Разработка и исследование геометрических моделей нивелирования для ослабления влияния на него магнитных полей тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.01.01, кандидат технических наук Кочетова, Элеонора Федоровна

• Кочетова, Элеонора Федоровна
• кандидат технических наук
• 2000

Оглавление диссертации кандидат технических наук Кочетова, Элеонора Федоровна

Введение 2

ГЛАВА I. Анализ существующих средств, методов и результатов исследования влияния электромагнитных полей на точность геометрического нивелирования 9

1.1. Полевые методы исследований влияния МП на точность нивелирования 10

1.2. Средства и методы лабораторных исследований чувствительности нивелиров с компенсаторами к ЭМП 13

1.3. Пути ослабления влияния ЭМП на точность геометрического нивелирования 18

1.4. Механизм влияния МП на нивелиры с компенсаторами Выводы по главе I 27

Глава II. Теоретические исследования влияния магнитных полей на точность геометрического нивелирования 28

II. 1. Взаимодействие МП с конструктивными элементами нивелиров с компенсаторами 29

II. 1.1. Элементы земного магнетизма 29

II. 1.2. Анализ работы нивелиров с компенсаторами в магнитном поле Земли 33

II.2. Влияние МП на упругие свойства подвески ЧЭ компенсатора и положение визирного луча 46

И.З. Магнитострикционный эффект и точность геометрического нивелирования 51

И.З. 1. Влияние магнитострикции на точность работы компенсатора И.З.2. Влияние магнитострикции на рейку с инварной полосой 54

II.4. Методика расчёта электромагнитных экранов для нивелиров с компенсаторами Выводы по главе II 62

ГЛАВА III. Разработка новых методов и средств экспериментального изучения и ослабления влияния МП на точность геометрического нивелирования 63

III. 1. Методы и устройства для лабораторных исследований 64

111.2. Методика расчета постоянных магнитов для лабораторных установок 75

111.3. Методы исследования влияния МП на точность геометрического нивелирования в полевых условиях 82

111.4. Средства ослабления влияния МП на точность геометрического нивелирования Выводы по главе III 101

1 вч

ГЛАВА IV. Экспериментальные исследования влияния магнитных полей на точность геометрического нивелирования 102

IV. 1. Исследования влияния МП на рейку с инварной полосой 103

IV.2. Исследование влияния МП на визирный луч нивелира ГУ.З. Исследование чувствительности нивелиров с компенсаторами к МП IV.4. Натурные исследования электромагнитных полей, влияющих на точность геометрического нивелирования 162

Выводы по главе IV 173

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Разработка и исследование геометрических моделей нивелирования для ослабления влияния на него магнитных полей»

Актуальность темы

Современные требования к точности геометрического нивелирования очень высоки и характеризуются величинами 0,01 - 0,02 мм. Такая точность необходима при развитии Государственной нивелирной сети России I класса, при изучении движений земной коры на геодинамических полигонах, при монтаже различных уникальных объектах (линейные и кольцевые ускорители заряженных частиц, турбогенераторы ТЭЦ и АЭС, радиотелескопы, направляющие пути большой протяженности для испытания образцов ракетно-космической техники и т.п.).

Для достижения указанной точности и одновременной частичной автоматизации работ разработано и используется на практике большое количество нивелиров с компенсаторами. Однако влияние окружающей среды зачастую резко снижает точность этих приборов. Среди прочих факторов одним из важных являются магнитные поля (МП), воздействующие на подвешенный чувствительный элемент (ЧЭ) нивелира, на инварную полосу рейки и на воздушную среду, в которой проходит визирный луч.

Рассматривая визирный луч лишь с геометрической точки зрения (не касаясь его волновой природы) как прямую линию, можно выделить три геометрические модели его, формируемые под действием МП:

1. При воздействии МП на компенсатор нивелира геометрическая форма визирного луча не изменяется. Он остаётся прямолинейным, но на выходе из зрительной трубы отклоняется в вертикальной плоскости (от горизонтального положения), вызывая ошибки в отсчётах по рейке и нарушая принцип геометрического нивелирования.

