Прогнозирование и оптимизация начальной схемной надежности с учетом дестабилизирующих факторов в САПР микросхем тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.12, кандидат технических наук Муратов, Василий Александрович

• Муратов, Василий Александрович
• кандидат технических наук
• 2000

Оглавление диссертации кандидат технических наук Муратов, Василий Александрович

ВВЕДЕНИЕ

ОСОБЕННОСТИ АВТОМАТИЗАЦИИ СХЕМОТЕХНИЧЕСКОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ С ЦЕЛЬЮ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ И ОПТИМИЗАЦИИ НАЧАЛЬНОЙ СХЕМНОЙ НАДЕЖНОСТИ АНАЛОГОВЫХ МИКРОСХЕМ Повышение эффективности автоматизированного схемотехнического проектирования за счет учета влияния дестабилизирующих факторов

Необходимость разработки математического и программного обеспечения подсистемы прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности микросхем с учетом комплексного воздействия дестабилизирующих факторов Цель и задачи исследования

АЛГОРИТМИЗАЦИЯ ФОРМИРОВАНИЯ МОДЕЛЕЙ ЭЛЕМЕНТОВ И КОМПОНЕНТОВ АНАЛОГОВЫХ МИКРОСХЕМ

Вероятностная модель пассивных элементов Моделирующие эквивалентные схемы активных компонентов микросхем, учитывающие комплексное воздействие дестабилизирующих факторов

Зависимость параметров модели активных компонентов микросхем от случайного разброса статического режима Температурные зависимости параметров модели биполярного транзистора ^

Зависимость параметров модели биполярного транзистора от уровня ионизирующих излучений

Оценка числовых характеристик законов распределения параметров микросхем с использованием метода максимального правдоподобия

Двухпараметрические плотности распределения параметров микросхем

Трехпараметрические плотности распределения параметров микросхемы

Моделирование случайного вектора параметров элементов компонентов микросхем с учетом стохастической взаимосвязи

Алгоритм автоматизированного построения и расчета модели активных компонентов Основные выводы второй главы

РАЗРАБОТКА МАТЕМАТИЧЕСКОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ПОДСИСТЕМЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ И ОПТИМИЗАЦИИ НАЧАЛЬНОЙ СХЕМНОЙ НАДЕЖНОСТИ МИКРОСХЕМ

Оценка однородности статистических выборок параметров микросхем

Прогнозирование вероятностных характеристик статического режима аналоговых микросхем с учетом воздействия дестабилизирующих факторов

Прогнозирование серийноспособности микросхем с учетом дестабилизирующих факторов

Оценка чувствительности выходных параметров микросхем к параметрам элементов и компонентов

Объектно-ориентированый подход к реализации программного комплекса моделирования микросхем Статистическая оптимизация параметров аналоговых микросхем

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Прогнозирование и оптимизация начальной схемной надежности с учетом дестабилизирующих факторов в САПР микросхем»

Непрерывно возрастающие требования к техническим характеристикам микросхем приводят к необходимости совершенствования технологии их производства и проектирования.

При проектировании микроэлектронной аппаратуры (МЭА) особую значимость приобретают вопросы прогнозирования и оптимизации ее статистических характеристик в условиях воздействия эксплуатационных факторов.

Учитывая, что сложность микроэлектронных устройств (МЭУ) постоянно растет, что требования к качественным характеристикам также повышаются, задача разработки высоконадежной аппаратуры может быть решена при дальнейшем совершенствовании, развитии и внедрении систем автоматизированного проектирования (САПР), в том числе систем схемотехнического проектирования (ССП) при использовании современной информационной технологии проектирования.

Одним из важнейших показателей качества микросхемы являются статистические характеристики ее функциональных параметров при заданных входных воздействиях. Входные воздействия включают в себя: статистические характеристики параметров элементов и компонентов микросхем, определенные для данного базового технологического процесса; дестабилизирующие факторы (ДФ), влияющие на работоспособность микросхем.

Решению вопросов, связанных с исследованиями в этой области, посвящены ряд работ, выполненных на кафедрах САПР и ИС, КиПРА Воронежского государственного технического университета. В частности, разрабатывались алгоритмы и модели для надежностного схемотехнического проектирования аналоговых микроэлектронных устройств.

