Пространственная и временная фокусировка ионных сгустков во времяпролетном масс-спектрометре с лазерной ионизацией твердой фазы тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.13, кандидат технических наук Потешин, Сергей Станиславович

• Потешин, Сергей Станиславович
• кандидат технических наук
• 2010

Оглавление диссертации кандидат технических наук Потешин, Сергей Станиславович

ВВЕДЕНИЕ

1. Масс-спектрометрические приборы с лазерной ионизацией для анализа твердых тел

1.1. Ионно-оптические системы лазерных масс-спектрометров

1.1.1. Лазерные масс-спектрометры с двойной фокусировкой

1.1.2. Времяпролетные лазерные масс-спектрометры без фокусировки по энергиям

1.1.3. Лазерные времяпролетные масс-спектрометры с селекцией ионов по энергиям

1.1.4. Лазерные времяпролетные масс-спектрометры с фокусировкой ионов по энергиям.

1.2. Проблемы лазерной времяпролетной масс-спектромстрии

1.3. Постановка задачи

2. Выбор и обоснование ионно-опгической схемы лазерного времяпролешого масс-спектрометра

2.1. Разработка концепции прибора и формулировка требований к основным его элементам

2.2. Выбор иопно-опгической схемы масс-анализатора и расчет ее ионно-оптических. геомегрических и электрических параметров

2.3. Компьютерное моделирование работы времяпролетпого анализатора

2.4. Выбор и компьютерное моделирование ионно-опгической системы источника ионов

3. Разработка основных узлов лазерного времяпролетного масс-спекгрометра

3.1. Оптическая система лазерного источника ионов

3.2. Источник ионов

3.3. Узлы ввода и сканирования образца

3.4. Времяпролетный масс-аиализатор.

3.5. Узел детектора ионов

3.6. Регистрирующая система масс-спектрометра

3.7. Электронные узлы прибора

3.8. Вакуумная система масс-спектрометра

3.9. Программное обеспечение для сбора масс-спектральных данных, первичной и вторичной обработки данных

3.10. Назначение программного обеспечения.

3.11. Состав программного обеспечения.

4. Экспериментальное исследование работы основных функциональных узлов ЛАМАС-10 и его параметры

4.1. Основная методика проведения анализа.

4.2. Разрешающая способность.

4.3. Предел обнаружения и изотопическая чувствительность

4.4. Возможность проведения количественного анализа

4.5. «Эффект памяти» прибора и пути его снижения

4.6. Технические и аналитические характеристики лазерного времяпролетного масс-спектрометра

5. Некоторые приложения лазерного времяпролетного массспектрометра ЛАМ АС

5.1. Изотопный анализ

5.2. Послойный элементный анализ оксидных пленок циркония

5.3. Анализ геологических образцов

Выводы

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Пространственная и временная фокусировка ионных сгустков во времяпролетном масс-спектрометре с лазерной ионизацией твердой фазы»

Актуальность. Развитие высоких технологий ставит новые задачи по аналитическому обеспечению технологических процессов, совершенствованию методов и приборов для элементного анализа твёрдых образцов. Повышаются требования к точности анализа, относительным и абсолютным порогам обнаружения примесей в образце. Наряду с этим возрастают требования к надёжности аппаратуры, удобству обращения с ней, массогабаритным параметрам, ценовой конкурентоспособности.

Среди различных способов элементного анализа твердого тела, лазерная масс-спектрометрия (JIMC) является одним из самых перспективных методов, который может отвечать современным требованиям. Его возможности еще не полностью раскрыты, но уже описанные в литературе образцы приборов демонстрируют хорошие аналитические характеристики. При низких пределах обнаружения, метод JIMC позволяет анализировать все элементы Периодической таблицы, включая газообразующие примеси. JIMC обеспечио вает относительную чувствительность - до 10" %. К его достоинствам также относится: простота пробоподготовки, нет потребности в расходных материалах; возможность валового рутинного анализа твердых проб, локального и послойного анализов с хорошим разрешением по поверхности и глубине. Одно из самых важных преимуществ JIMC - ее универсальность. Один прибор может охватить решение широкого круга задач, таких как анализ металлов, полупроводников, диэлектриков, стекол, порошкообразных образцов. Соответственно он с успехом может применяться в металлургии, геологии, экологии, в криминалистике и многих других областях.

