Установка для атомно-эмиссионного анализа и методика обработки спектров тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.01, кандидат технических наук Внукова, Наталья Григорьевна

• Внукова, Наталья Григорьевна
• кандидат технических наук
• 2003

Оглавление диссертации кандидат технических наук Внукова, Наталья Григорьевна

Введение.

Глава 1. Метод атомно-эмиссионной спектроскопии и возможность его применения для анализа элементного состава вещества в углеродной матрице.

1.1. Методы исследования элементного состава вещества.

1.2. Современные источники света и устройства для подачи пробы в разрядный промежуток в атомно-эмиссионном спектральном анализе.

• 1.2.1. Источник света на основе графитовой дуги.

1.2.2. Источники света на основе индукционно связанной плазмы.

1.2.3. Источник света на основе разряда килогерцового диапазона частот.

1.2.4. Сравнительные характеристики современных источников света.

1.3. Способы подачи анализируемого вещества в аналитическую зону разряда.

1.3.1. Способы подачи жидких проб.

1.3.2. Устройства для подачи жидких проб.

1.3.3. Способы подачи твердых проб.

1.3.4. Устройства для подачи твердых проб.:.

1.4. Способы регистрации спектра.

1.4.1. Фотографическая регистрация.

1.4.2. Фотоэлектрическая регистрация

• 1.4.3. Регистрация с помощью фотодиодных линеек

Глава 2. Установка с источником света на основе разряда килогерцового диапазона частот и ее характеристики

2.1. Описание установки для атомно-эмиссионного спектрального анализа.

2.2. Электрическая схема возбуждения.

2.3. Описание конструкции центрального электрода со съемной вставкой.

2.3.1. Конструкция центрального электрода, разработанного для атомно-эмиссионного анализа вещества в жидком виде.

2.3.2. Конструкция центрального электрода, разработанного для атомно-эмиссионного анализа вещества в твердом виде.

2.4. Описание разработанной методики обработки спектров.

2.5. Исследование влияния состава и скорости потока плазмообразующего газа на плазму разряда.

2.5.1. Исследование состава плазмообразующего газа на плазму разряда.

2.5.2. Исследования влияния скорости потока плазмообразующего газа на спектральные характеристики разряда.

2.6. Исследование влияния высокочастотной.и низкочастотной составляющей на плазму разряда.

2.6.1. Оценка стабильности излучения при применении ВЧ и НЧ составляющих тока.,.

2.6.2. Оценка эрозии электрода и исследование влияния НЧ и ВЧ составляющих тока на эрозию электрода.

2.7. Методика расчета температуры и электронной концентрации.

2.8. Спектральные характеристики разряда килогерцового диапазона частот.

2.9. Выводы.

Глава 3. Анализ фуллереновых производных при подаче анализируемого вещества в растворе

3.1. Фуллереновые производные их свойства, способы получения, выделение и применение.;.

3.1.1. Структура фуллереновых производных.

3.1.2. Генерация фуллеренов и фуллереновых производных.

3.1.3. Выделение и применение фуллереновых производных.

3.1.4. Методы исследования фуллеренов и фуллереновых производных.

3.2. Устройства для подачи жидких проб в разрядный промежуток.

3.3. Спектральные характеристики разряда при введении жидких проб (температура, электронная концентрация, стабильность излучения).

3.4. Качественный и количественный анализ фуллереновых производных.~

3.4.1. Исследование влияния растворителей на атомно-эмиссионный анализ фуллеренов синтезированных с различными элементами.

3.4.2. Качественный анализ фуллереновых производных с различными химическими элементами.

3.4.3. Количественный анализ фуллереновых производных с различными химическими элементами.

3.6. Выводы.

Глава 4. Анализ фуллереновых производных при подаче анализируемого вещества в порошках.

4.1. Устройство для подачи порошковых проб в разрядный промежуток.

4.1.1. Конструкция устройства для подачи порошковых проб.