В представленной работе исследуются статистические характеристики функциональных параметров аналоговых микросхем при воздействии 6 дестабилизирующих факторов с учетом технологического разброса и решается задача статистической оптимизации.

Известные отечественные (ДИСП-ПК /1,2,3/, АСОНИКА /4/, КАПР-3 /5/, АРИПС-ПК /6/, ПА-4 /7,8/, ПАУМ /9,10/, МОДЕЛЬ /11/, МАРС /12,13,14/, АРОПС /15/, ПАЭС /16/, САМРИС /17,18,19/, АРНС /20/, СПАРС /21/ и другие) и зарубежные (Pspice /22,23,24/, Micro-Cap /25,26,27/, Saber/Cadat /28,29/, NAP-2 /30/, Bitep /31/) программные комплексы и системы, предназначенные автоматизированного проектирования электронных схем и МЭУ, не позволяют прогнозировать начальную схемную надежность аналоговых МЭУ с учетом комплексного воздействия ДФ на этапах схемотехнического и конструкторско-топологического проектирования, так как не имеют проблемно-ориентированных подсистем с соответствующей информационной базой, математическим и программным обеспечением.

Существующие программы автоматизации схемотехнического проектирования для персональных компьютеров /17,20,27,32,33,34/ разрабатывались для достаточно широкого класса проектируемых устройств и не позволяют выполнять процедуры проектирования, учитывающие статистический разброс параметров элементов и компонентов МЭУ с учетом комплексного воздействия ДФ.

Имеется справочная литература /35/, публикации по теоретическим аспектам разработки САПР к объектам проектирования /42-48/. Однако, сведений о практической работе конкретными пакетами программ в литературе недостаточно, а данные о параметрах математических моделей и стандартных характеристик пассивных элементов и активных компонентов аналоговых ИС и МСБ в условиях воздействия ДФ отсутствуют.

Кроме того, недостаточно отработаны на схематическом уровне методы и принципы проектирования аналоговых устройств с повышенной начальной схемной надежностью в условиях воздействия ДФ, и, как правило, они не доведены до алгоритмической и программной реализации. 7

Таким образом, актуальность темы диссертационной работы обусловлена необходимостью повышения эффективности систем схемотехнического проектирования для обоснованного прогнозирования начальной схемной надежности микросхем с учетом дестабилизирующих факторов.

Тема диссертации разработана в соответствии с межвузовской комплексной программой 12.11. «Перспективные информационные технологии в высшей школе» и в рамках одного из основных направлений ВГТУ «Системы автоматизированного проектирования».

Цель и задачи исследования - разработка методов и алгоритмов получения вероятностных моделей элементов и компонентов микросхем для использования на этапе схемотехнического и конструкторского проектирования и создание на их основе проблемно-ориентированной подсистемы прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности микросхем. Основными задачами работы являются:

- повышение эффективности ССП аналоговых МЭУ за счет учета ДФ;

- формирование вероятностных моделей пассивных и активных элементов и компонентов аналоговых МЭУ, учитывающих влияние ДФ;

- оценка числовых характеристик законов распределения параметров микросхем с использованием метода максимального правдоподобия;

- разработка алгоритмов автоматизированного моделирования активных компонентов микросхем;

- разработка программных модулей формирования статистических моделей элементов и компонентов МЭУ, учитывающих влияние конструктивно-технологических факторов, режима по постоянным составляющим, частоты и дестабилизирующих факторов для повышения точности исходной информации;

- реализация предложенных алгоритмов и моделей в подсистеме прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности микросхем;

- разработка информационного и программного обеспечения и анализ эффективности их использования в специализированной подсистеме. 8

Методы исследования основываются теории системного анализа, методах вычислительной математики, объективно-ориентированного программирования, теории целей и полупроводниковых приборов, а также на новых информационных технологиях.

Научная новизна.