Наиболее удачно с лазерным источником ионов (ЛИИ) сочетаются вре-мяпролётные масс-анализаторы (ВПМА) вследствие того, что ионизация в таких источниках имеет импульсный характер и, практически, нет необходимости формировать короткие ионные пакеты. ВПМА в сочетании с ЛИИ имеют ряд преимуществ. За один выстрел лазера можно получить представлеиие о составе пробы во всем диапазоне масс. Они обеспечивают высокую экспрессность анализа, высокую абсолютную чувствительность.

Однако, несмотря на перспективность метода, до настоящего времени гак и не создано лазерного масс-спектрометра, отвечающего современным требованиям. Основным недостатком является недостаточная воспроизводимость анализа. Невоспроизводимость результатов, во-первых, связана со сложностью и многообразием процессов, происходящих при образовании и разлете лазерной плазмы. Их параметры трудно контролировать и теоретически описывать. И, во-вторых, созданные приборы и методики оказываются очень критичны к колебаниям этих параметров. Как показывает анализ литературы, повышение воспроизводимости за счет поиска научно-технических решений, которые могли бы нивелировать влияние нестабильности плазмо-образования на результаты анализа, еще далеко не исчерпан. Решение этой проблемы является непосредственным шагом к созданию лазерного масс-спектрометра, превосходящего по комплексу своих возможностей и технико-аналитических характеристик, имеющиеся средства для элементного анализа твердых образцов.

Целью работы является разработка физико-технических основ создания нового класса масс-спектрометров с лазерно-плазменным источником ионов и построение на базе разработанных принципов лазерного времяпро-летного масс-спектрометра, обладающего в комплексе более высокими технико-аналитическими характеристиками в сравнении с аналогами.

Научная новизна диссертации состоит в следующем.

1. Предложена и обоснована новая иопно-оптическая схема прибора с тройной временной фокусировкой на базе времяпролетного масс-анализатора с секторным аксиально-симметричным полем.

2. Предложена ионная оптика и режим работы лазерного источника ионов, обеспечивающие разрушение плазмы на ранней стадии ее разлета и воспроизводимое формирование коротких ионных пакетов с ускорением ионов до 1000 эВ.'

3. На основе моделирования ионной оптики источника ионов и анализатора предложены и реализованы технические условия, позволяющие получить разрешающую способность на уровне 1000.

4. Изучены все основные источники возникновения шумов и определены условия получения предела обнаружения на уровне нескольких ppb.

5. Предложена новая методика количественного анализа твердых образцов с помощью сканирования ионов по энергиям в диапазоне 10-300 эВ, позволяющая добиться более высокой воспроизводимости и правильности анализа.

6. Предложен способ временной коррекции масс-спектров, обеспечивающий получение устойчивой высокой разрешающей способности.

На защиту выносятся следующие положения:

• выбор и обоснование эффективности применения новой ионно-оптической схемы с аксиально-симметричным полем в лазерном время-пролетном масс-спектрометре JTAMAC-10 для анализа твердых и порошкообразных образцов;

• новое схемотехническое построение и разработка конструкции источника ионов с разрушением лазерной плазмы на ранних стадиях разлета, обеспечивающих ускорение вытянутых из плазмы ионов до энергий 1000 эВ, что дает существенное увеличение разрешающей способности прибора и минимизирует влияние рекомбинациопных процессов;

• методика развертки и накопления масс-спектров со сканированием всего энергетического диапазона ионов, обеспечивающая существенное улучшение воспроизводимости анализа;

• способы коррекции шумов лазерного времяпролетного масс-спектрометра, обеспечивающие получение предела обнаружения на уровне нескольких ppb;