4.1.2. Сравнительные характеристики работы стандартного устройства и разработанного нами устройства для вдувания порошковых проб в разрядный промежуток.

4.2. Спектральные характеристики разряда при введении порошковых проб (температура, электронная концентрация, стабильность излучения).

4.3. Качественный и количественный анализ фуллереновых производных, синтезированных с различными химическими элементами.

4.3.1. Предварительная подготовка фуллереновых производных для атомно-эмиссионного спектрального анализа.

4.3.2. качественный анализ фуллереновых производных, синтезированных с различными химическими элементами.

4.3.3. Количественный анализ фуллереновых производных, синтезированных с различными химическими элементами.

4.4. Результаты анализа фуллеренсодержащей смеси, полученной при введении различных химических элементов, различными методами элементного анализа.

4.4.1. Результаты масс-спектральных исследований.

4.4.2. Результаты рентгенофлуоресцентных исследований.

4.4.3. Результаты ЯМР исследований.

4.5. Выводы.

Основные результаты.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Установка для атомно-эмиссионного анализа и методика обработки спектров»

Актуальность темы

Атомно-эмиссионный"анапиз является одним из наиболее эффективных средств изучения элементного состава вещества. Это связано с высокой чувствительностью метода достигающей по некоторым элементам 10"7 % . В основе метода лежит способ перевода вещества в плазменное состояние и анализ излучения плазмы спектральными приборами. Для перевода вещества в плазменное излучающее состояние обычно используются разряда разного типа: дуговые, искровые и разряды на основе индукционной плазмы. Установки на основе индукционной плазмы широко применяются' во всем мире. Они дают возможность использовать как ультрафиолетовую, так и видимую области оптического диапазона излучения. Разряд на основе индукционной плазмы стабилен и воспроизводим. Тем не менее, эти установки имеют ряд недостатков, таких как, высокая стоимость, трудоемкость выполнения анализов, а самое главное — невозможность эффективного перевода вещества из твердого состояния в плазму.

Многочисленные исследования показали, что дуговой разряд хорошо подходит для целей аналитики. Наиболее распространенным в атомно-эмиссионной спектроскопии остается дуговой разряд при атмосферном давлении вследствие его простоты, доступности и наибольшей универсальности. Плазма дуги обладает свойством локального термодинамического равновесия и позволяет анализировать практически любые вещества в твердом состоянии. Недостатком самой популярной дуги на угольных электродах является высокий уровень фона, низкая воспроизводимость результатов и наличие молекулярных полос циана, что не позволяет использовать видимую, наиболее насыщенную область спектра. Таким образом,•. для целей эмиссионной спектроскопии оптимальным является дуговой источник света, но не с угольными или графитовыми, а с металлическими электродами.

Было осуществлено много попыток применения дуговых плазмотронов для целей атомно-эмиссионной спектроскопии. Большое количество недостатков не позволило им получить широкое распространение. Источники света на основе плазматронов отличаются большим расходом плазмообразующего газа, особенно, в случае попытки совместить плазмообразующий и транспортный потоки. Также плазмотроны, разработанные ранее, отличает высокая эрозия металлических электродов, что неблагоприятно сказывается на точности проведения анализов. Таким образом, в установке для спектрального анализа важно использовать плазмотрон, не имеющий перечисленных выше недостатков.

Многолетняя практика подтвердила целесообразность применения методов просыпки и вдувания порошков при анализе многих веществ. Эти методы дают возможность повысить чувствительность определения элементов по сравнению с методом испарения из канала. Однако эти методы не лишены недостатков, которые, связаны с неполным попаданием пробы в разрядный промежуток. Разработка устройств подачи пробы, обеспечивающих более полное присутствие вводимого вещества в плазме, позволила бы повысить точность анализа и воспроизводимость результатов.