Основные результаты диссертации, выносимые на защиту и имеющие научную новизну, состоят в следующем:

1. предложен метод повышения эффективности ССП МЭУ с повышенной начальной схемной надежностью в условиях воздействия дестабилизирующих факторов, основанный на оценке вероятностных характеристик параметров элементов и компонентов микросхем при использовании метода максимального правдоподобия;

2. разработаны теоретико-вероятностные модели элементов и компонентов аналоговых микросхем, используемые при статистических расчетах и оптимизации, отличающиеся учетом случайного разброса статического режима и влияния ДФ;

3. предложен метод представления режимной зависимости параметров элементов эквивалентной схемы транзистора, позволяющей упростить вычисленные процедуры при формировании библиотеки моделей активных компонентов;

4. предложен алгоритм автоматизированного формирования модели АК микросхем, отличающиеся учетом стохастической взаимосвязи между параметрами модели;

5. алгоритмические процедуры анализа и идентификации параметров моделей АК МЭУ, позволяющие учесть влияние режимных, частотных, температурных и радиационных факторов. Математическая модель надежности микросхем в условиях неопределенности исходной информации или недостаточности объема статистических данных об отказах элементов и компонентов на основе плохихо размытых функций; 9

6. создана оригинальная подсистема прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности, отличающаяся возможностью разработки аналоговых микросхем с повышенной эксплуатационной надежностью, основу математического, программного и информационного обеспечения которой составляют предложенные методы, модели и алгоритмы.

Практическая ценность.

Представленные в диссертации исследования являются результатом научной работы, проведенной в Воронежском государственном техническом университете в рамках хоздоговорных и госбюджетных научно-исследовательских работ.

Практические результаты выполненных в диссертационной работе исследований можно разделить на две части, имеющие значение для научных инженерных задач. В научном плане развитые и разработанные методы, модели и алгоритмы являются основой для развития математического обеспечения САПР аналоговых МЭУ, они нашли применение для разработки программного обеспечения подсистемы прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности микросхем. Прикладное значение работы связано с созданием ряда инженерных методик и программных средств, ориентированных на пользователей-схемотехников с предоставлением им доступных средств оптимального проектирования и позволяющих решать на этапе схемотехнического проектирования задачи разработки аналоговых МЭУ с повышенной начальной схемной надежностью с учетом влияния ДФ. Реализация и внедрение результатов работы.

Результаты работы внедрены и используются в АООТ «ОКБПРОЦЕССОР», НИИ Электронной техники, НИИ "Вега" (г. Воронеж).

Научные результаты внедрены в учебный процесс Воронежского государственного технического университета по специальности: 200800-«Проектирование и технология радиоэлектронных средств».

10

Апробация работы.

Научные результаты и положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на следующих конференциях и семинарах:

Международной научно-технической конференции «Актуальные проблемы анализа и обеспечения надежности и качества приборов, устройств и систем» (Пенза, 1998);

Всероссийском совещании-семинаре «Высокие технологии в региональной информатике» (Воронеж , 1998);

Международной научно-технической конференции и Российской научной школе «Системные проблемы надежности, математического моделирования и информационных технологий» (Москва 1998, 1999, 2000);

Шестой Международной научно-технической конференции «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники» (Таганрог, 1999,2000);

Всероссийской конференции «Интеллектуальные информационные системы» (Воронеж, 1999,2000);

Всероссийской научно-технической конференции молодых ученых и студентов, посвященной 104-й годовщине Дня Радио «Современные проблемы радиоэлектроники» (Красноярск, 1999, 2000); Четвертой Международной электронной научной конференции «Современные проблемы информатизации» (Воронеж, 1999); Научно-технических конференциях Воронежского государственного университета в 1998-2000 г.г. Публикации.

Основные результаты диссертации опубликованы в 24 печатных работах. Структура и объем работы.

Диссертационная работа состоит из введения, четырех глав, заключения, изложенных на 159 страницах машинописного текста, содержит 25 рисунков, . 15 таблиц, списка литературы из 123 наименований, 4 приложений.

Заключение диссертации по теме «Системы автоматизации проектирования (по отраслям)», Муратов, Василий Александрович

Основные выводы четвертой главы

1 .Разработано информационное обеспечение подсистемы прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности аналоговых микросхем - программа «Система управления библиотекой математических моделей компонентов» (СУБ ММК), которая в САПР аналоговых микросборок выполняет функции системы управления базой данных, предназначена для создания, модифицирования и поиска данных ММК электронных схем.

