухов, И. В. Модель статической погрешности линейного электронного средства измерения [Текст] / И. В. Обухов // Измерительная техника. - 2007. - № 2. - С. 12 - 17.

56. Доценко, И. С. Долговечность элементов радиоэлектронной аппаратуры (влияние влаги) [Текст] / И. С. Доценко, В. В. Соболев. - Л.: Энергия, 1973. - 160 с.

57. Electronic Derating for Optimum Performance. RIAC publication D-Rate, 1999 [electronic data]. - Загл. с экрана. - Режим доступа: www.theriac.org/DeskReference/viewDocument.php?id=194.

58. Громов, Д. В. Исследование влияния ионизирующих излучений на характеристики гетероструктурных полевых транзисторов на нитриде галлия [Текст] / Д. В. Громов, Ю. А. Матвеев, Г. Н. Назарова // Проблемы разработки перспективных микро- и нано- электронных систем: сб. тр. / под общ. ред. академика РАН А. Л. Стемпковского. - М., 2012. - С. 598 - 603.

59. Коршунов, Ф. П. Воздействие радиации на интегральные микросхемы [Текст] / Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, В. А. Вавилов. - М.: Наука и техника, 1986. - 254 с.

60. Пассивные радиокомпоненты. Ч. 1. Электрические конденсаторы [Текст]: учеб. пособие / С. Д. Ханин, А. И. Адер, В. Н. Воронцов [и др.]. - СПб.: СЗПИ, 1998. - 86 с.

61. Конденсаторы [Текст]: справ. / И. И. Четвертков, М. Н. Дьяконов, В. И. Присняков [и др.]; под ред. И. И. Четверткова. - М.: Радио и связь, 1993. -392 с.

62. Резисторы [Текст]: справ. / Ю. Н. Андреев, А. И. Антонян, Д. М. Морозов [и др.]; под. ред. И. И. Четверткова. - М.: Энергоиздат, 1981. - 352 с.

63. Справочник по электрическим конденсаторам [Текст] / М. Н. Дьяконов, В. И. Карабанов, В. И. Присняков [и др.]; под общ. ред. И. И. Четверткова, В. Ф. Смирнова. - М.: Радио и связь, 1983. - 576 с.: ил.

64. Вопросы качества радиодеталей [Текст] / Б. Ю. Геликман, Г. А. Горячева, Л. Д. Кристаллинский [и др.]. - М.: Сов. радио, 1980. - 352 с.

65. Ротенберг, Б. А. Керамические конденсаторные диэлектрики [Текст] / Б. А. Ротенберг. - СПб.: ОАО НИИ "Гириконд", 2000. - 246 с.

66. Агаханян, Т. М. Радиационные эффекты в интегральных микросхемах [Текст] / Т. М. Агаханян, Е. Р. Аствацатурьян, П. К Скоробогатов; под ред. Т. М. Агаханяна. - М.: Энергоатомиздат, 1989. - 256 с.

67. Куракин, А. М. Влияние гамма - радиации на характеристические сопротивления нитридгаллиевых гетероструктурных транзисторов с высокой подвижностью электронов [Текст] / А. М. Куракин // Письма в ЖТФ. - 2003. -Т. 29, вып. 18. - С.3 - 5.

68. The effects of Temperature and Electron Radiation on the Electrical Properties of AlGaN/GaN HFETs [Text] / J.T. Moran, J. W. McClory , J.C. Petrosky [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. - 2009. - Vol. 56, № 6. - P. 3223 - 3228.

69. Proton Irradiation Effects on GaN - Based High Electron - Mobility Transistors With Si - Doped AlxGal-xN Thick GaN Cap Layers [Text] / A. P. Karmarkar , Jun Bongim , D.M. Fleetwood [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. - 2004. - Vol. 51, № 6. - P. 3801 - 3806.

70. Proton and Heavy Ion Irradiation Effects on AlGaN/GaN HFET Devices [Text] / G Sonia, F. Brunner, A. Denker [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. - 2006. - Vol. 53, № 6. - P. 3661 - 3666.