Применение фотодиодных матриц или линеек для регистрации излучения источника света позволило сократить затраты времени и труда на обработку получаемой информации. Современные приборы комплектуются именно полупроводниковыми оптическими датчиками. Однако, в настоящее время, лучшие фотодиодные матрицы только приближаются к возможностям фотопластинки или фотопленки. Хорошо разработаны сканеры, устройства для перевода фотографического изображения в цифровой вид. Так же имеется большое количество стандартных программ для обработки информации в цифровом виде. В связи с этим, актуально излучение, зарегистрированное на фотоматериале, переводить в цифровой вид и далее выполнять обработку информации с высоким качеством, при помощи стандартного программного обеспечения.

Большое своеобразие физико-химических, механических, оптических и электрических свойств фуллеренов и фуллереновых производных делает фул-лереновую тематику наиболее быстро развивающимся направлением современной науки. После детального исследования свойств молекулы С6о вызвала интерес возможность синтеза такой молекулы с инородным атомом или несколькими атомами, помещенными внутрь. Такие фуллерены называются эндоэд-ральными. К веществам, интенсивно исследуемым, также относятся гетеро-фуллерены. В молекуле гетерофуллерена один или несколько атомов углерода замещаются на атомы другого элемента.

Фуллереновые производные являются перспективными объектами для создания новых материалов, таких как сегнетоэлектрики, полупроводники и сверхпроводники. Кроме этого, оптоэлектроника, фармакология, химия также являются областями для применения фуллеренов и фуллереновых производных. Но, следует отметить, что их широкое применение сдерживается низкой производительностью существующих сейчас методов получения. В настоящее время фуллереновые производные получены и выделены лишь в микроскопических количествах. Содержание вещества-допанта в фуллереновой смеси обычно настолько мало, что лежит за пределами чувствительности многих аналитических методов. Существует необходимость в экспрессном методе, который позволил бы регистрировать наличие и давать информацию о количестве того или иного элемента в растворе фуллеренов или в фуллере-новом порошке. Решение этих вопросов связано с необходимостью определения элементного состава с высокой точностью в углеродной основе.

Работа выполнена при финансовой поддержке фонда INTAS (проект 012399), CRDF (RE1-2231), РФФИ (проект 03-03-32326) и федеральной целевой научно-технической программы "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития науки и техники".

Цели и задачи:

В связи с вышеизложенным, цель диссертационной работы - разработка установки для атомно-эмиссионного спектрального анализа, которая позволит экспрессным методом анализировать различные химические элементы в соединениях углерода с высокой чувствительностью. В соответствии с целью работы были поставлены следующие задачи:

1. Исследовать возможность применения качественного и количественного метода атомно-эмиссионного анализа для определения низких концентраций элементов в соединениях углерода, при введении вещества, как в твердом, так и в жидком состоянии. ,

2. Разработать методику обработки спектров, совмещающую достоинства фотографической регистрации и компьютерной обработки спектральной информации.

3. Разработать конструкции центрального электрода для анализа жидких и твердых проб, позволяющие осуществлять подачу анализируемого вещества в наиболее нагретую часть разряда.

4. Разработать и исследовать устройство для подачи пробы в твердом состоянии.

Научная новизна:

1. Показано, что методами эмиссионной спектроскопии можно определять элементы с низкими концентрациями в фуллереновых производных с высокой воспроизводимостью.

2. Определена зависимость электронной концентрации и температуры от расстояния от торца центрального электрода в потоке аргоновой плазмы разряда килогерцового диапазона частот.

3. Разработана и апробирована методика обработки спектров на основе применения сканера, позволяющая совмещать достоинства фотографической регистрации и компьютерных технологий.

Практическая ценность работы:

1. Разработана установка для атомно-эмиссионного спектрального анализа, включающая в себя генератор переменного тока с частотой 44 кГц, источник света, устройство для подачи пробы, спектрограф PGS-2 с фотографической регистрацией и методику обработки полученной информации. Имеется акт об использовании установки для спектрального анализа в лабораториях Института физики СО РАН.

Имеется акт об использовании установки для спектрального анализа в лабораториях Института химии и химической технологии СО РАН.