2. Изменение структуры воздушной среды под действием МП (ориентаци-онная поляризация молекул - диполей) нарушает геометрию визирного луча, преобразуя прямую линию в некоторую сложную кривую.

3. При воздействии МП только на рейку визирный луч остаётся прямолинейным и горизонтальным, а прямолинейная инварная полоса рейки из-за притяжения к полосам принимает форму дуги некоторого радиуса, что нарушает номинальную цену деления рейки и вызывает дополнительные ошибки в результатах измерений.

В любом случае процесс геометрического нивелирования можно интерпретировать как процесс проецирования центра (точки) перекрестия сетки нитей с помощью проецирующей линии (горизонтального луча визирования) на шкалу, в качестве которой служит вертикально установленная рейка с 5-мм делениями. Под влиянием ЭМП вместо истинной проекции точки получают ошибочное её положение. Изменение вектора ЭМП обусловливает возникновение множества проекций точки перекрестия сетки нитей. Это множество будет распределяться вокруг истинной окружности и с положительной, и с отрицательной степенью точек. Причём появление множества проекций точки, объясняется изменением положения проецирующей линии по отношению к рейке ( отклонение визирного луча от горизонтального положения), изменением формы проецирующей линии (искривление визирного луча) и искривлением инварной полосы рейки.

В настоящее время свыше 80% выпускаемых компенсаторных нивелиров снабжены оптико-механическими компенсаторами с подвеской на тонких металлических нитях (или ленточках), на плоской эластичной пружине, шарикоподшипниках и др. [16]. На рис. 1 показаны схемы подвесок ЧЭ на тонких металлических нитях: А, В и С, Б - точки крепления нитей соответственно к корпусу компенсатора и к ЧЭ; а и Ь - расстояние между точками подвески; 1 - длина нитей. Вариант со скрещивающимися нитями показан штрихами на рис.1, а. Подвески на эластичной пружине и шарикоподшипниках можно продемонстрировать левым столбцом схем для Км = 1, если представить, что колебания ЧЭ происходят в плоскости, перпендикулярной плоскости чертежа. На рис. 1 утолщенными чёрными линиями показаны элементы компенсатора, изготовленные из ферромагнитных материалов. 6 Ь о. Ж

РисЛ. Возможные схемы расположения токопрово-дящих элементов в подвесках комненсагороз.

Взаимное расположение этих элементов может образовывать замкнутый то-копроводящий контур (рис. 1, а), разомкнутый токонепроводящий контур (рис. 1,6, в) и системы вообще не образующие контура (рис. 1,г-ж). Схемы на рис. 1, д, е, ж, когда нити изготавливаются из неметаллических материалов, хотя и редки, но возможны (например, японский нивелир, Nikon N в котором ЧЭ подвешен на нитях из синтетической резины). В зависимости от проводящих и не проводящих электрический ток элементов различной будет чувствительность компенсатора и нивелира в целом к влиянию МП. Различной она будет и по характеру, и по величине к постоянным и переменным МП.

Исследования по указанной проблеме проводились как зарубежными, так и отечественными учёными. Причём влиянию магнетизма на точность геометрического нивелирования в условиях Российской Федерации посвящены лишь единичные публикации [8, 9,18,21]. Кроме того, почти все работы посвящены исследованиям конкретных нивелиров в лабораториях и полевых условиях. Попытка теоретического обоснования явления сделана только в одной работе [48], да и то применительно лишь к нивелиру Ni 002.

Малочисленность исследований влияния магнетизма в условиях Российской Федерации, отсутствие теоретических основ механизма влияния электромагнитных полей на точность геометрического нивелирования, недостаточная эффективность методов и средств ослабления влияния магнетизма, недостаточно широкое использование методов геометрического и математического моделирования как инструмента исследования влияния МП на точность геометрического нивелирования свидетельствуют об актуальности темы диссертации.