Апробация диссертационной работы: Данная работа была выполнена в МИФИ в течение 1997 - 2006 гг. Основные теоретические и экспериментальные результаты были представлены на научно-практической конференции "Научная сессия МИФИ 2003", на 10-ом ежегодном семинаре "Спектрометрический анализ. Аппаратура и обработка данных на ПЭВМ" (Обнинск, Россия, 2003), на 16-й Международной масс-спектрометрической конференции (Эдинбург, Шотландия, 2004), на Международной конференции "Десорбция 2004" (Санкт Петербург, Россия, 2004), на 2-ом Международном Семинаре-школе «Масс-спектрометрия в химической физике, биофизике и экологии» (Звенигород, Россия, 2004), на Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России 2004» (Москва, Россия, 2004), на научно-практической конференции "Научная сессия МИФИ 2005". На Всероссийской конференции «Масс-спектрометрия и ее прикладные проблемы» (Москва, Россия, 2005), на научно-практической конференции "Научная сессия МИФИ 2006". Описываемый прибор был представлен и отмечен дипломом победителя в 2004 году на Всероссийской выставке "Перспективные технологии XXI века".

Структура диссертации: Диссертационная работа состоит из введения, шести глав и заключения. Работа имеет хххххх страниц текста, включая ххххх рисунка. Библиография насчитывает хххххх наименований.

Заключение диссертации по теме «Электрофизика, электрофизические установки», Потешин, Сергей Станиславович

ВЫВОДЫ

1. Предложена и обоснована новая ионно-оптическая схема прибора с тройной временной фокусировкой на базе времяпролетного масс-анализатора с секторным аксиально-симметричным полем.

2. Разработано новое схемотехническое построение и конструкция источника ионов с разрушением лазерной плазмы на ранних стадиях разлета, обеспечивающих ускорение вытянутых из плазмы ионов до нескольких кэВ, что дает существенное увеличение разрешающей способности прибора и минимизирует влияние рекомбинационных процессов.

3. На основе моделирования ионной оптики источника ионов и анализатора предложены и реализованы в конструктивном исполнении технические условия, позволяющие получить разрешающую способность на уровне 1000.

4. Изучены все основные источники возникновения шумов и определены условия получения предела обнаружения на уровне нескольких ppb.

5. Предложена и экспериментально обоснована методика развертки и накопления масс-спектров со сканированием всего энергетического диапазона ионов, обеспечивающая существенное улучшение воспроизводимости и правильности анализа.

6. Полученные аналитические характеристики позволяют использовать ЛАМАС-ЮМ для широких аналитических целей, включая следовый элементный анализ, изотопный анализ. Эти параметры дают возможность проводить прямой анализ компактных и порошкообразных проб с пределом обнаружения 10-50 ppb.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Потешин, Сергей Станиславович, 2010 год

1. Райзер Ю.П. О конденсации в облаке испаряющегося вещества, расширяющегося в пустоту. ЖТФ, т. 37, 1959 г., Вып. 6(12).

2. Рэди Дж. Действие лазерного излучения. Пер. с английского по ред. Анисимова С.И. М.:Мир, 1974.

3. Honig R.E. and Woolston J.J.R., Appl. Phys. Lett. 2, 138 (1963).

4. Быковский 10.A. // ЖТФ, 1969, т.39, с. 1272-1274.

5. Нсволин B.H. // Автореферат кандидатской диссертации, МИФИ, 1973.

6. Бразилович П.Г1. и др. // Тезисы докл. II Всесоюзной конференции по масс-спектрометрии, Л.: Наука, 1974, с. 67.

7. Kaufrnann R., Hillenkamp F. and Remy E. Die Lascrmicrosonde. Micro-scopica Acta 73, 1 (1972) (in German).

8. Flillenkamp F. e. a. //Applied Physics, 1975, vol. 73, p. 341-348.

9. Kaufrnann R., Hillenkamp F., Nitsche R. e.a. // Microscopica Acta, 1978, Suppl. 2, p. 297.

10. Feigl P., Schueler В., Hillenkamp F. Lamma 1000, a new instrument for bulk microprobe mass analysis by pulsed laser irradiation. International Journal of Mass-Spectromctry and Ion Physics. 1983. № 47. p. 15-18.

11. Wechung R., Hillenkamp F., Kaufmann R., Nitsche R., Unsold E. and Vogt H. // Microscopica Acta, 1978, Suppl. 2, p. 281.