71. Давыдов, П. С. Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем [Текст] / П. С. Давыдов. - М.: Радио и связь, 1988. - 256 с.

72. Купер, Дж. Вероятностные методы анализа сигналов и систем: пер. с англ. [Текст] / Дж. Купер, К. Макгиллем; под ред. В. Т. Горяинова. - М.: Мир, 1989. - 376 с.

73. Грановский, В. А. Системная метрология: метрологические системы и метрология систем [Текст] / В. А. Грановский. - СПб.: ЦНИИ «Электроприбор», 1999. - 360 с.

74. Переверзев, Е. С. Надежность и испытания технических систем [Текст] / Е. С. Переверзев; АН УССР; Ин-т техн. механики. - Киев: Наукова думка, 1990. -326 с.

75. Чернышова, Т. И. Оценка и повышение метрологической надежности измерительных средств с учетом климатических воздействий [Текст] / Т. И. Чернышова, М. И. Нистратов // Вестник ТГТУ - 2011. - Т. 17, № 1. - C. 24 - 30.

76. Соболь, И. М. Численные методы Монте-Карло [Текст] / И. М. Соболь. -М.: Наука, 1973. - 312 с.

77. Кондратов, В. Т. Проблемы теории метрологической надежности и пути их решения [Текст] / В. Т. Кондратов // Комп'ютерш засоби, мереж1 та системи. -2009. - № 8. - С. 138 - 148.

78. Фридман, А. Э. Теория метрологической надежности средств измерений [Текст] / А .Э. Фридман // Измерительная техника. - 1991. - № 11. - С. 3 - 10.

79. Castrup, H. Techniques for Optimizing Calibration Intervals [Text] / H. Castrup, K. Johnson // Proc. ASNE Test & Calibration Symposium, Arlington, VA, December 1994. (6 pgs).

80. Castrup, H. Estimating Bias Uncertainty, Proceedings of the NCSLI [Text] / H. Castrup // Workshop & Symposium, Washington D.C., July 2001. (20 pgs).

81. Скрипка, В. Л. Повышение метрологической надежности ИИС при использовании взаимокорреляционной обработки сигналов измерительных каналов [Текст] / В. Л. Скрипка, М. В. Лунева, Ю. Ю. Вахрушева // Измерительная техника. - 2006. - № 3. - С. 15 - 18.

82. Metrology in industry: the key for quality [Text] / edited by French College of Metrology. - ISTE. - 2006. - 270 p.

83. Монтгомери, Д. К. Планирование эксперимента и анализ данных [Текст]: пер. с англ. / Д. К. Монтгомери. - Л.: Судостроение, 1980. - 384 с.

84. Рекомендация Госстандарта МИ 2247-93. «ГСИ. Метрология. Основные термины и определения.» [Текст] - СПб.: ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, 1994. - 60 с.

85. Алгоритмическое обеспечение отказоустойчивости распределенных систем управления [Текст] / Н. А. Захаров, С. В. Калин, В. И. Клепиков [и др.] // Радиоэлектронные и компьютерные системы. - 2008. - № 7. - С. 43 - 48.

86. Раннев, Г. Г. Интеллектуальные средства измерений [Текст]: учеб. / Г. Г. Раннев. - М.: Академия, 2010. - 272 с.

87. Джексон, Р. Г. Новейшие датчики [Текст] / Р. Г. Джексон. - М.: Техносфера, 2007. - 384 с.

88. Цветков, Э. И. Метрология. Модели. Метрологический анализ. Метрологический синтез [Текст] / Э. И. Цветков. - СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2014. - 293 с.

89. Фридман, А. Э. Основы метрологии. Современный курс [Текст] / А. Э. Фридман. - СПб.: ЦНИИ «Электроприбор», 2008. - 284 с.: ил.

90. Кузнецов, В. А. Вопросы обеспечения метрологической надёжности средств измерений [Текст] / В. А. Кузнецов // Измерительная техника. - 1984. -№ 1. - С. 8 - 10.