Основные цели исследований следующие:

1. Изучить и теоретически обосновать механизм влияния магнитных полей на точность геометрического нивелирования.

2. Выявить источники и характер ошибок за магнетизм при измерении превышений.

3. Разработать новые методы и средства лабораторных и полевых исследований нивелиров с компенсаторами на чувствительность к магнетизму.

4. Усовершенствовать методы геометрического и математического моделирования применительно к исследованиям влияния МП на точность геометрического нивелирования.

5. Создать новые геометрические схемы амагнитных компенсаторов.

6. Разработать новые средства и методы ослабления влияния магнетизма на точность геометрического нивелирования.

Для достижения поставленных целей использованы следующие методы:

1. Критический анализ результатов исследований по данной проблеме, полученных отечественными и зарубежными учёными.

2. Изучение физической сущности взаимодействия электромагнитных полей с компенсаторными нивелирами, используя основные положения физики и аппарат математических формул.

3. Привлечение теоретических основ нивелиров с компенсаторами.

4. Патентный поиск, анализ публикаций на предмет ослабления влияния магнетизма.

5. Использование методов синтетической и начертательной, вычислительной и дифференциальной геометрии для изучения влияния МП на геометрическое нивелирование.

6. Сравнительный анализ теоретических и экспериментальных результатов исследований.

Научная новизна результатов исследований состоит в некоторых новых теоретических положениях по проблеме влияния магнетизма на точность геометрического нивелирования и авторских технических разработках, выполненных на уровне изобретений.

Достоверность полученных результатов подтверждается:

1 .Согласованностью теоретических выводов и практических результатов.

2.Выполнением технических решений на уровне изобретений.

3. Апробацией основных результатов исследований на научнотехнических семинарах и конференциях.

Практическая ценность работы.

Предлагается доведённая до практического использования методика расчёта величины поправок за магнетизм и параметров магнитных экранов для нивелиров с компенсаторами. Разработаны и испытаны на практике новые методы и установки для полевых и лабораторных исследований влияния магнитных полей на точность геометрического нивелирования. Предложены новые технические решения для ослабления влияния магнетизма на нивелиры с компенсаторами.

Апробация работы.

Основные результаты исследований докладывались на научно-технических конференциях ( г. Н.Новгород - 1995 - 1998 г.г.; г. Владимир - 1997 г.).

В рамках договора о научно-техническом сотрудничестве при выполнении темы «Разработка установки и методики для исследования влияния МП на геодезические приборы с компенсаторами» в лаборатории приборостроения ЦНИИГАиК оборудована магнитная установка. Три установки изготовлены и используются в ННГАСУ и метрологической лаборатории ВАГП.

Публикации.

По теме диссертации опубликовано 12 работ, в том числе 2 авторских свидетельства на изобретения.

Объем работы.

Диссертационная работа состоит из введения, четырех глав, заключения и содержит 15Чстраниць1в том числе 30 таблиц и 53 рисунка . Список литературы включает 59 наименований, из них 28 - на иностранных языках.

Заключение диссертации по теме «Инженерная геометрия и компьютерная графика», Кочетова, Элеонора Федоровна

Выводы по главе IV

Обобщая результаты выше приведенных исследований 5-и нивелиров можно сделать следующие выводы :

1. Разработанные автором самостоятельно и в соавторстве установки , описанные в § III. 1, позволяют получить надежные данные о чувствительности нивелиров различных конструкций и точности к МП.

2. Искусственные (промышленные) МП могут вызвать значительные ошибки в положении визирного луча.

3. Величина ошибки от МП зависит от типа подвески (маятника), т.е. от длины нитей или эластичной плоской пружины.

4. От величины коэффициента компенсации : чем он больше, тем больше ошибка.