Имеется акт об использовании установки для спектрального анализа в лабораториях Института биофизики СО РАН.

2. Разработана методика, позволяющая совмещать достоинства фотографической регистрации и компьютерной обработки спектральной информации.

3. Разработано устройство для подачи вещества в твердом виде в плазму разряда, позволившее увеличить количество анализируемого вещества и улучшить равномерность подачи вещества в плазму разряда.

4. Разработано устройство для введения вещества в жидком виде в плазму разряда.

5. Разработаны конструкции центрального электрода со сменной вставкой (выполненной либо из меди, либо из серебра), для анализа, как в жидком, так и в твердом виде. Разработанные конструкции позволили избежать загрязнения спектра продуктами предыдущих анализов, сократить время и упростить процесс промывки электрода.

Структура диссертации

Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения и списка литературы.

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы экспериментальной физики», Внукова, Наталья Григорьевна

Основные результаты

1. Разработана установка с плазматроном нового типа для атомно-эмиссионного спектрального анализа, позволяющая анализировать вещества, как в жидком, так и в твердом состоянии.

2. Апробирована разработанная аналитическая методика обработки полученной спектральной информации, позволившая сочетать компьютерные технологии и высокие характеристики фотоматериалов, а также сократить время обработки полученных результатов с 40 до 10 минут.

3. Предложена конструкция центрального электрода со сменными вставками для анализа вещества в твердом виде, позволяющая избегать загрязнения спектра продуктами предыдущих анализов и длительной промывки электрода при смене анализируемых веществ.

4. Предложена конструкция центрального электрода, для исследования вещества в жидком виде, позволяющая избежать загрязнения спектра продуктами предыдущего анализа, и усовершенствованная дополнительным капилляром, позволяющим уменьшать размер капель.

5. Разработано устройство для подачи пробы в твердом состоянии, позволившее повысить точность и воспроизводимость результатов (коэффициент вариации понизился с 3,16 % до 2,48 %).

6. Показана возможность как качественного, так и количественного анализа фуллереновых производных, в твердом и жидком состоянии. Были зарегистрированы следующие элементы-в фуллереновых производных: Sc, В, Fe, Se, Мп. Было установлено количественное содержание элементов в фуллереновых производных: В-0,015%, Sc- 0,002 % и Fe -0,03 %.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Внукова, Наталья Григорьевна, 2003 год

1. Г.Н.Чурилов, В.А.Лопатин, П.В.Новиков, Н.Г.Внукова Методика и устройство для исследования динамики разрядов переменного тока. Стратификация разряда в потоке аргона при атмосферном давлении // Приборы и техника эксперимента, 2001, №4, с. 105-109.

2. Г.Н. Чурилов, А.С. Алиханян, М.И. Никитин, Г.А. Глущенко, Н.Г. Внукова, Н.В. Булина,

3. A.J1. Емелина. Синтез и исследование борозамещенного фуллерена и фуллерена со скандием. Письма в ЖТФ, 2003 , том 29, вып. 4, с. 81-85.3 . Г.Н. Чурилов,' П.В. Новиков, В.А. Лопатин, Н.Г. Внукова, Н.В. Булина, С.М. Бачило, Д.

4. Чурилов Г.Н., Внукова Н.Г., Булина H.B., Марачевский А.В., Селютин Г.Е., Лопатин

5. B.А., Глущенко Г.А. Синтез порошковых ультрадиспрестных материалов в плазме дуги килогерцового диапазона. Наука производству, 2002.

6. Г.Н.Чурилов, Н.Г.Внукова. Исследование источника света для спектрального анализа // Материалы Международного.научного семинара «Инновационные технологии 2001: проблемы и перспективы организации наукоемких производств», Т2, Красноярск, 2001, с.57.

7. N.G.Vnukova, G.N.Churilov. The plasmotron with hollow electrode on the argon flow as the light source for the emission spectral analysis. // Abstracts of the 3rd International conference "Physics and industry 2001", Russia, Golitsino, 2001, p. 272.