12. Ковалев И.Д., Ларин PI.В., Потапов A.M. и Сучков А.И. Исследование распределения примесей в поликристаллическнх образцах высокочистых металлов па лазерном масс-спектрометре LAMMA-1000. Журнал аналитической химии. 1985. том 45. вып. 11. стр. 1971-1977

13. Ковалев И.Д., Ларин Н.В., Сучков А.И., Воронов А. М., Шмонин П. А. «Линейный лазерный масс-рефлектроп» Приборы и техника эксперимента, 1985, №6, с 139-142.

14. Sysoev A.A., Poteshin S.S., Dryannov A.I., Shchekina I.V., Pyatakhin V.I. and Men'shikov R.A., Laser Time-of-Flight Mass-Spcctrometer, Instruments and Experimental Techniques 40, 508 (1997) (translated from Russian).

15. Southon M.J., Witt M.C., Harris A., Wallach E.R., Myatt J. (1984), "Laser-microprobe mass analysis of surface layers and bulk solids". Vacuum 34, 903 (1984).

16. Dingle Т., Griffiths B.W. & Ruckman J.C. LIMA-a laser induced ion mass analyzer. Vacuum 31, 571 (1981).

17. Энергомасс-анализатор лазерный ЭМАЛ-2. Рекламный проспект ПО Электрон. Сумы, облполиграфиздат. 1988.

18. Либих Ф.Д., Рамендик Г.И., Блокин А.Г. и др. Исследование аналитических характеристик масс-спектрометра ЭМАЛ-2 с лазерным источником ионов. Журнал аналитической химии. Том 42. вып. 10 стр. 1783-1786.

19. Оксенойд К. Г., Рамендик Г. И., Сотниченко Е. А., Андрианова Е. Н., Пятахип В. И. Методика количественного элементного анализа порошкообразных геологических проб на лазерном масс-спектрометре. ЖАХ, 1990, Т.45, вып.6,С 1197.

20. Ковалев И.Д., Ларин Н.В., Сучков А.И. Аналитические характеристики лазерного масс-епектрометрического метода анализа при ультрамалом проботборе. Журнал аналитической химии. 1984. том 39. вып. 7. с. 1189.

21. Быковский Ю. А., Журавлев Г. И., Белоусов В. И., Гладской В. М., Дегтярев В. Г., НеволинВ. Н. Физика плазмы, 1978, т. 4, №2, с 323.

22. Быковский Ю. А., Сильнов С. М., Шарков Б. Ю., Шувалов С. М., Шеро-зия Г. А. Физика плазмы, 1976, т.2, № 2, с. 248.

23. Ковалев И.Д. Исследование процессов ионообразования при воздействии лазерного излучения на твердое вещество. Дис. . канд. хим. наук. Горький: ГГУ, 1979.

24. Быковский Ю. А., Басова Т. А.,. Белоусов В. И., Гладской В. М., Горшков В. В., Дегтярев В. Г., Лаптев И. Д., НеволинВ. Н. Ж. техн. физики, 1976, т. 46, №6, с. 1338.

25. Быковский Ю. А., Басова Т. А.,. Белоусов В. И., Гладской В. М., Горшков В. В., Дегтярев В. Г., Лаптев И. Д., НеволинВ. Н. Ж. аиалит. химии, 1976, т. 31, № 11, с. 2092.

26. Белоусов В. И., Гладской В. М. Электронная пром-сть, 1980, № 12, с. 27.

27. Девятых Г.Г. и др. // ЖАХ, 29, стр. 1516(1974).

28. Каратаев В.И., Мамырин Б.А., Шмикк Д.В. Новый принцип фокусировки ионных пакетов во времяпролетных масс-спектрометрах. Журнал технической физики. 1971. Том 41, вып. 7. с. 1498-1501.

29. Мамырин Б. А., Шмикк Д. В. Линейный масс-рефлектрон. ЖЭТФ, 1979, т.76, вып.5, с. 1500-1505.

30. Манагадзе Г.Г., Манагадзе Ы.Г., Количественный и безэталонный анализ металлов и сплавов с помощью лазерного времяпролетного масс-спектрометра. Препринт ИКИ РАН Пр-1962, 1997.