2.Предложен алгоритм трансляции файла описания схемы с обоснованным использованием динамических типов данных и указателей.

3.Разработана структура пользовательского интерфейса специализированной подсистемы, который реализован с помощью интегрированной среды программирования Delphi, обеспечивая полную интерактивную и диалоговую поддержку программы.

4.Проведен анализ эффективности работоспособности специализированной подсистемы для ряда отечественных аналоговых микросхем.

147

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1 .Проанализированы возможности промышленных интегрированных САПР МЭУ с позиций использования для их прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности аналоговых интегральных схем и микросборок.

2. Предложена и исследована вероятностная модель активного компонента микросхем, учитывающая случайный разброс статического режима и обобщенные зависимости параметров модели активного компонента от режима, температуры, старения и ионизирующих излучений, на основе которой разработана структурная схема алгоритма и программа расчета статистических характеристик Y-параметров биполярного транзистора с учетом комплексного влияния дестабилизирующих факторов.

3. Произведена оценка числовых характеристик непрерывных двух-и трехпараметрических плотностей распределения параметров микросхем на основе использования метода максимального правдоподобия.

4. При использовании параметрических и непараметрических методов оценки однородности статистических выборок предложена методология использования объединенной оценки, полученной в результате совместного учета текущей и априорной информации о параметрах элементов и компонентов микросхем.

5. Разработана автоматизированная процедура моделирования многомерных случайных векторов параметров микросхем с заданной стохастической зависимостью для произвольных законов распределения.

6. Создано программное обеспечение подсистемы прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности аналоговых микросхем с учетом комплексного воздействия ДФ в среде операционной системы MS-DOS на ПЭВМ типа IBM PC AT, включающее следующие функциональные части: управляющую программную оболочку, обеспечивающую информационные связи для выполнения расчетных процедур и дружественный интерфейс с пользователем на основе многоуровневого меню; набор модулей проектирования; модуль управления библиотекой; библиотечные файлы данных.

Полученные в работе научные результаты внедрены в учебный процесс, в практику научно-исследовательских и опытно-конструкторских

148 работ ОКБ "Процессор", НИИ Электронной техники, НИИ "Вега" (г. Воронеж).

Программно - методический комплекс прогнозирования и оптимизации начальной схемной надежности аналоговых микросхем и отдельные его процедуры зарегистрированы в Государственном фонде алгоритмов и программ Российской Федерации.

Суммарный годовой экономический эффект от внедрения разработанных в диссертации моделей, алгоритмов и средств проектирования аналоговых микросхем составил в 1998 году 56 ООО руб.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Муратов, Василий Александрович, 2000 год

1. Автоматизация схемотехнического проектирования на мини-ЭВМ / В.И. Анисимов, Г.Д. Дмитревич, С.Н. Ежов, и др. - Л.: Изд-во Ленинград, ун-та, 1983.-200 с.

2. В.И. Анисимов, Г.Д. Дмитревич, Ларистов А.И. ДИСП система диалогового схемотехнического проектирования на СМ-ЭВМ // тр. инта / Ленинград, электротехн. ин-т им. В.И.Ульянова (Ленина). — 1981. — Вып.284. - с.3-8.

3. Диалоговые системы схемотехнического проектирования / В.И.Анисимов, Г.Д. Дмитревич, К.Б. Скобельцин и др. — М.: Радио и связь, 1988.-288 с.

4. Автоматизированная система обеспечения надежности и качества аппаратуры / Ю.Н. Кофанов и др. М.: Советское радио. 1982. - 345 с.

5. Бененсон З.М, Елистратов М.Р., Ильин Л.К. Комплекс программ анализа и оптимизации электронных схем КАПР // Обмен опытом в радиопромышленности. 1978. Вып.4.5. с. 61-64.

6. Пакет прикладных программ автоматизации схемотехнического проектирования для персональных компьютеров / В.В. Баталов и др. // Микропроцессорные средства и системы. 1988. - №4. - с. 63-66.

7. Жук Д.М., Маничев В.Б., Норенков И.П. Структура и принципы организации программного комплекса ПА-4 // Изв. вузов. Сер. радиоэлектроника . 1978. - Т. 19. - №6. - с. 83-86.