91. Черноруцкий, И. Г. Методы оптимизации в теории управления [Текст]: учеб. пособие / И. Г. Черноруцкий. - СПб.: Питер, 2004. - 256 с.: ил.

92. Лукьянов, Н. Д. Параметрическая оптимизация автоматических систем стабилизации с помощью генетического алгоритма [Текст]: дис. ... канд. техн. наук: 05.13.06 / Лукьянов Никита Дмитриевич; Иркутский гос. техн. ун-т. -Иркутск, 2014. - 138 с.

93. Пригожин, И. Современная термодинамика [Текст] / И. Пригожин, Д. Кондепуди. - М.: Мир, 2002. - 460 с.

94. D. Stewart Peck Comperhensive Model for Humidity Testing Correlation [Text] / D. Peck Stewart // 24th Annual Proceedings of the International Reliability Physics Symposium, IEEE, 1986. pp. 44-50.

95. Hallberg O. Recent Humidity Accelerations, a Base for Testing Standarts [Text] / O. Hallberg, D. Stewart Peck // Quality and Reliability Engineering International, Vol. 7, 1991, pp. 169 - 180.

96. Млицкий, В. Д. Испытание аппаратуры и средства измерений на воздействие внешних факторов [Текст] / В. Д. Млицкий, В. Х. Беглария, Л. Г. Дубицкий. - М.: Машиностроение, 2003. - 567 с.

97. Чернышова, Т. И. Математическое моделирование при анализе метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Вестник ТГТУ. - 2014. -Т. 20, № 1. - C. 42 - 47.

98. Физические процессы в облученных полупроводниках [Текст] / под ред. Л. С. Смирнова. - Новосибирск: Наука, 1977. - 253 с.

99. Коршунов, Ф. П. Радиационные эффекты в полупроводниковых приборах [Текст] / Ф. П. Коршунов, Г. В. Гатальский, Г. М. Иванов. - Минск.: Наука и техника, 1978. - 231 с.

100. Динс, Д. Радиационные эффекты в твердых телах [Текст] / Д. Динс, Д. Виньярд. - М.: Иностр. лит., 1960. - 243 с.

101. Третьяков, В. В. Применение математического моделирования при анализе метрологической надежности проектируемых радиоэлектронных измерительных средств [Текст] / В. В. Третьяков // Современное состояние и перспективы развития систем связи и радиотехнического обеспечения в управлении авиацией: сб. ст. Всерос. науч.-практ. конф. курсантов, слушателей, молодых ученых, посвященный Дню образования войск связи. - Воронеж, 2013. -С. 207 - 209.

102. Чернышова, Т. И. Информационная технология оценки метрологической надежности при проектировании информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах: тез. докл. Междунар. конф. с элементами науч. шк., Тамбов, 23-25 апреля 2014 г. -Тамбов, 2014. - С. 139-140.

103. Чернышова, Т. И. Математическое моделирование информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Математические методы в технике и технологиях - ММТТ-27 : сб. тр. XXVII Междунар. науч. конф. : в 12 т. Т. 4. Секции 10, 11. - Тамбов, 2014. - С. 164 - 166.

104. Чернышова, Т. И. Математическое моделирование метрологических характеристик аналоговых блоков информационно-измерительных систем при анализе их метрологической надежности [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Проблемы теории и практики современной науки: материалы Междунар. (заоч.) науч.-практ. конф. / под общ. ред. А. И. Вострецова. -Нефтекамск, 2015. - С. 51 - 53.

105. Чернышова, Т. И. Моделирование элементной базы аналоговых блоков информационно-измерительных систем при оценке их метрологической

надежности [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах: докл. 2-й Междунар. конф. с элементами науч. шк. - Тамбов, 2015. - С. 191-192.

106. Чернышова, Т. И. Применение математического моделирования при реализации методов оценки и повышения метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Вестник ТГТУ - 2015. - Т. 21, № 3. - C. 381 - 387.