8. G.N.Churilov, P.V. Novikov, N.G.Vnukova, N.V. Bulina. // Abstracts of invited lectures and contributed papers "The 5th International workshop in Russia: Fullerenes and Atomic Clusters". Russia, St.Petersburg, 2001. P. 59.

9. Г.Н.Чурилов, Н.Г.Внукова, П.В.Новиков, В.АЛопатин. Ионизационные волны и плазменный синтез фуллеренов. // Материалы конференции по физике низкотемпературной плазмы, Т2, Петрозаводск, 2001,с.149.

10. Г.Н.Чурилов, Н.Г.Внукова. Источник света для эмиссионного спектрального анализа на основе плазмотрона с полым электродом. // Материалы конференции по физике низкотемпературной плазмы, Т2, Петрозаводск, 2001, с.218.

11. Внукова Н.Г., Чурилов Г.Н., Новиков П.В. Источник света для эмиссионного спектрального анализа. // Материалы II Межрегиональной научно-практической конференции "Продукция Красноярья: история, настоящее, перспективы", Красноярск, 2001, с.103-104.

12. Okotrub A.V., Romanov D.A., Chuvilin A.L. et al. // Phis. Low-Dim. Struct. 1995. V. 8/9. P.139-158.

13. Бабко A.K., Пилипенко A.T., Пятницкий И.В., Рябушко О.П. Физико-химические методы анализа//М., Высшая школа,-1968.

14. Львов Б.В. Атомно-абсорпционный спектральный анализ, М. 1966.

15. Русанов А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. // М. Недра, 1978.

16. M.S.Dresselhaus, G.Dresselhaus, P.C.Eclund. J. Mater. Res., S, 2054(1993)

17. Красильщик В.З, Воропаев. E. И.// ЖАХ, 1978, - т. 33, - с. 1149-1152.

18. Игнатьев Г.Ф, Чурилов Г.Н. // Источник света для спектрального анализа. а.с. N 1654677,1989.,

19. Игнатьев Г.Ф, Чурилов Г.Н. // Цветные металлы, -1989, 1, - с. 109-111.

20. Чурилов Г.Н. Разработка и исследование генераторов плазмы килогерцового диапазона частот. // Диссертация на соискание степени кандидата физико- математических наук, -Красноярск, 1991

21. Чудинов Э.Г.Атомно- эмиссионный анализ с индукционной плазмой// М. -ВИНИТИ. — 1990.-251 с.

22. А.Н. Зайдель, Н.И. Калитеевский, JI.B. Липис, М.П. Чайка. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. Ленинград. Государственное издательство физико-математической литературы. 1960

23. Русанов А.К., Гусяцкая Э.В. Изв. АН СССР, сер. Физ., 12,464,1948

24. Feldman С., Anal. Chem., 21,1041,1949

25. Г.Н.Чурилов, В.АЛопатин, П.В.Новиков, Н.Г.Внукова Методика и устройство для исследования динамики разрядов переменного тока. Стратификация разряда в потоке аргона при атмосферном давлении // Приборы и техника эксперимента, 2001, №4, с. 105-109.

26. Спектральный анализ чистых веществ. Под ред. Х.И. Зильберштейн. Издательство «Химия», 1971

27. Ландау Л.Д, Лившиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. // М. Наука. 1957. - 620 с.

28. Русанов А.К. Спектральный анализ руд и минералов. М. Госгеолиздат, 1948,258 с.

29. Налимов В.В. Применение математической статистики при анализе вещества. // М.Физматгиз. 1960, -187с.I

30. Зайдель А.Н. и др. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. // Физмат-гиз, -1960.

31. Грим Г. Спектроскопия плазмы. // М. Атомиздат., 1969, - 452 с.

32. Зильберштейн Х.И. Спектральный анализ чистых веществ. // Л.Химия. -1971.- 451 с.