5. Ошибки от влияния МПЗ на приборы целесообразно учитывать только при точном и высокоточном нивелировании (I и II классы), получив поправки после лабораторных исследований и учтя азимут общего направления нивелирного хода и определив наклонения в районе работ (см. глава I табл.2).

6. На нивелиры с электронными блоками считывания и обработки информации действие МП проявляется значительно сильнее.

Заключение

По результатам проведенных и изложенных выше исследований можно сделать следующие выводы:

1. В настоящее время нет достаточно надежного теоретического обоснования механизма влияния МП на точность геометрического нивелирования. Существующие средства и методы лабораторных и полевых исследований влияния МП нуждаются в совершенствовании, так как они сложны в реализации и не дают полной картины этого явления. Кроме того, не в достаточной мере использованы возможности эффективного ослабления влияния магнетизма.

2. Анализ элементов земного магнетизма и их воздействия на нивелиры с компенсаторами позволил получить аппарат формул для расчета ошибок от притяжения ЧЭ компенсатора к полюсам, его разворота, намагничивания частей ЧЭ. Теоретически доказано, что доминирующей является ошибка от притяжения ЧЭ к полюсам.

3. Изменение упругих свойств механических подвесок ЧЭ в МП и появление магнитострикционного эффекта могут вызывать при определенных условиях реальные ошибки. Ослаблять эти ошибки рекомендуется путем введения поправок, рассчитываемых по полученным автором формулам. Магнитострикция влияет также на рейку с инварной полосой.

4. Установка электромагнитных экранов вокруг компенсаторов нивелиров- реальный и эффективный путь ослабления влияния МП на точность геометрического нивелирования. Расчеты параметров экранов рекомендуется вести по формулам автора.

5. Разработаны 5 мобильных установок и методы лабораторных и полевых исследований влияния МП отдельно на нивелир, визирный луч, рейку и в их совокупности. Предложен аппарат формул и методика расчета постоянных магнитов для установок.

6. Предложено 7 типов амагнитных компенсаторов с большим диапазоном компенсации (±2).

7. Теоретические исследования подтверждены обширным экспериментальным материалом. В частности: а) Практически доказано, что разработанные автором мобильные магнитные установки, описанные в § III. 1 и позволяющие использовать их как в лабораторных ,так и в полевых условиях, действительно легко реализуемы, просты в работе и позволяют получить надёжные характеристики чувствительности нивелиров различных конструкций и точности к МП. б) Экспериментально подтверждены теоретические выводы автора (разделы II. 1.2 и~Н.3.2.) о ничтожном влиянии даже сильных МП на рейку с инварной полосой. в) В лабораторных условиях с помощью специальной установки доказано, что сильные МП нарушают структуру воздушной среды, ориентируя молекулы-диполи, и стимулируют появления электромагнитной рефракции и, как результат отклонение визирного луча, приводящее к ошибкам в расчетах по рейке до 0,5 мм. Пересчет этих ошибок на величину напряженности МПЗ свидетельствует о том, что ЭМР от МПЗ не может вызывать сколько-нибудь значимые ошибки в результатах нивелирования. Для ослабления влияния ЭМР рекомендуется прокладывать нивелирные ходы параллельно источникам МП (ЛЭП и др.), а при пересечении нивелирного хода с протяжённым источником МП визирный луч нивелира направлять по возможности под 90е к последнему. г) Исследование четырёх нивелиров отличающихся по точности и принципу действия компенсаторов (Ni 050, Н-ЗК, Ni-3B, Ni 007), показало, что все они чувствительны к влиянию МП большой напряжённости. Отклонения визирных лучей азимутально зависимы и подчиняются закону функции косинуса, что подтверждает теоретические расчеты и выводы, приведённые в главах I и II. Трансформирование полученных ошибок к МПЗ, напряжённость которого в десятки раз меньше напряжённости МП, соз

176 данного постоянными магнитами в лабораторных условиях, доказало, что влияние МПЗ на компенсаторные нивелиры целесообразно учитывать только при нивелировании I и II классов точности. Доказано, что ошибки, обусловленные влиянием МП, зависят от типа подвески ЧЭ компенсатора, её длины и от величины коэффициента компенсации. д) Исследования нивелира ИА 2000 показали, что на нивелиры с электронными блоками считывания и обработки информации действия МП проявляется значительно сильнее.