8. Норенков И.П., Маничев В.Б. Системы автоматизированного проектирования электронной и вычислительной аппаратуры. М.: Высш.шк., 1983.-272 с.

9. Глориозов Е.Л., Ссорин В.Г., Сыпчук П.П. Введение в автоматизацию схемотехнического проектирования. М.: Советское радио, 1976. -222 с.

10. Ссорин В.Г. Программа анализа электронных схем ПАУМ-2 // Изв. вузов. Сер. Радиоэлектроника. 1983. Т.26. - №6. - с. 41-46.

11. И. Машинная оптимизация электронных узлов РЭА/ А.Г. Ларин, Д.И Томашевский, Ю.М. Шумаков, В.М. Эйдельтант. М.: Советское радио, 1978.- 192 с.

12. Бурин Л.И., Помазов В.М., Топурия В.З. Система машинного анализа радиоэлектронных схем (МАРС) //Современные методы разработки РЭА. М.: Изд-во МДНТП им Ф.Э. Дзержинского. - 1974. С.44-49.

13. Песков М.И., Кржыжановский Ю.М., Помазанов Ю.М., Бурин Л.И. Архитектура и состав системы автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры // Вопросы радиоэлектроники. Сер. Общетехническая. 1976. - Вып. 2. С.2-7.

14. Проектирование приемно-усилительных устройств с применением ЭВМ / Л.И. Бурин, Л.Л. Мельников, В.З. Топурия, Б.Н. Шелковников. -М.: Радио и связь, 1981. 176 с.

15. Расчет оптимальных параметров электронных схем с помощью150комплексной программы АРОПС / В.Н. Ильин и др. // Изв. вузов. Сер. Радиоэлектроника. 1976. -т.19. №6. - с.99-107.

16. Панферов В.П. и др. Общая характеристика ПАЭС-1 // Автоматизация и проектирование в электронике. Киев, 1972.-Вып.5. - с.28-35.

17. Аврашков П.П., Баталов В.В. Егоров Ю.Б. и др. Системы автоматизированного моделирования и расчета интегральных схем САМРИС-2 // Электронная промышленность.-1979.-№4.-с.47-50.

18. Диалоговая система автоматизации схемотехнического проектирования САМРИС-2 М / Ю.Н. Беляков, Ю.З. Горбунов, Ю.Б. Егоров, А.Д. Фердынский // Микроэлектроника и полупроводниковые приборы.-1981.-Вып.6.-с.110-112.

19. Система автоматизированного моделирования и расчета интегральных схем (САМРИС) / А.А. Васенков, Г.Г. Казённов, Ю.Н. Беляков и др. // Микроэлектроника. 1976. - Вып.9. - с. 11-21.

20. Баталов В.В. Системы схемотехнического моделирования АРНС // управляющие системы и машины.-1988.-№1. с. - 94-96.

21. Петренко А.И. и пр. Общая характеристика пакета прикладных программ для решения задач схемотехнического проектирования // Электронное моделирование. 1979. Вып.2. - с.96-107.

22. Tuinenga P.W. SPICE: A guide to circuit simulation using PSPICE // Prentice Hall. 1988. - p.200.

23. PSPICE User's guide. MicroSim Corporation // La Cadena Drive, Laguna, Hills.-1989.-45 p.

24. Spice technologies faciletate of feedback circuits / Hageman Steven E. // END. 1988.V.33.N20.-p.173-183.

25. Micro-Cap 3. Third-generation interactive circuit analysis // Byte. 1989. -V.14.-N4.-p.81.

26. Micro-Cap and Micro-Logic // Byte. 1986. - v. 11. - N6. - p. 186.

27. Разевиг В.Д. Моделирование электронных устройств на персональных ЭВМ. М.: Изд-во МЭИ, 1992. - 162 с.

28. Un Simulateur analogue pour sustems multitechnogies // Benhagoun Eric // Electron. IND. 1987. -N132. P.54-57.

29. How to automate analog 1С designs // Carleg Richard etc. // IEEE Stectrum. 1988. - 25. - N8. - p.26-30.

30. Rubner Petersen T. NAP 2, a Nonlinear Analisis Program for electronic circuit: Version - 2. Users manual // Inst. Of C.T. and T. Denmark. - 1981. -113 p. ""

31. Program brings analog CAE to personal Computer level / Seter Charles // Electron. Des. 1987. - 35. - N20. - p.99-102.