107. Третьяков, В. В. Оценка и повышение метрологической надежности информационно-измерительных систем с применением методов математического моделирования [Текст] / В. В. Третьяков // Тенденции и инновации современной науки: материалы Междунар. молодежной науч.-практ. конф., 10 декабря 2015 года. г. Прага, Чехия. - Прага, 2015. - С. 157 - 162.

108. Третьяков, В. В. Оценка метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / В. В. Третьяков // Актуальные проблемы энергосбережения и эффективности в технических системах: тез. докл. 3-й Междунар. конф. с элементами науч. шк. - Тамбов, 2016. - С. 146-147.

109. Рзиева, М. Т. Воспроизведение входных воздействий с требуемыми корреляционными связями для проведения метрологического анализа с использованием имитационного моделирования [Текст] / М. Т. Рзиева // Вестник сев.-зап. отд. Метрологической академии. - 2011. - № 25. - С. 41 - 51.

110. Цветков, Э. И. Основы математической метрологии. Т. II. Ч. 2. Идентификация зависимостей [Текст] / Э. И. Цветков; ЗАО «Копи-Сервис». -СПб., 2009. - 317 с.

111. Кендалл, М. Многомерный статистический анализ и временные ряды [Текст] / М. Кендалл, А. Стьюарт. - М.: Наука, 1976. - 736 с.

112. Крылов, С. М. Синтез универсальных информационно-измерительных приборов и систем [Текст] / С. М. Крылов // Известия вузов. Приборостроение. -2003. - Т. 46, № 12. - С. 31 - 37.

113. Метрология [Текст]: учеб. пособие / Г. А. Кондрашкова, А. В. Черников, И. В. Бондаренкова [и др.] - СПб.: Изд-во СПбГТУРН, 2011. - 153 с.

114. Бойко, Н. Г. Теория и методы инженерного эксперимента [Текст]: курс лекций / Н. Г.Бойко, Т. А. Устименко. - Донецк: Изд-во ДонНТУ, 2009. - 158 с.

115. Адлер, Ю. П. Планирование эксперимента при поиске оптимальных условий [Текст] / Ю. П. Адлер, Е. В. Маркова, Ю. В. Грановский. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Наука,1976 . - С. 54-61.

116. Володарский, Е. Т. Планирование и организация измерительного эксперимента [Текст] / Е. Т. Володарский, Б. Н. Малиновский, Ю. М. Туз - Киев: Вища шк. Головное изд-во, 1987. - 280 с.

117. Баженов, В. И. Основы планирования и моделирования в теории инженерного эксперимента [Текст] / В. И. Баженов, А. Н. Стрельченко. - М.: Изд-во МАИ, 1983. - 59 с.: ил.

118. Myers, Raymond H. Response surface methodology: process and product optimization using designed experiments [Text]. - 3rd ed./ Raymond H. Myers, Douglas C. Montgomery, Christine M. Anderson-Cook. - John Wiley and sons, 2009. - 690 p.

119. Applied multiple regression/correlation analysis for the behavioral sciences. - 3rd ed. [Text] / Jacob Cohen [et al.]. - London: Lawrence Erlbaum associates, 2003. -704 p.

120. Чернышова, Т. И. Повышение метрологической надежности информационно-измерительных систем путем оптимизации условий их эксплуатации [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Актуальные проблемы энергосбережения и эффективности в технических системах: тез. докл. 3-й Междунар. конф. с элементами науч. шк. - Тамбов, 2016. - С. 159-160.

121. Hooke, R. «Direct search» solution of numerical and statistical problems [Text] / R. Hooke, T.A. Jeeves // Journal of the Association for Computing Machinery (ACM). - 1961. - №8(2). - Р. 212 - 229.

122. Пантелеев, А. В. Методы оптимизации в примерах и задачах [Текст]: учеб. пособие / А. В. Пантелеев, Т. А. Летова - 2-е изд., испр. - М.: Высш. шк., 2005. - 544 с.: ил.

123. Чернышова, Т. И. Повышение метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Вестник ТГТУ - 2016. - Т. 22, № 3. - С. 368 - 373.