31. Манагадзе Н.Г. Разработка методик и устройств количественного анализа твердых веществ с помощью лазерного масс-рефлектрона. Диссертация на соискание научной степени кандидата физ.-мат. Наук. Москва 2000.

32. Managadzc G. G., Managadze N. G., Quantitative reference-free express analysis of some alloys on a laser time-of-flight mass spectrometer, Technical physics, vol. 44, № 10, 1999.

33. Ковалев И.Д., Шмоппп П.А. // Высокочистые вещества. 1992. № 2. С. 168.

34. Ковалев И.Д., Малышев К.II., Шмопин П.А. «Тандемпый лазерный масс-рсфлектрон для определения газообразующих примесей в твердых веществах. Устройство и принцип работы. Журнал Аналитической Химии, 1998, том 53, № 1, с. 38-42.

35. Безруков В.В., Гурьянов М.А., Ковалев И.Д., Овчинников Д. К. Система автоматизированного управления тандемпым лазерным масс-спектрометром, Масс-спекгрометрия, №4, 2004 г.

36. Овчинников Д. К. Определение газообразующих примесей в твердых веществах методом времяпролетпой лазерной масс-спектрометрии на тандемпом лазерном масс-рефлектроне. Диссертация на соискание ученой сгепепи кандидата хим. наук. Нижний Новгород 2005.

37. Быковский Ю.А., Неволин В.Н. Лазерная масс-спекгрометрия. М.: Энергоатомиздат, 1985.

38. Быковский Ю. А., Сильнов С.М. Рекомбинация ионов лазерной плазмы. Москва: МИФИ. Препринт № 008-87. 1987.

39. Быковский Ю.А., Оксенойд К.Г., Рамеидик Г.И., Сильнов С.М., Сотни-чепко П.А. Роль процессов ионизации примесных атомов, ускорения и рекомбинации ионов в лазерпо-плазменной масс-спектрометрии. Москва: МИФИ. Препринт № 003-89. 1987.

40. А.К. Шуаибов, А.И. Дащепко, И.В. Шевера. Оптическая диагностика лазерной плазмы In, Письма в ЖТФ, 2000, т 26, вып. 18.

41. Касьянов В. Б. Импульсное испарение и формирование ионных пакетов в лазерной времяпролетной масс-спектрометрии. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физ.-мат. наук. Москва 2006.

42. Басов Н.Г., Бойко В.А, Дементьев В.А., Крохин О.Н., Склизко Г.В. Нагревание и разлет плазмы, образующейся при воздействии сфокусированного гигантского импульса лазера на твердую мишень. ЖЭТФ, 1966, Т 51, вып 4(10), стр. 989.

43. Ананьин О.Б., Афанасьев Ю.В., Быковский Ю.А., Крохин О.Н. Лазерная плазма. Физика и применение. М.: МИФИ, 2003. 400 с.

44. Быковский Ю. А., Сильнов С.М. Ускорение частиц в лазерной плазме. Москва: МИФИ. Препринт № 001-88. 1988.

45. Сильнов С.М. Лазерная плазма па поздних стадиях разлета. Диссертация на соискание научной ciciicihi доктора физ.-мат. Ыаук. Москва 1987.

46. Бойко В.А, Крохин О.Н., Слизков Г.В. «Исследование параметров и динамики лазерной плазмы при острой фокусировке излучения па твердую мишень.» Тр. Физ. ии-та АН СССР, 1974, т.52, стр. 186-228.

47. Кузнецов Г.Б. Особенности определениясостава твердого тела с помощью масс-спектрометрии ионных сгустков на ранней стадии их разлета. Диссертация па соискание уч. степ, д.ф.-м.н., М.: МИФИ, 2003.

48. Сысоев А.А., Потешин С.С., Кузнецов Г.Б., Ковалев И.А., Юшков Е.С. Анализ компактных и порошкообразных образцов с помощью лазерного времяпролетного масс-спектрометра ЛАМАС-10М. Журнал аналитической. 2002. № 9. стр.958-970.