32. Диалоговые системы схемотехнического проектирования /В.И. Анисимов, Г.Д. Дмитревич, К.Б. Скобельцин и др. М.: Радио и связь. 1988-288 с.

33. Разевиг В.Д. Применение программ PCAD и PSPICE для схемотехнического моделирования на ПЭВМ. В 4 вып. Вып. 1: Общие сведения. Графический ввод схем. М.: Радио и связь. 1992. - 92с.151

34. Сахаров Ю.С. Применение персональных ЭВМ для диалогового проектирования радиоэлектронных устройств // Прогрессивные методы конструирования и гибкое автоматизированное производство микроэлектронной аппаратуры. М.: МДНТП, 1986 - с.22-34.

35. Системы автоматизированного проектирования в радиоэлектронике: Справочник / Е.В. Авдеев, А.Т. ,Еремин, И.П. Норенков и др. М.: Радио и связь, 1986. 368 с.

36. Автоматизация схемотехнического проектирования / В.Н. Ильин, В.Т. Фролкин, А.И. Бутко и др. М.: Радио и связь, 1987. - 405 с.

37. Сквозное автоматизированное проектирование микроэлектронной аппаратуры / З.Ю. Готра, В.В, Григорьев, JI.M. Смеркло и др. М.: Радио и связь, 1989. - 280с.

38. Проектирование СБИС / Пер. с япон. М.Ватанабе и др. М.: Мир, 1988.-304 с.

39. Влах И, Сингхан К. Машинные методы анализа и проектирования электронных схем: Пер. с англ. М.: Радио и связь, 1988. - 560 с.

40. Кулон Ж.-Л., Сабоннадьер Ж.-К. САПР в электронике / Пер. с франц. -М.: Мир, 1988.-208 с.

41. Математическое моделирование и макромоделирование биполярных элементов электронных схем / Е.А. Чахмахсазян и др. М.: Радио и связь, 1985.- 144 с.

42. Сигорский В.П. Проблемная адаптация в системах автоматизированного проектирования // Радиоэлектронная. 1988. -N6. - с.5-22.

43. Вермишев Ю.Х. Основы автоматизированного проектирования. М.: Радио и связь, 1988. - 288 с.

44. Зайцева Ж.Н. Новый виток развития САПР электронно-вычислительной аппаратуры // Интеллектуальные САПР: Межвед. тем. науч. сб. Таганрог: ТРТИ, 1989. вып.2. с.13-23.

45. Интеграция данных в САПР БИС. Направления практической реализации / Ю.Н. Беляков, A.A. Руденко, И.Г. Топуров и др. М.: Радио и связь, 1990. - 253 с.

46. Львович Я.Е., Рындин A.A. Оптимальная интеграция алгоритмов и программ проектирования и контроля для разработки эффективных САПР ИЭТ // Изв. Вузов. Радиоэлектроника. 1990. Т.ЗЗ. N6. с.46-52.

47. Малышев Н.Г., Мицук Н.В. Методология управления процессом проектирования в САПР // Методы построения алгоритмических моделей сложных систем: Межвед. тем. науч. сб. Таганрог: 1990. -вып.6. - с. 18-29.

48. Львович Я.Е., Фролов В.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности РЭА: уч. пособие для вузов. М.: Радио и связь, 1986.-192 с.

49. Вавилов B.C., Ухин H.A. Радиационные эффекты в полупроводниках и полупроводниковых приборах. М.: Атомиздат, 1969. - 311 с.152

50. Горячев Г.А., Шапкин А.А., Шаршов Л.Г. Действие проникающей радиации на радиодетали. -М.: Атомиздат, 1971. 113с.

51. Действие проникающей радиации на изделия электронной техники/ Кулаков В.М., Ладыгин В.А., Шаховцев В.И. и др. М.: Советское радио, 1980.-224с.

52. Работоспособность МДП приборов при воздействии ионизирующих излучений в реальных условиях эксплуатации / В.Д. Лавренцов, Л.Н. Хорохина, Ю.П. Юсов // Зарубежная электронная техника. 1991. -Вып. 1-2 (356-357).-101 с.