В заключение отметим, что все пункты запланированной программы теоретических и экспериментальных исследований по теме диссертации полностью выполнены. Результаты исследований представляются к защите.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Кочетова, Элеонора Федоровна, 2000 год

1. Арнольд P.P. Расчет и проектирование магнитных систем с постоянными магнитами,- М. : Энергия, 1969 184 с.

2. Беспалов Ю.И. Жидкостные компенсаторы. Теория и практика применения в маркшейдерско-геодезических лазерных приборах.- Владивосток: Изд-во Дальневост. Ун-та, 1989 148 с.

3. Буравихин В.А. и др. Практикум по магнетизму,- М.: Высшая школа, 1979- 198 с.

4. Инструкция по нивелированию I, II, III и IV классов М.: Недра, 1974-160с.

5. Колесник А.Н., Бондарь A.JI. Об учете температурного изменения длин инварных реек при высокоточном нивелировании // Геод. и карт.-1976, №7, с.31-33.

6. Каден Г. Электромагнитные экраны в высокочастотной технике электросвязи.-М.-Л.: Госэнергоиздат, 1957.-327с.

7. Кантер A.C. Постоянные магниты.-М.-Л.: ОНТИ,НКТП,1938 -106с.

8. Кметко И.Н., Пандул И.С., Литинский В.О. Влияние электромагнитного поля ЛЭП на результаты геометрического нивелирования // Геодезия и картография. -1983.-№ 1 .-с.27-29.

9. Кметко И.Н., Пандул И.С., Литинский В.О. Влияние электромагнитного поля ЛЭП на результаты измерения зенитных расстояний // Геодезия, картогр. и аэросъёмка-Львов, 1984.-№40.-с.42-45.

10. Кочетов Ф.Г. Автоматизированные системы для геодезических измерений. -М.: Недра, 1991.-207с.

11. Кочетова Э.Ф. Лабораторные исследования влияния постоянных магнитных полей на нивелиры с компенсаторами // НТК проф.-преп. состава, аспир. и студ. HACA. Тез. докл.-Н.Новгород: HACA, 1995,ч.2-с.71.

12. Кочетова Э.Ф. Некоторые вопросы влияния МПЗ на компенсаторные нивелиры //НТК проф.-преп. состава, аспир. и студ. HACA. Тез. докл.-Н.Новгород: HACA, 1995, ч.2 с. 105.

13. Кочетова Э.Ф. Амагнитные жидкостные компенсаторы //Инф. листок №2197, Нижегор. межотр. ЦНТИ. Н.Новгород, 1997, 4 с.

14. Кочетова Э.Ф. Двухступенчатые амагнитные компенсаторы для геодезических приборов //Изв. вузов. Строительство и архитектура. Новосибирск 1997. -№4.-с.95-101.

15. Кочетов Ф.Г., Бухтояров В.А.Ю, Самсонов O.K. Нивелир. A.c. СССР № 1101675, «Бюлл. изобрет.» № 25, 1984.

16. Кочетов Ф.Г., Кочетова Э.Ф. Установка для исследования влияния постоянных магнитных полей на нивелиры //Инф. листок № 357-84 Горьк. межотр. ЦНТИ. Горький, 1984, 4 с.

17. Кочетов Ф.Г. Нивелиры с компенсаторами. М.: Недра, 1985. - 150 с.

18. Кочетов Ф.Г. Электромагнитная установка для испытания геодезических приборов // Инф. листок № 515-86. Горьк. межотрасл. ЦНТИ. Горький, 1986, 4 с.