124. Чернышова, Т. И. Повышение метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Современное состояние и перспективы развития систем связи и радиотехнического обеспечения в управлении авиацией: сб. ст. по материалам V Всерос. науч.-техн. конф. слушателей, курсантов и молодых ученых, посвященный Дню образования войск связи . - Воронеж, 2016. - С. 359-360.

125. Чернышова, Т. И. Повышение метрологической надежности проектируемых аналоговых блоков информационно-измерительных систем с учетом условий эксплуатации [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Проблемы и перспективы развития науки и образования в XXI веке: материалы Междунар. (заоч.) науч.-практ. конф. / под общ. ред. А. И. Вострецова. - София; Нефтекамск, 2017. - С. 42 - 47.

126. Чернышова, Т. И. Оптимизация математической модели изменения метрологической характеристики аналоговых блоков измерительных систем путем коррекции их выходного сигнала на этапе эксплуатации [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Современное состояние и перспективы развития систем связи и радиотехнического обеспечения в управлении авиацией: сб. ст. по материалам Всерос. науч.-техн. конф. слушателей, курсантов и молодых ученых, посвященной 95-летию со Дня образования войск связи. - Воронеж, 2014. - С. 329 - 331.

127. Чернышова, Т. И. Метод повышения метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Вестник ТГТУ - 2015. - Т. 21, № 2. - С. 242 - 249.

128. Чернышова, Т. И. Повышение метрологического ресурса аналоговых блоков информационно-измерительных систем на этапе эксплуатации [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков, Р. Ю. Курносов // Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах: докл. 2-й Междунар. конф. с элементами науч. шк. - Тамбов, 2015. - С. 193 - 195.

129. Чернышова, Т.И. Метод повышения метрологической надежности информационно-измерительных систем на этапе их эксплуатации [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Научные перспективы XXI века: материалы Междунар. (заоч.) науч.-практ. конф. / под общ. ред. А. И. Вострецова. -Нефтекамск, 2015. - С. 27 - 29.

130. Чернышова, Т. И. Метод повышения метрологической надежности и его реализация в структуре информационно-измерительной системы [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Вести высших учебных заведений Черноземья. - 2015. - № 3. - С. 75 - 78.

131. Чернышова, Т. И. Реализация методов оценки и повышения метрологической надежности в структуре информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Модели, системы, сети в экономике, технике, природе и обществе. - 2016. - № 1. - С. 368 - 373.

132. Беклемищев, А. И. Влияние линий, соединяющих резисторные измерительные преобразователи с аппаратурой, на погрешность преобразования [Текст] / А.И. Беклемищев // Метрология. - 1987. - № 12. - С. 3 - 9.

133. (Р)(КР)1108ПП1. Преобразователи напряжение-частота, частота-напряжение [Электронный ресурс]. - Загл. с экрана. - Режим доступа: www.alfarzpp.lv/rus/sc/1108pp1.pdf.

134. Чернышова, Т. И. Метод повышения метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков информационно-измерительных систем [Текст] / Т. И. Чернышова, В. В. Третьяков // Надежность и качество сложных систем. - 2017. - № 1 (17). - С. 50 - 58.

135. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2015612393. Определение состояния метрологической характеристики аналогового блока на этапе предстоящей эксплуатации / Третьяков В. В.; заявка № 2014663397; заяв. 22.12.2014; зарегистр. 18.02.2015.

136. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2015612422. Исследование метрологической надежности аналогового блока

информационно-измерительных систем / Чернышова Т. И., Третьяков В. В.; заявка № 2014663398; заяв. 22.12.2014; зарегистр. 18.02.2015.

137. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2015619341. Программа расчета коэффициентов многофакторной математической модели изменения во времени метрологической характеристики аналогового блока информационно-измерительной системы / Чернышова Т. И., Третьяков В. В.; заявка № 2015616126; заяв. 07.07.2015; зарегистр. 31.08.2015.

138. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2016615473. Повышение метрологического ресурса аналогового блока информационно-измерительных систем / Чернышова Т. И., Третьяков В. В.; заявка № 2016612791; заяв. 30.03.2016; зарегистр. 25.05.2016.

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.