49. Быковский Ю.А., Гладков В.Г1., Кузнецов Г.Б. Учет многозарядных ионов при количественном анализе вещества на анализаторе ЭМАЛ-2. Приборы и техника эксперимента. 2000. № 4. стр. 139-140.

50. Быковский Ю. А., Гладков В.Г1, Конюхов И. Ю. Пекленков В. Д., Ширяев М.В. Возможность использования электрической регистрации на масс-спектрометре ЭМАЛ-2. Научная сессия МИФИ-99. Сборник научных трудов. Москва: МИФИ, 1999. Т.З, С. 147-150.

51. Vanhaecke F et. al. Ап evaluation of the isotopic ratio performance of an axial TOF-ICP-MS. Diss. LECO Corporation 1998. (submitted to Analytical Chemistry)

52. ELAN DRC plus. Рекламный проспект фирмы PerkinElmer. Printed in USA © 2001 PerkinElmer, Inc.

53. Plazmax-2 ICP-Mass Spectrometr. Рекламный проспект фирмы JEOL. Printed in Japan © 1999. Jeol Ltd.

54. Element-2 Рекламный проспект фирмы TermoQuest. Printed in England © 2000. TermoQuest.

55. Poschenrieder W. P., Multiple—focusing time of flight mass spectrometers Part 1. Tofms with equal momentum acceleration International Journal or Mass Spectrometry and Ion Physics, Volume 6, Issues 5-6, June 1971, Pages 413426

56. Poschenrieder W. P., Multiple-focusing time-of-flight mass spectrometers Part II. TOFMS with equal energy acceleration International Journal or Mass Spectrometry and Ion Physics, Volume 9, Issue 4, September 1972, Pages 357373

57. Moorman C.J., Parmater J.Q., US3576992, Bendix Co, 1968 Poschenrieder, W. P. Int. J. Mass Spectr. Ion Phys. 9 (1972) 357

58. Oetjen G. H., Poschenrieder W. P. Focussing Errors of a Multiple-Focussing Time-of-Flight Mass Spectrometer with an Electrostatic Sector Field // Int. J. of Mass-Spectr. and Ion Physic, 1975. V. 16. № 4. P. 546—551.

59. Олейников B.A., Сысоев A.A. Метод расчета и исследование фокусирующих свойств по времени пролета аксиально-симметричных электростатических электрических полей. ВИНИТИ, № 2971-80 07.11.80, М. (1980).

60. Сысоев А. А., Самсонов Г. А. Теория и расчет статических масс-анализаторов.— М.: Изд. МИФИ, 1972. Ч. 1,2.

61. Сысоев А.Л., Дряппов А.И., Потешин С. С., Щекина И.В., Пятахип В.И., Меньшиков Р.А., Лазерный времяпролетный масс-спектрометр, Приборы и техника эксперимента, 1997, № 4, с.78-83.

62. Сысоев А.А. Дряннов А.И. Пятахин В.И., Analytical Capabilities of Laser Mass SpectromctcT Analyzing Solid and Powder Samples, International Congress on Analytical Chemistry, 1997, Abstracts, v.2, L-21

63. Sysoev Alexey A., Sysoev A. A., Poteshin S.S., Pyatakhin V.I., Shchekina I.V., Trofimov A.S., Direct sampling time-of-flight mass spectrometers for technological analysis., Frescnius J. Anal. Chcm. V.361, p.261-266, 1998.

64. Сысоев A.A., Потешин С.С., Кузнецов Г.Б., Ковалев И.А., Юшков Е.С. Анализ компактных и порошкообразных образцов с помощью лазерного времяпролетного масс-спектрометра ЛАМАС-ЮМ. Журнал аналитической химии. 2002. № 9. стр.958-970.

65. Физика и технология источников ионов./ под ред. Я Браупа: пер. с английского М. Мир, 1998.

66. Jansen J. A. J., Witmer A. W., Quantitative inorganic analysis by Q-switched laser mass spectroscopy, Spectrochim. acta, 1982, v/ 37B, p. 483.