53. Устюжанинов В.Н., Чепыженко А.З. Радиационные эффекты в биполярных интегральных микросхемах. М.: Радио и связь, 1989. -144с.

54. Чернышов А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. М.: Радио и связь, 1988. - 256с.

55. Lambert К.Р., Van de Voorde M.H. Radiation demage effects of electronic components // Ingenieursblad. 1975. N6. P. 140-143.

56. Larin F. Radiation Effects in Semicoductor devices. N. Y. Yohn Wiley and Sons Inc. 1968.-292p.

57. Hornew Е., Foison I.A. Fatal-dose survival probability for bipolar transistors // IEEE Trans. Nucl. Sci 1970. N6 - p. 124-129.

58. Ермолаев Ю.П., Пономарев М.Ф., Крюков Ю.Г., Конструкция и технология микросхем (ГИС и БГИС)/Под ред. Ю.П. Ермолаева. М.: Советское радио, 1980. -256с.

59. Разевиг В.Д, Система схемотехнического моделирования и проектирования печатных плат Design Center (PSpice). M.: CK Пресс, 1996.-272с.

60. Лопухин В.А. и др. Анализ и учет корреляционных связей между пленочными резистивными элементами на большой подложке // Электронная техника. Сер. Полупроводниковые приборы. 1974. -Вып. 7.-с. 120-134.

61. Милькевич В.А. и др. Исследование статистических характеристик компонентов гибридных и интегральных схем.// Радиоэлектроника летательных аппаратов. 1975. - Вып. 7. - с. 12-23

62. Луи де Пиан. Теория линейных активных цепей. М.: Энергия, 1974.287 с.

63. Транзисторы: Параметры, методы измерений и испытаний / Под ред. И.Г. Бергельсона и др. М.: Советское радио, 1968. - 504 с.

64. Автоматизация схемотехнического проектирования на мини ЭВМ/ В.И. Анисимов, Г.Д. Дмитревич, С.Н. Ежов и др. - JL: Изд-во Ленинград. Ун-та, 1983. - 200 с.

65. Муратов В.А., Трубчаниноб" В.А., Шишкин В.М. Вероятностная модель активных компонентов ГИС // Межвуз. сб. научн. тр. «Оптимизация и моделирование в автоматизированных системах». -Воронеж; 1998. с. 101-106.

66. Крюков Ю.Г. Прогнозирование и оптимизация серийноспособности усилительных устройств. Воронеж: Изд-во ВГУ, 1988. - 144 с.

67. Крюков Ю.Г., Шишкин В.М. Вероятностные характеристики и статистическая оптимизация параметров гибридных интегральных схем. Воронеж: Изд-во ВПИ, 1988. - 71 с.

68. Бусленко И.П. Метод статистического моделирования. М.: Статистика, 1970.-350 с.

69. Питолин В.М., Крюков Ю.Г. Линейная модель биполярного транзистора, учитывающая влияние ионизирующего излучения // Межвуз. сб. науч. тр. «Оптимизация и имитационное моделирование сложных систем». Воронеж, 1984. - с. 136-140

70. Мырова Л.О., Ченыженко А.З. обеспечение радиационной стойкости аппаратуры связи. М.: Радио и связи. М.: Радио и связь, 1983. -243 с.

71. Действие проникающей радиации на изделия электронной техники / В.М. Кулаков и др. М.: Наука, - 1980. - 145с

72. Крамер Г. Математические методы статистики. М.: Мир, 1975. - 507 с.

73. Трубчаников В.А., Муратов В.А., Шишкин В.М. Объектно-ориентированный подход к реализации программы моделирования электронных схем // Интеллектуальные информационные системы: труды Всероссийской конф. Воронеж, 1999. - с.57.

74. Шаракманэ A.C. Железнов И.Г., Ивницкий В.А. Сложные системы. -М.:Высш.шк, 1977. 153 с.

75. Баталов Б.В. и др. Оценка однородности параметров транзисторов интегральных полупроводниковых схем // Электронная промышленность, 1971. №1. - с.47-50.155

76. Северцев В.А. и др. Статистическая теория подобия: надежнось технических систем. М.: Наука, 1986. - 252 с.