19. Кочетов Ф.Г., Кочетова Э.Ф. Методы исследования влияния магнитных полей на нивелиры // Геодезия и фотограмметрия в горном деле. -Свердловск, 1987. Вып. 14, с.35-41.

20. Кочетов Ф.Г., Кочетова Э.Ф. Методы исследования влияния магнитных полей на точность геометрического нивелирования // Отчет, научно-техн. конф. по итогам реализ. ЦКП «Строит, комплекс». Горький, 1987.- с. 157159.

21. Краатц У., Лесных И.В., Мистерик Я. Исследование влияния ЭМП при геометрическом и тригонометрическом нивелировании НИИГАиК,

22. Новосибирск, 1992, 9с, Деп. в ОНИПР ЦНИИГАиК.31.03.92,№512-гд92. Рус.

23. Литинский В.О., Кметко И.Н., Кравцов Н.И. Исследование влияния электромагнитного поля ЛЭП на радиодальномерные измерения // Геодезия и картография.- 1990.№9.-с26-27.

24. Найшулер Г.М. Методика расчета коэффициентов экранирования маркшейдерского гирокомпаса Тр.Всесоюзн.научно-иссл.ин-та горной геомех. и маркшейдер. дела.-1969.-Сб.72.-с.534-545.

25. Найшулер Г.М. Магнитные ошибки экранированного маркшейдерского гирокомпаса Тр.Всесоюзн.научно-иссл.ин-та. горной геомех. и маркшейдер, дела.-1973 .-Сб.90.-с. 164-171.

26. Найшулер Г.М. Магнитные ошибки гирокомпаса и их классификация Тр.Всесоюзн.научно-иссл.ин-та. горной геомех. и маркшейдер, дела.

27. Инж.Геодезия, ч. 1.-1975.-с. 101.я

28. Патент ГДР 239661. МЗтниковое устройство. Заявл. 26.07.85, опубл. 01.10.86.

29. Раик М.В. Некоторые вопросы конструирования магнитоиндукци-онных демпферов маркшейдерско-геодезических приборов // Маркш.-геод. прборы,- М.: ВАГО, 1984, сю-45-53

30. Сафарян В.А. Стабилизатор вертикального направления визирной линии. А.с 1508096, СССР.

31. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Электричество.-М.: Наука, 1983-с 688.

32. Яновский Б.М. Земной магнетизм Л.- Изд.ЛГУ, 1978.-592 с.

33. Anderson N. On the magnetic inference to compensators of automatic levelling instruments in the Danish precise levelling. In. Proc. Nordic geod. Comm. Helsinki, 1986.

34. Beckers H. Correction of past levelling syrveys in Rheinland Pfalz for magnetic errors/ IUGG XVII General Assembly, Hamburg, 1983.

35. Beckers H. Influes of Magnetismon precise levelling -Shown in the Rheiland Pfalzian Part of the German First Order Levelling Network Workshop on the precise levelling. Hannjver,1983

36. Beckers H., Flevel H., Gottshalk H.I. Die Bestimmung des Einflusses des Erdmagnetfeldes auf Nivellementergebnisse durch Ausgleichung eines Nivellementetzes. VR, 1982, H.B., S.429-438.

37. Brys H. Model refracyel elecroohtycznej oraz jej wplyw na wyniki pomiarow, geodezyjnch. "Budownictwo Wodne i Inzynieria Sanitarna', Polytechnica Krakowska Z., Krakow 32(1983),3.

38. Dzierzega A. Zachwanie sie nasadki giroskopowej GAK-1 w stalim ale zviennim w czalie polu magnetycznym. "Zesz. Nauk AGH", 1975 №525, 89-96.

39. Dzierzega A., Jura J. Passibility of eliminations of influence of the magnetic field on indications of GAK-1 gyroattament using a correction determined in experimental way. "Pz. Komis, gorn.-geod. PAN w Krakowie, Geod", 1983, №30, 17-40.