33. Диагностика низкотемпературной плазмы/ А.А.Овсянников, В.С.Энгельшт, Ю.АЛебедев и др. Новосибирск: ВО «Наука». Сибирская издательская фирма, 1994. — 485 с.

34. Касабов Г.А., Елисеев В.В. Спектроскопические таблицы для низкотемпературной плазмы. М., Атомиздат,

35. Heath J.R. et al. J. Am. Chem. Soc. 1985,107,7779

36. Kratschmer W.,Fostiropoulos K., Huffman D.R., The success in synthesis of macroscopic quantities of C60 //Chem.Phys. Let.-1990. -V.170. -P.167.44; Kratschmer W., et ah, Solid Ою: a new form of carbon. //Nature. 1990. V. 347. P. 354.

37. Churilov G.N., Soloviev L.A. et. al. // Carbon. 1999. Vol. 37. P. 427-431;

38. Чурилов Г.Н. Плазменный синтез фуллеренов (обзор)// ПТЭ, 2000, №1, с.1-10.

39. Н. J. Muhr, R. Nesper, В. Schnuder, R. Kotz// Chem. Phys. Lett. 249, (1996), 399-405;

40. S. Haffner, T. Picher, M. Knupfer// Eur. Phys. J. В. 1,11-17 (1998)

41. Елецкий A.B. Эндоэдральные структуры//УФН.-2000.-Т.17-, №2, -С. 113-142.

42. Kubozono Y et al. Chem.Lett. 457 (1995); 453 (1996); 1061 (1996);

43. Kubozono Y et al. J. Am. Chem. Soc 118 6998 (1994)

44. Y. Chai, T. Guo, C. Jin, R.E. Haufler, L.P.F. Chibante, J. Fure, L. Wang, J.M. Alford, R.E. Smalley. Fullerenes with Metals Inside. // J. Phys. Chem. 95 (1991) 7564.

45. H. Shinohara, H. Sato, Y. Saito, M. Ohkohchi, Y. Ando. Mass spectroscopic and ESR characterization of soluble yttrium-containing metallofullerenes YC82 and Y2C82. // J. Phys. Chem. 96(1992)3571.

46. K. Kikuchi, S. Suzuki, Y. Nakao, N. Nakahara, T. Wakabayashi, H. Shiromaru, K. Saito, I. Ikemoto, Y. Achiba. solation and characterization of the metallofullerene LaC82. // Chem. Phys. Lett. 216 (1993)23

47. Okotrub A.V., Romanov D.A., Chuvilin A.L. et al. // Phis. Low-Dim. Struct. 1995. V. 8/9. P.139-158.

48. R.D.Johnson, D.S.Bethune, C.S.Yannoni. // Ace. Chem. Res. -1992. V. 25. -.169.

49. M.S.Dresselhaus, G.Dresselhaus, P.C.Ekhmd. // Science of Fullerenes and Carbon Nanolubes. — San Diego: Academic Press.-1996.

50. R.E.Douthwaite, M.L.Grecn, SJ.Heyes, MJ.Rosscinsky, J.F.C.Turner. // J. Chem. Soc, Chem. Commun. -1994. -P.1367.

51. A.Izuoka, T.Tachikawa, T.Sugawara, Y.Suzuki, M.Konno, Y.Saito, H.Shinohara. // J. Chem. Soc, Chem. Commun. -1992. -P.1472.