67. Sakurai Т., Fujita Y., Matsuo T. and Matsuda PI., Katakuse I., Miseki К., A new time-of-flight mass spectrometer, International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes Volume 66, Issue 3, 26 June 1985, Pages 283-290

68. ETP Connection, ETP Scientific, Inc., 1995, 2, p. 1-3 (from the paper presented at the 1994 ASMS Conf. by Cutter, A.D., Hunter, K.L., Stresau, R.W., and Paterson, J).

69. Касьянов В.Б., Потешин С.С., Сысоев Алексей А., Сысоев Александр А., Фатюшина Е.В., Новый подход к инструментальной реализации лазерного времяпролетного масс-спектрометра, Масс-спектрометрия 2(1), 31-40 (2005).

70. Kasyanov V.B., Sysoev A.A., Poteshin S.S., Fatushina E.V., Laser Time-Of-Flight Mass Spectrometer With Orthogonal Target Irradiating, 17th International Mass Spectrometry Conference, Praga, 2006, 28 August 1 September.

71. Сысоев Алексей А., Потешин С.С., Бордуляк А.В. Эффект «памяти» в лазерных времяпролётных масс-спектрометрах. Вопросы атомной науки и техники. Серия. Техническая физика и автоматизация. 2008, вып. 63, с.117-127.

72. Сысоев А.А., Касьянов В.Б., Погешип С.С., Сильников Е.Е., Трофимов А.С., Аппаратно-программный комплекс, интегрированный в лазерный времяпролетный масс-спектрометр, Приборы и техника эксперимента, 2007, №6.

73. Simons D. S., Isotopic analysis with the laser microprobe mass analyzer. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 55 (1984) 15.

74. Ledingham K.W.D. 1; Singhal R.P. High intensity laser mass spectrometry International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes, Volume 163, Number 3, May 1997, pp. 149-168(20).

75. Арзуманяп Г.М., Богданов Д.Д., Быковский IO. А., Родин A. M., Сильнов С. M., Тер-Акопяи Г. М.Препринт ОИЯИ, Дубна, 1982.

76. Guest W.H. Developments oflaser microprobe mass analysers, LAMMA 500 and 1000. International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes Volume 60, Issue 1, 7 September 1984, Pages 189-199.

77. И. Д. Ковалев И. Д., Потапов А. М., Буланов А. Д. Измерение изотопного состава изотопно обогащенного кремния и его легучих соединений методом лазерной масс-спектрометрии. МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ 1(1), 37 44 (2004).

78. Ковалев И.Д., Шмопин П.А. Влияние процессов рекомбинации на правильность лазерного масс-спекфомегричсского метода анализа. Высоко-чисгые вещества. 1989. № 1.стр. 152-158.

79. I.D. Kovalev, G.A. Maksimov, A.I. Suchkov and N.V. Larin, Int. J. Mass. Spectrom. Ion Phys 27 101 (1978).

80. G. Pinho, H. Schittenhelm, W. Duley, S. Schlueter, H. Jahani and R. Mueller, Appl. Surf. Sci., 1998, 129, 983-987

81. Касьянов В.Б., Потешин С.С., Сысоев А.А. Регистрация ионов в большом динамическом диапазоне в лазерном масс-спектрометре JIAMAC-10М. Научная сессия МИФИ-2003. Сборник научных трудов. Москва: МИФИ, 2003. Т.8 , С. 29-30.

82. Kasyanov V.B., Poteshin S.S., Sysoev А.А., Sysoev A.A., Fatyushina E.V. The modern approach to the laser time-of-flight mass spectrometer construction. Desoiption 2004. 10th International Conference Abstracts. Saint-Petersburg: PHPU, 2004. p. 62.

83. SIMION 3DTMversion 7.0 (Scientific Instrument Services, Inc., NJ, USA.

84. K. P. Jochum, L. Matus, H. M. Seufert. Trace element analysis by laser plasma mass spectrometry, Fresenius' Journal of Analytical Chemistry, Volume 331, Number 2 / 02.1988 r.

85. Сысоев А. А., Пятахин В. И., Метальников П. С., Иванов В. П., Сысоев А. А., Халмош И. Д., Барот И., Реннер Я. Времяпролетный масс-спектромегр. Патент. N 2079925 от 25.05.97 Приоритет от 14.02.95.