77. Де Гроот М. Оптимальные статистические решения. -М.:Мир, 1974.380 с.

78. Гаек Я. Шидак Э. Теория ранговых критериев. -М.:Наука, 1971.- 95 с.

79. Ван-дер-Ваден В.А. Математическая статистика. -М.:Наука, 1960.433 с.

80. Gehan Е.А. A generalized Wilcoxon test comparing arbitrarily cencored samples //Biometrica.-1965. V.52. - p.225-240.

81. Крюков Ю.Г., Шишкин B.M., Питолин В.М. Вероятностный анализ статистических характеристик ГИС // сб. тр. Воронеж, политехнического института "Радиотехнические и электронные устройства". Воронеж, 1974. - с. 54-57.

82. Трохименко Я.К., Каширский И.С., Рыбин А.И. Вероятностный анализ линейных электронных цепей по постоянному току // Изв. вузов. Сер. Радиоэлектроника. -1975. -т.18.-№6. с.35-40.

83. Питолин В.М. Шишкин В.М. Автоматизированная оценка влияния ионизирующего излучения на статический режим аналоговых МСБ // Межвуз. сб. научн. тр. "Материалы, элементы и устройства функциональной электроники". Воронеж, 1992. с. 113-118.

84. Белл Д. Дж. Трудности и успехи на пути автоматизации проектирования аналоговых схем // Электроника. 1988. №22. - с.22-23.

85. Сигорский В.П. Петренко А.И. Алгоритмы анализа электронных схем. М.: Советское радио, 1976. - 608 с.

86. Sah С.Т. Effeet of surface recombination and channel on p-n junction and transistor characteristion // IRE transaction. 1962. - V. ЕД-9. - p. 128-140.

87. Сакалаускас JI.JI. О применении матриц специального вида для105. статистического анализа интегральных схем // Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. -1989. Вып. 3 (132). -С.22-33

88. Гобис В.Ю. и д.р. Методы генерирования случайных коррелированных величин для статистического моделирования интегральных схем // Автоматизация проектирования в электронике. Киев, 1987, -Вып.35. -С. 17-25

89. Крюков Ю.Г., Шишкин В.М. и др. Законы распределения и корреляционные связи параметров дрейфовых бескорпуных транзисторов, используемых в гибридных интегральных схемах // Техника средств связи. Сер. Техника радиосвязи. -1977. -Вып. 4 (11) -С. 140-145.

90. Хастингс Н., Пико Дж. Справочник по статистическим распределением. -М.: Наука, 1989. -242 С.

91. Автоматизация схемотехнического проектирования на мини ЭВМ: Учеб. пособие / В.И. Анисимов и др. -Л.: Изд-во Ленинград. Ул-та, 1983. -2000С.

92. Трубчанинов В.А. Муратов В.А. Шишкин В.М. Учет влияния ионизирующего излучения на работу электрических схем //Межвуз. Об. науч. тр. "Прикладные задачи моделирования и оптимизации." часть 1. -Воронеж, 1999. -С. 34-38

93. Муратов В.А. Оценивание характеристик начальной схемной надежности микросхем // Межвуз. сб. науч. тр." Проблемы обеспечения надежности и качества приборов, устройств и систем".1571. Воронеж, 1999. -С. 44-47.

94. Беляков Ю.Н. и др. Методы статистических расчетов микросхем на ЭВМ. -М.: Радио и связь, 1985. 232 С.

95. Четвериков В.Н. и др. Базы и банки данных. -М.: Высш. шк. 1987. -248 С.

96. Муратов В.А., Трубчанинов В.А. Шишкин В.М. Специализированная программа ввода описания схемы // Труды Всероссийской конф. "Интеллектуальные информационные системы" -Воронеж, 2000. ч. 2. С. 36-37.

97. CUA: Компоненты пользовательского интерфейса // Компьютер пресс. 1993.-№1.-С. 29-36.

98. Муратов В. А., Шишкин В.М. Чертков P.A. Прогнозирование надежности микросхем с учетом воздействия дестабилизирующих факторов // Межвуз. сб. науч. тр. "Проблемы обеспечения надежности и качества приборов, устройств и систем." Воронеж. 2000.158