52. W .Steed, P.CJuric, J.L.Atwood, MJ.Bames, C.L.Raston, R.S.Burkhalter. // J. Am. Chem. Soc. -1994, V.l 16. -P.10346.

53. R.E.Douthwaite, A.R.Brough, M.L.H.Green. //J. Chem. Soc. Chem. Commun. -1994. -P.267.

54. J.Chen, Z.Huang, R.Cai, Q.Shao, H.Ye. Solid Stale Commun., 95,233(1995)

55. Howard J.B., McKinnon J.T, Jonson M.E., Makarovsky Ya., Lafleur A.L. // J. Phys. Chem., 1992, 96, 6657-6662

56. G.Saito, T.Teramoto, A.Otsuka, Y.Sugita, T.Ban, M.Kusunoki, K.-i.Sakaguchi. Synth. Met. 64,359(1994)

57. R.S.Mulliken, W.B.Person. Molecular Complexes. Academic Press, New York, 1969

58. D.V.Konarev, V.N.Semkin, R.N.Lyubovskaya, A.Graja. Synth. Met., 88, 225 (1997)

59. M.S.Dresselhaus, G.Dresselhaus, P.C.Eclund. J. Mater. Res., S, 2054(1993)

60. S.U.Gallagher, R.S.Annstrong, P.A.Lay, C.A.Reed. J. Phys. Chem, 99,5817 (1995)

61. M.S.Dresselhaus, G.Dresselhaus, P.C.Eclund. J. Mater. Res., S, 2054(1993)

62. M.Sundahl, T.Anderson, O.Wennerstroem. Proc.-Electrochem. Soc, 9.4-24, 880 (1994); Chem. Abstr, 122,251785 (1995)

63. HJ.Byrnc. In Progress in Fullerene Research. (Eds H.Kuzmany, J.Fink, M.Mehring, S.Roth)/ World Scientific, Singapore, 1995. P. 183179

64. S.Leach, M.Vervloet, A.Despers, E.Breheret, J.P.Hare,NJ.Dennes, H.W.Kroto, R.Taylor, R.M.Walton. Chem. Phys., 160,451 (1992)

65. R.S.Mulliken, W.B.Person. Molecular Complexes. Academic Press, New York, 1969,

66. V.N.Semkin, N.G.Spitsina, S.Krol, A.Graja. Chem. Phys. Lett., 256,616 (1996)

67. H.Kuzmany, R.Winkler, T.Pichler. /. Phys., Condens. Matter, 1,6601 (1995)

68. M.C.Martin, X.Du, J.Kwon, L.Mihaly. Phys. Rev. B. Solid State, 50,174 (1994)

69. H. Lange, A.Huczko, P. Byszewski, E. Mizera, H. Shinohara. Influence of boron on carbon arc plasma and formation of fullerenes and nanotube.

70. И.М. Нагибина, B.K. Прокофьев. Спектральные приборы и техника эксперимента.//Москва, Машгиз. 1963 г. -271 с.1. Утверждаю:1. Проректор по науке КГТУ,1. Утверждаю:1. В.И. Темныхе- 2ооз г.1. АКТ

71. Об использовании в научном процессе установки для атомно-эмиссионногоанализа—

72. От КГТУ: От Института биофизики:1. УНИОКР,

73. К.б.н., с.н.с. Лаборатории1. Глинчиков В.А.начальник

74. Зав. каф., профессор Ю.В. Коловский

75. С.н.с. Аналитической лаборатории

76. Зав^дсаф., профессор Г.Н.Чурилов1. Утверждаю:1. Утверждаю:1. К.С.Александров ,2003 г.1. АКТ

77. Об использовании в научном процессе установки для атомно-эмиссионногоанализа

78. Зав. каф., профессор Ю.В. Коловскийв. каф., профессор Г.Н.Чурилов

79. От Института физики СО РАН:1. Зам: директора по науке1. V д.ф.-м.н.

80. С^С^Кг С.Г. Овчинников Зам. директора по науке д.ф.-м.н. А.Н. Втюрин уч.секретарь к.ф.-м.н. Н.В. Волков1. АКТ

81. Об использовании в научном процессе установки для атомно-эмиссионногоанализа

82. УНИОКР, начальник Глинчиков В.А.

83. Зав. каф., профессор Ю.В. Коловский

84. Зав. каф., профессор Г.Н.Чурилов

85. От Института химии и химических технологийазбанов В. И.с.н.с., к.х.н.1. Трофимов В.И.н.1. Кононов Ю.С.