40. Feist W., Heinze R., Müller P., Hermann G. Pendelanordnung, insbesondere fur geodätische Geräte. Pat. 233416, ГДР. Заявл. 28.12.846 опуб-лю 26.02.86.

41. Huter G. Zum Einflub von Magnetfeldern beim Prazisions -kompensatoenivellier Ni 002.- IUGG- Kongreb. Hamburg, 1983.

42. Ihde I., Steinberd I. Leistungfahigkeit und Reserven des geometrischen Prazisions nivellements. "Vermessungstechnik", 1985, № 9 301-303 (Teil 1), № 10, 332-334 (Teil 2).

43. Knufinke P. Untersuchungen uebr den Einflub der Erdmagnetismus auf Kompensator-Nivelliere. "Vermessungw. Und Raumordn.", 1987, 3 1, 47-54.

44. Kukkamaku T.I. Effect of magnetic field in levelling. "Proc. Gen. Meet. Int. Assoc. Geod., Tokyo, May 7-15,1982", Kyoto, 1982, 600.

45. Kukkamaku T.I., Lehmuskovski P. Influence of the earth magnetic field on Zeiss Ni 002 levels. "Rep. Finn. geod. Inst.", Helsiki, 1084, №84:1

46. Kolenaty E., Zeman A. Vliv magnetickeho pole Zeme na urovnani konpenzatorovych nivelacnich pristroju. "GaKO", 1985, № 9, 217-221.

47. Krautsch H. Zur Messung der magnetischen Kompensatorauslenkung. "Das Marksheidewesen", 1984, H.3,S. 401-408.

48. Kuntz E. Universität Fridericiana Karlsruhe. Geodätisches Institut. "Allgem. Vermes. Nachr.", 1983, № 7, S. 401-408.

49. Marold Т., Wahnert C. Prazisionskompensatoenivelliere und Magnetfield. "Verm.-Techn.", 1990, № 2, 49-54.

50. Meier H.K. Fein-Nivellier. Заявка № 3139385, ФРГ. Заявл. 03.10.81, опубл. 21.04.83. МКИ G 01С 5/02.

51. Noack G. Untersuchung systematischer Ziellinienanderungen des Prazisionskompensatornivelliers Ni 002 des VEB Carl Zeiss in magnetischen Gleich und Wechselndem. "Verm.-Technik", 1985, № 3, 93-94.

52. Noack G. Modell der elekromagnetischen Refraktion in elektrischen Gleichfeldern. "V.-T.", 1986, № 7, 234-236.

53. Noack G. Nivellement unter 380 kV-Hochspannungsfreileitungen. "Verm.-Techn.", 1987, № 12,410-412.

54. Noack G. Einflusst elektrischer und magnetischer Felder auf das Prazisionsnivellement. "Verm.-Techn.", 1988, № 1, 22-25.

55. Pascard R.F., Makneil I.H. A direct comparison of spirit and compensator levelling. "Geophys. Res. Lett.", 1983, № 9, 849-851.

56. Pelzer H. Systematische instrumenteile Fehler im Prazisionsnivellement. " Vermessungswes. und Raumordn.", 1984, № 2, 57-68.

57. Rumpf W, Meurisch H. Systematische Änderungen der Ziellinien von Kompensator-Nivellieren, insbesondere des Zeiss Ni 1, durch magnetische Gleich-und Wechselfelder. " Vermessungsingeneur", 1982, № 4, S. 110-116.

58. Steinberg I., Schädlich M. Analyse der Ergebnisse des Wiederholungsnivellement. Ordnung der DDR. "Verm.-Techn.", 1985, № 4, 116-118.182

59. Sturser R. Prazisionsnivellement "Veroffn. Dtsch. Geod. Komiss. Bauer. Akad. Wiss", 1983, № 265, 49-64.

60. Whalen C.T. Automatic Levels Affected by Magnetic Fields. "ACSM Bulletin, April, 1984, p. 17".